Caractérisation et résultats de fiabilité de transistors à haute mobilité électronique (HEMT) Abdenabi BelhadjPierre AudrenJean-Michel Dumas OriginalPaper Pages: 585 - 590
New experimental results in the qualification tests of large EPROMs Robert LeemannAlessandro Birolini OriginalPaper Pages: 591 - 598
A new method for the fast determination of the data retention lifetime of UV EPROM’s Hendrik L. A. PolmanJohan J. Mul OriginalPaper Pages: 599 - 605
Evaluation of standard plastic integrated circuits reliability after accelerated sequential testing Gilles DeleuzeSavério LeroseMichel Brizoux OriginalPaper Pages: 606 - 616
Life tests and field results of GaAs FETs Pietro BrambillaFausto FantiniMarco Sangalli OriginalPaper Pages: 617 - 624
Reliability and degradation mechanism of inGaAsP/lnP semiconductor lasers Mitsuo FukudaTetsuhiko Ikegami OriginalPaper Pages: 625 - 629
Comparaison de la fiabilité opérationnelle des modules optiques équipant les systémes à 34 Mbit/s de France télécom Nicole GarnierJeannine PaugamPatrick Guymard OriginalPaper Pages: 630 - 634
Générateur de machines séquentielles autotestables pour circuits intégrés spécifiques Claude BerrouCatherine Douillard OriginalPaper Pages: 635 - 641
Reliability Assessment Of Computer System Design Marta Rettelbusch BASTOS MartiniJorge Moreira De Souza OriginalPaper Pages: 642 - 647
Une expérience de i’utilisation des modéles classiques à croissance de fiabilité du logiciel dans le domaine des télécommunications Henri DerriennicGilbert Le Gall OriginalPaper Pages: 648 - 656
Analyse des défaillances et suivi de la validation du logiciel d’un équipement de télécommunication* Mohamed KaÂnicheKarama KanounSylvain Metge OriginalPaper Pages: 657 - 670
Systémes experts d’aide à la maintenance des àquipements de télédiffusion de France: cas d’un émetteur de télévision 2 x 25 kW ervé Caudronierre Woda OriginalPaper Pages: 671 - 676