Summary
The conditions are specified, which lead to thin crystal plates of simple geometric form suited for the measurement of profile angles. The reasoning toward the recognition of the typical profile angle is indicated.
Zusammenfassung
Die Bedingungen zur Ausbildung dünner Kristallblättchen von geometrisch einfachem Umriß werden angegeben. Die charakteristischen Profilwinkel werden am besten an Parallelogrammen bestimmt; es wird aber gezeigt, wie sie auch an Polygonen erkannt werden können.
Résumé
Spécification des conditions qui conduisent à l'obtention de plaques cristallines minces de forme géométrique simple appropriée à la mesure des angles de profil. Indications du raisonnement qui permettent de reconnaître l'angle de profil typique.
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Literature
L. Kofler andA. Kofler, Mikroskopische Methoden in der Mikrochemie. Vienna and Leipzig: Haim & Co. 1936.
A. C.Shead, Mikrochim. Acta [Wien]1959,432.
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Shead, A.C. Sublimation giving crystals suited for the measurement of profile angles. Microchim Acta 47, 657–663 (1959). https://doi.org/10.1007/BF01230373
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DOI: https://doi.org/10.1007/BF01230373