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Auswertung von Dünnschicht-Chromatogrammen über die Kubelka-Munk-Funktion

Quantitative thin-layer chromatography using the Kubelka-Munk function

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Summary

Quantitative analysis by diffuse reflectance measurements in thin-layer chromatography is described. The entire diffuse reflectance curve is transformed using the Kubelka-Munk function by digital computer. Location of the peak and integration of the area under the curve are computed by numerical methods. The relative standard deviation was found to be 0.4 to 2.0% using a single beam densitometer.

Zusammenfassung

Es wird die quantitative in situ Remissionsmessung von Dünnschicht-Chromatogrammen beschrieben. Die gemessene Remissionsgradortskurve wird über ihren gesamten Verlauf über die Kubelka-Munk-Funktion mit einem Digitalrechner transformiert. Peakerkennung und Integration der Peakfläche erfolgen auf numerischem Weg. Bei Verwendung eines Einstrahldensitometers (Spaltscanner) lassen sich Genauigkeiten von ca. 0.4 bis 2.0% (genäherte relative Standardabweichung) erreichen.

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Authors and Affiliations

  1. Fachbereich Pharmazie und Lebensmittelchemie, Abteilung für Analytische Chemie, Philipps-Universität Marburg, Marbacher Weg 6, D-3550, Marburg, Bundesrepublik Deutschland

    S. Ebel & H. Kußmaul

Authors
  1. S. Ebel
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  2. H. Kußmaul
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Ebel, S., Kußmaul, H. Auswertung von Dünnschicht-Chromatogrammen über die Kubelka-Munk-Funktion. Chromatographia 7, 197–199 (1974). https://doi.org/10.1007/BF02270629

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