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Table of contents (233 papers)
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Elektronen- und ionenoptische Elemente, Geräte und Verfahren
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Elektronen- und Röntgen-Rastermikroskopie
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Materialbearbeitung mit Elektronenstrahlen
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Einwirkung des Objekts auf Strahl und Bild
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Streuung am Objekt und Bildkontrast
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Abbildung von Kristallgitter-Perioden
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Keywords
About this book
Bibliographic Information
Book Title: IV. Internationaler Kongreß für Elektronenmikroskopie / IVth International Congress on Electron Microscopy / IVe Congres International de Microscopie Electronique. Berlin, 10.-17. September 1958
Book Subtitle: Band 1: Physikalisch-technischer Teil
Editors: G. Möllenstedt, H. Niehrs, E. Ruska
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-50195-1
Publisher: Springer Berlin, Heidelberg
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eBook Packages: Springer Book Archive
Copyright Information: Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1960
Softcover ISBN: 978-3-642-50196-8Published: 04 December 2014
eBook ISBN: 978-3-642-50195-1Published: 13 August 2013
Edition Number: 1
Number of Pages: XIX, 851
Topics: Physics, general, Engineering, general