Résumé
La microanalyse des éléments légers est le plus souvent réalisée à l’aide d’une méthode dispersive utilisant des cristaux artificiels. Toutefois la faible ouverture du faisceau de rayons X et sa forte absorption dans le cristal dispersif rendent cette méthode peu sensible lorsque, pour réduire les corrections d’absorption, les analyses sont effectuées avec une tension d’accélération des électrons de l’ordre de 5 kV.
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Castaing, R., et F. Pichoir: La recherche aérospatiale, No 108, Septembre-Octobre 1965.
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© 1969 Springer-Verlag Berlin Heidelberg
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Pichoir, M.F. (1969). Microanalyse des éléments très légers. In: Möllenstedt, G., Gaukler, K.H. (eds) Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l’Optique des Rayons X et la Microanalyse. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-12108-5_62
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