Skip to main content
SpringerLink
Log in

Introduction: History

  • Chapter
  • First Online:
Surface Microscopy with Low Energy Electrons

Abstract

This introductory chapter discusses the evolution of surface imaging with slow electrons from the beginnings to the time when imaging under ultrahigh vacuum (UHV) conditions was developed. It started in the early 1930s with thermionic electron emission microscopy (TEEM) and photo emission electron microscopy (PEEM), followed by mirror electron microscopy (MEM). World War II caused a considerable delay in the evolution of the field, but thereafter it flourished due to the development of sophisticated instruments and new methods such as ion bombardment-induced secondary electron emission microscopy (SEEM). The parallel evolution of transmission electron microscopy (TEM) and scanning electron microscopy (SEM), which gave higher resolution, led to a decline of emission and mirror microscopy. In addition the non-UHV conditions in the instruments used at this time were not compatible with the emerging field of surface science in the 1960s. The UHV requirements finally led to a new age in surface imaging with slow electrons. This is discussed in the subsequent chapters.

This is a preview of subscription content, log in via an institution to check access.

Access this chapter

Log in via an institution
Chapter
USD 29.95
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
eBook
USD 129.00
Price excludes VAT (USA)
  • Available as EPUB and PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
Softcover Book
USD 169.99
Price excludes VAT (USA)
  • Compact, lightweight edition
  • Dispatched in 3 to 5 business days
  • Free shipping worldwide - see info
Hardcover Book
USD 169.99
Price excludes VAT (USA)
  • Durable hardcover edition
  • Dispatched in 3 to 5 business days
  • Free shipping worldwide - see info

Tax calculation will be finalised at checkout

Purchases are for personal use only

Institutional subscriptions

References

  1. Davisson, C.J., Germer, L.H.: Diffraction of electrons by a crystal of nickel. Phys. Rev. 30, 705–740 (1927)

    Google Scholar 

  2. Busch, H.: Rechnung der Bahn von Elektronenstrahlen im axialsymmetrischen elektromagnetischen Feld. Ann. Phys. 81, 974–993 (1926)

    Google Scholar 

  3. Gábor, D.: Oszillographieren von Wanderwellen mit dem Kathodenoszillographen. In: Matthias, A. (ed.) Forschungshaefte der Studiengesellschaft für Höchspannungsanlagen, vol. 1, pp. 7–24. Vereinigung Elektrizitätswerke, Berlin (1927)

    Google Scholar 

  4. Knoll, M., Ruska, R.: Beitrag zur geometrischen Elektronenoptik. Ann. Phys. 12, 607–661 (1932)

    Google Scholar 

  5. Knoll, M., Ruska, R.: Das Elektronenmikroskop. Z. Physik 78, 318–335 (1932)

    Google Scholar 

  6. Knoll, M., Houtermans, F.G., Schulze, W.: Untersuchungen der Emissionsverteilung an Glühkathoden mit dem magnetischen Elektronenmikroskop. Z. Physik 78, 340–362 (1932)

    Google Scholar 

  7. Brüche, E.: Elektronenmikroskop. Naturwissenschaften 20, 49 (1932)

    Google Scholar 

  8. Brüche, E., Johannson, H.: Elektronenoptik und Elektronenmikroskopie. Naturwissenschaften 20, 353–358 (1932)

    Google Scholar 

  9. Davisson, C.J., Calbick, C.J.: Electron lenses. Phys. Rev. 38, 585 (1931)

    Google Scholar 

  10. Davisson, C.J., Calbick, C.J.: Electron lenses. Phys. Rev. 42, 580 (1932)

    Google Scholar 

  11. Brüche, E.: Elektronenmikroskopische Abbildung mit lichtelektrischen Elektronen. Z. Physik 86, 448–450 (1933)

    Google Scholar 

  12. Zworykin, V.K.: On electron optics. J. Franklin Inst. 215, 535–555 (1933)

    Google Scholar 

  13. Johannson, H.: Über das Immersionsobjektiv der geometrischen Elektronenoptik. Ann. Phys. 18, 385–413 (1933)

    Google Scholar 

  14. Johannson, H.: Über das Immersionsobjektiv der geometrischen Elektronenoptik II. Ann. Phys. 21, 274–284 (1934)

    Google Scholar 

  15. Behne, R.: Die Eigenschaften des Immersionsobjektivs für die Abbildung mit schnellen Elektronen. Ann. Phys. 26, 372–384 (1936)

