Zusammenfassung
Wir haben gesehen, daß der Vervielfachungsprozeß zu einer beträchtlichen Ladungswolke von Elektronen führt. Bei den von uns untersuchten Vervielfachern, die alle am hinteren Ende verschlossen waren, überlagert sich diese Elektronenwolke als Stromstoß dem Gleichstrom der Versorgungsspannung. Von diesem läßt er sich trennen und kann nach geeigneter Verstärkung einem Zähler zugeführt werden. Im folgenden wird untersucht, welchen Einfluß die Versorgungsspannung Uc des Vervielfachers auf die Zählrate ausübt, wenn die Teilchenstromdichte am Eingang des Detektors konstant gehalten wird. Die Kenntnis dieses Zusammenhangs ist wichtig. Seiner Darstellung in einer Kurve können wir entnehmen, ob bei einer bestimmten Spannung ein Plateau erreicht wird, auf dem die Zählrate nur noch wenig von Uc abhängt.
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Tiefenau, H. (1969). Einfluß der Arbeitsspannung auf die Zählrate. In: Untersuchungen an Kanal-Elektronen-Vervielfachern. Mitteilungen aus dem Max-Planck-Institut für Aeronomie, vol 39. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-88577-8_4
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