Dislocation emission in A1 during recrystallization

Summary

The dislocation structure evolution during isothermal recrystallization of Al has been followed by means of internal friction, modulus defect and X-ray diffraction analyses accompanying the microscopical observations. Many peaks ofQ ⁻¹ and of modulus defect and X-ray diffraction line width have been found, both in nucleation and grain growth, all referable to dislocations. The first of these peaks, at the beginning of recrystallization, presents recovery characteristics, different from those shown by the subsequent, secondary peaks. Secondary peaks are interpreted in terms of dislocation emission from grain boundaries, whereas the first peak appears connected with subboundaries, walls present in the initial stages of recrystallization.

Riassunto

Si è seguita l’evoluzione della struttura di dislocazioni durrante la ricristallizzazione isoterma di Al mediante misure di frizione interna, di difetto di modulo e analisi di diffrazione dei raggi X unitamente ad osservazioni di microscopia. Si sono trovati vari picchi diQ ⁻¹, di difetto di modulo e di larghezza di linea di diffrazione con raggi X, sia durante la nucleazione che durante la crescita dei grani, tutti riferibili a dislocazioni. Il primo di questi picchi, all’inizio della ricristallizzazione, presenta caratteristiche di recupero differenti da quelle mostrate dai picchi seguenti, secondari. I picchi secondari sono interpretati in termini di emissione di dislocazioni dai bordi di grano, mentre il primo picco sembra collegabile ai subcontorni, muri di dislocazioni presenti negli stadi iniziali della ricristallizzazione.