    Google Scholar 

  16. Knecht, W.: Das kombinierte Licht- und Elektronenmikroskop, seine Eigenschaften und seine Anwendung. Ann. Phys. 20, 161–184 (1934)

    Google Scholar 

  17. Ramsauer, C.: Elektronenmikroskopie. Bericht über Arbeiten des AEG Forschungs-Instituts 1930 bis 1942. Springer, Berlin (1943)

    Google Scholar 

  18. Brüche, E., Scherzer, O.: Geometrische Elektronenoptik. Springer, Berlin (1934)

    Google Scholar 

  19. Henneberg, W., Recknagel, A.: Der chromatische Fehler bei elektronenoptischen Anwendungen, insbesondere beim Bildwandler. Z. Techn. Phys. 16, 230–235 (1935)

    Google Scholar 

  20. Langmuir, D.B.: Theoretical limitations of cathode-ray tubes. Proc. Inst. Radio Eng. 25, 977–991 (1937)

    Google Scholar 

  21. Boersch, H.: Über das primäre and sekundäre Bild im Elektronenmikroskop. I. Eingriffe in das Beugungsbild und ihr Einfluss auf die Abbildung. Ann. Phys. 26, 631–644 (1936)

    Google Scholar 

  22. Recknagel, A.: Zur Theorie des Elektronenspiegels. Z. Techn. Physik 17, 643–645 (1936)

    Google Scholar 

  23. Recknagel, A.: Zur Theorie des Elektronenspiegels. Z. Physik 104, 384–394 (1936)

    Google Scholar 

  24. Hottenroth, G.: Untersuchungen über Elektronenspiegel. Ann. Phys. 422, 689–712 (1937)

    Google Scholar 

  25. Orthuber, R.: Über die Anwendung des Elektronenspiegels zum Abbilden der Potentialverteilung auf metallischen und Halbleiteroberflächen. Z. Angew. Phys. 1, 79–89 (1948)

    Google Scholar 

  26. Mahl, H.: Feldemission aus geschichteten Kathoden bei Elektronbestrahlung. Z. Techn. Phys. 18, 559–563 (1937)

    Google Scholar 

  27. Heinze, W., Wagener, S.: Die Vorgänge bei der Aktivierung von Oxydkathoden. Z. Techn. Phys. 17, 645–653 (1936)

    Google Scholar 

  28. McMillen, J.H., Scott, G.H.: A magnetic electron microscope of simple design. Rev. Sci. Instrum. 8, 228–290 (1937)

    Google Scholar 

  29. Burgers, W.G., Ploos van Amstel, J.J.A.: Electronoptical observation of metal surfaces. Physica 4, 5–14 (1937)

    Google Scholar 

  30. Meschter, E.: An electron microscope for studying thermal and secondary electron emission. Rev. Sci. Instrum. 9, 12–15 (1938)

    Google Scholar 

  31. Brüche, E., Recknagel, A.: Elektronengeräte. Prinzipien und Systematik. Springer, Berlin (1941)

    Google Scholar 

  32. Griffith, O.H., Engel, W.: Historical perspective and current trends in emission microscopy, mirror electron microscopy, and low energy electron microscopy. Ultramicroscopy 36, 1–28 (1991)

    Google Scholar 

  33. Recknagel, A.: Theorie des elektrischen Elektronenmikroskops für Selbststrahler. Z. Physik 117, 689–708 (1941)

    Google Scholar 

  34. Boersch, H.: Erhöhung der Auflösung im Emissions-Elektronenmikroskop. Naturwissenschaften 30, 120 (1942)

    Google Scholar 

  35. Kinder, E.: Emissions-Übermikroskopie mit magnetischen Linsen. Naturwissenschaften 30, 591–592 (1942)

    Google Scholar 

  36. Mecklenburg, W.: Über das elektrostatische Emissions-Übermikroskop. Z. Physik 120, 21–32 (1942)

    Google Scholar 

  37. Boersch, H.: Die Verbesserung des Auflösungsvermögens im Emissions-Elektronenmikroskop. Z. Techn. Phys. 23, 129–130 (1942)

    Google Scholar 

  38. Boersch, H.: Über das primäre and sekundäre Bild im Elektronenmikroskop. II. Strukturuntersuchung mittels Elekktronenbeugung. Ann. Phys. 27, 75–80 (1936)

