Exciton reflectivity of GaAs/Ga_1−x Al _x As multiple quantum wells

Summary

The normal incidence reflectivity spectrum of excitons in GaAs/Ga_1−x Al _x As multiple quantum wells is calculated within the local response approximation. It is shown that the reflectivity lineshape strongly depends on the sample geometry. Using realistic parameters of a multiple quantum well structure, we obtain an excellent fit of the experimental reflectivity curve, thus giving exciton energies, oscillator strengths and exciton broadening parameters.

Riassunto

Lo spettro di riflettività ad incidenza normale degli eccitoni nei pozzi quantistici multipli di GaAs/Ga_1−x Al _x As è calcolato nell’ambito dell’approssimazione locale. Si mostra con la forma della linea di riflettività dipende in gran misura dalla forma geometrica del campione. Usando parametri realistici di una struttura a pozzi quantistici multipli, si ottiene un’ottima approssimazione della curva di riflettività sperimentale, che fornisce così energie eccitoniche, forze dell’oscillatore e parameri di ampliamento eccitonico.

Резюме

В рамках приближения линейного отклика вычисляется спекрт отражательной способности экситонов при нормальном падении для множественных квантовых ям в GaAs/Ga_1−x Al _x As. Показывается, что форма линии отражательной способности сильно зависит от геометрии образца. Используя реалистические параметры структуры множественных квантовых ям, мы получаем хорошее соответствие с экспериментальной кривой для отражательной способности. Получаются энергии экситонов, силы осцилляторов и парам⪟тры экситонного уширения.