    Google Scholar 

  39. Brüche, E.: Die Auflösungsgrenze des Emissions-Elektronenmikroskops. Kolloid Z. 100, 192–206 (1942)

    Google Scholar 

  40. Recknagel, A.: Das Auflösungsvermögen des Elektronenmikroskops für Selbststrahler. Z. Physik 120, 331–362 (1943)

    Google Scholar 

  41. Artsimovich, L.A.: Electron-optical properties emission-systems. Izv. Akad. Nauk. SSSR Ser. Fiz. 8, 313–329 (1944) (in Russian)

    Google Scholar 

  42. Rathenau, G.W., Baas, G.: Grain growth in a texture. Studied by means of electron emission microscopy. Physica 17, 117–128 (1951)

    Google Scholar 

  43. Baas, G., Rathenau, G.W.: An emission electron microscope for research at high temperatures. Philips Tech. Rev. 18, 1–10 (1956/1957)

    Google Scholar 

  44. Gauzit, M., Septier, A.: Le microsope électronique a émission en metallographie. Bull. Microsc. Appl. 1, 109–118 (1951)

    Google Scholar 

  45. Septier, A.: Sur l’obtention d’images électroniques de surfaces bombardées par des ions. C. R. Acad. Sci. Paris 237, 231–233 (1953)

    Google Scholar 

  46. Septier, A.: Quelque types d’objectifs électrostatiques a immersion a fort grandissement. Ann. Radioélectricité 9, 374–410 (1954)

    Google Scholar 

  47. Möllenstedt, G., Düker, H.: Emissionsmikroskopische Oberflächenabbildung mit Elektronen, die durch schrägen Ionenbeschuß ausgelöst wurden. Optik 10, 192–205 (1953)

    Google Scholar 

  48. Huguenin, E.L.: Un essai de microscopie électronique à photoémission. C. R. Acad. Sci. Paris 239, 404–406 (1954)

    Google Scholar 

  49. Huguenin, E.L.: Observation des structures cristallines au microscope électronique à photoémission. C. R. Acad. Sci. Paris 241, 307–309 (1955)

    Google Scholar 

  50. Huguenin, E.L.: Sur le microscope électronique à photoémission. Ann. Phys. 2, 214–266 (1957)

    Google Scholar 

  51. Heidenreich, R.D.: Thermionic emission microscopy of metals. J. Appl. Phys. 26, 757–765 (Part I) and 879–889 (Part II) (1955)

    Google Scholar 

  52. Spivak, G.V., Kanavina, N.G., Chernishev, I.N., Sbitnikova, I.S.: Electron-optical method for imaging heterogeneous magnetic objects. Dokl. Akad. Nauk. SSSR (in Russian) 92(541–543) (1953)

    Google Scholar 

  53. Spivak, G.V., Kanavina, N.G., Sbitnikova, I.S., Dombrovskaya, T.N.: Imaging ferromagnetic domains by electron-optical method. Dokl. Akad. Nauk. SSSR (in Russian) 105(706–708) (1955)

    Google Scholar 

  54. Prilejaeva, I.N., Lifshits, V.V., Spivak, G.V.: Electron optical study of nonstationary emission of oxydcathode in vacuum and in gas. Zh. Tech. Fiz. (in Russian) 25, 97–107 (1955)

    Google Scholar 

  55. Fert, C., Simon, R.: Amélioration du pouvoir de resolution du microscope électronique à émission. C. R. Acad. Sci. Paris 243, 1300–1303 (1956)

    Google Scholar 

  56. Fert, C., Simon, R.: Pouvoir séparateur d'un microscope électronique à émission en presence d'un diaphragme, et spectre de vitesse des électrons transmis. C. R. Acad. Sci. Paris 244, 1177–1179 (1957)

    Google Scholar 

  57. Fert, C., Simon, R.: Progrès récents en microscopie électronique à émisión. J. Phys. Radium 18, 87–89 (1957)

    Google Scholar 

  58. Bethge, H., Eggert, H., Herbold, K.: Über einige anwendungstechnsche Erfahrungen mit einem Emissions-Mikroskop. In: Bargmann, W., et al. (eds.) Proceedings of the 4th International Conference on Electron Microscopy, Berlin 1958, pp. 217–222. Springer, Berlin (1960)

    Google Scholar 

  59. Bas, E.B.: De la microscopie à émission d’électrons, et de son application en métallurgie. Le Vide 96, 303–316 (1961)

    Google Scholar 

  60. Aeschlimann, R., Bas, E.B.: Ein universal-emissions-elektronenmikroskop. In: Sydney, J., Breese, S.S. (ed.) Proceedings of the 5th International Congress Electron Microscopy, Philadephia 1962, pp. D-9. Academic Press, New York (1962)

    Google Scholar 

  61. Delong, A., Drahoš, V.: Ein Kombiniertes Emissions-Elektronenmikroskop. In: Titlbach, M. (ed.) Proceedings of the 3rd European Regional Conference on Electron Microscopy, Prague 1964, pp. 25–26. Academia, Prague (1964)

    Google Scholar 

  62. Delong, A., Drahoš, V.: On some features of a new electrón emisión microscope. J. Sci. Instrum. 1, 397–400 (1968)

    Google Scholar 

  63. Engel, W.: Emission microscopy with different kinds of electron emission. In: Ueda, R. (ed.) Proceedings of the 6th International Congress on Electron Microscopy, Kyoto 1966, pp. 217–218. Maruzen, Tokyo (1966)

    Google Scholar 

  64. Engel, W.: Entwicklung eines Emisssionsmikroskops höher Auflösung. Ph.D. thesis, Freie Universität Berlin (1968)

    Google Scholar 

  65. Uchikawa, Y., Kojima, M., Ichihashi, M., Maruse, S.: The ion-induced emission electron microscope and an image contrast due to specimen contamination. Jpn. J. Appl. Phys. 8, 436–442 (1969)

    Google Scholar 

  66. Bartz, G.: Über ein Elektronenmikroskop und ein Verfahren zur direkten Sichtbarmachung von isolierten Oberflächen. In: Bargmann, W., et al. (eds.) Proceedings of the 4th International Conference on Electron Microscopy, Berlin 1958, pp. 201–207. Springer, Berlin (1960)

    Google Scholar 

  67. Soa, E.-A.: Entwicklung eines Emissionsmikroskops und Anwendung auf einige Fragen der Phasengrenzvorgänge bei der Metalloxydation. In: Jenaer Jahrbuch 1963, vol. II. pp. 427–486. VEB Gustav Fischer, Jena (1964)

    Google Scholar 

  68. Soa, E.-A.: Ein neues Emissionselektronenmikroskop. Optik 22, 66–76 (1965)

    Google Scholar 

  69. Wegmann, L.: Auf dem Weg zum Metall-Elektronenmikroskop (Progress toward metallurgical electron microscope). Prakt. Metallogr. 5, 241–263 (1968)

    Google Scholar 

  70. Wegmann, L.: Photoemissions-Elektronenmikroskopie. In: Müller, E.A.W. (ed.) Handbuch der Zerstörungsfreien Werksstoffprüfung, vol. 3, pp. 1–23. Oldenbourg Verlag, München (1969)

    Google Scholar 

  71. Ion Bombardement Secondary Emission Electron Microscope, Model JEM-E3 In: JEOL News, vol. 3, No. 1. pp. 3–4 (1965)

    Google Scholar 

  72. Eichen, E., Forgacs, R.L., Parafin, B.A.: New thermionic emission microscope. Rev. Sci. Instrum. 37, 438–444 (1966)

    Google Scholar 

  73. Huang, L.Y.: The construction of commercial electron microscopes in China. Adv. Imag. Electron Phys. 96, 805–847 (1996)

    Google Scholar 

  74. Wegmann, L.: The photo-emission electron microscope: its technique and applications (invited review). J. Microsc. 96, 1–23 (1972)

    Google Scholar 

  75. Bayh, W.: Direkte Sichtbarmachung von Metalloberflächen mit ionenausgelösten Elektronen. Z. Physik 151, 281–295 (1958)

    Google Scholar 

  76. Möllenstedt, G., Düker, H.: Ein Elektronen-Emissions-Mikroskop für metallkundische Anwendungen. In: Bargmann, W., et al. (eds.) Proceedings of the 4th International Conference on Electron Microscopy, Berlin 1958, pp. 212–215. Springer, Berlin (1960)

    Google Scholar 

  77. Düker, H.: Das Elektronen-Emissions-Mikroskop als Hilfsmittel in der Metallkunde. Z. Metallkunde 51, 314–321 (1960)

    Google Scholar 

  78. Bayh, W.: Emissionsmikroskopie mit Sekundärelektronen (15 keV-Primärelektronen). Z. Physik 150, 10–15 (1958)

    Google Scholar 

  79. Huang, L.Y.: Röntgen-Bildwandler-Mikroskopie. Z. Physik 149, 225–253 (1957)

    Google Scholar 

  80. Koch, W.: Ein hochauflösendes Emissions-Mikroskop zur Sichtbarmachung von Oberflächen mit UV-ausgelösten Elektronen. Z. Physik 152, 1–18 (1958)

    Google Scholar 

  81. Von Ardenne, M.: Tabellen zur Angewandten Physik, vol. 1. VEB Deutscher Verlag der Wissenschaften, Berlin (1962)

    Google Scholar 

  82. Delong, A., Drahoš, V.: Emissions-Elektronenmikroskopie ebener Oberflächen mittels Feldelektronen. In: Paty, L. (ed.) Proceedings of the 3rd Czechoslovakia Conference on Electronics Vacuum Physics Transactions, Prag 1965, pp. 633–644. Academia, Prag (1967)

    Google Scholar 

  83. Storbeck, F.: Über die Auflösungsgrenze des Emissions-Elektronenmikroskops. Ann. Phys. 475, 272–291 (1967)

    Google Scholar 

  84. Storbeck, F.: Zur Kontrastübertragung im Emissions-Elektronenmikroskop. Ann. Phys. 478, 209–227 (1969)

    Google Scholar 

  85. Uchikawa, Y., Maruse, S.: Theory of chromatic aberrations of the cathode lens. J. Electron Microsc. 18, 118–127 (1969)

    Google Scholar 

  86. Uchikawa, Y., Maruse, S.: Resolving power of the cathode lens. J. Electron Microsc. 19, 12–16 (1970)

    Google Scholar 

  87. Nevzorov, A.N., Sedov, N.N., Dükov, V.G.: Filtration des vitesses des électrons dans un microsope à émission. In: Favard, P. (ed.) Proceedings of the September Congress International Microscopie Électronique, Grenoble 1970, pp. 191–192. Société Francaise de Microscopie Électronique, Paris (1970)

    Google Scholar 

  88. Gruner, H., Gauckler, K.H., Möllenstedt, G.: Monochromatisierung von Elektronenstrahlen mittels Spiegelung und ihre Anwendung in der Emissions-Mikroskopie. Optik 33, 255–269 (1971)

    Google Scholar 

  89. McCune, R.C.: Image enhancement in the emission electron microscope. In: Bailey, G.W. (ed.) Proceedings of the 31th Annual EMSA Meeting, New Orleans 1973, pp. 90–91. Claitor's Publishing Div, Baton Rouge (1973)

    Google Scholar 

  90. Baxter, W.J., Rouze, S.R.: A photoemission electron microscope using an electron multiplier array. In: Bailey, G.W. (ed.) Proceedings of the 31th Annual EMSA Meeting, New Orleans 1973, pp. 138–139. Claitor's Publishing Div, Baton Rouge (1973)

    Google Scholar 

  91. Koch, W.: Ein Photoelektronen-Emissionsmikroskop für den 10−8 Torr-Bereich. Optik 25, 523–534 (1967)

    Google Scholar 

  92. Turner, G.H., Bauer, E.: An Ultrahigh Vacuum Electron Microscope and Its Application to Work Function Studies. In: Ueda, R. (ed.) Proceedings of the 6th International Congress on Electron Microscopy, Kyoto 1966, pp. 163–164. Maruzen, Tokyo (1966)

    Google Scholar 

  93. Druzhinin, A.V., Dükov, V.G., Isaev, A.A.: Ultrahigh vacuum emission microscope. In: Favard, P. (ed.) Proceedings of the September Congress International Microscopie Électronique, Grenoble 1970, pp. 187–188. Société Francaise de Microscopie Électronique, Paris (1970)

    Google Scholar 

  94. Griffith, O.H., Lesch, G.H., Rempfer, G.F., Birrell, G.B., Burke, C.A., Schlosser, D.W., Mallon, M.H., Lee, G.B., Stafford, R.G., Jost, P.C., Marriott, T.B.: Photoelectron microscopy: a new approach to mapping organic and biological surfaces. Proc. Nat. Acad. Sci. U.S.A. 69, 561–565 (1972)

    Google Scholar 

  95. Griffith, O.H., Rempfer, G.F., Lesch, G.H.: A high vacuum photoelectron microscope for the study of biological specimens. In: Johari, O. (ed.) Scanning Electron Microscopy/1981 Meetings, Dallas 1981, pp. 123–130. SEM Inc AMF O’Hare, Chicago, IL (1981)

    Google Scholar 

  96. Delong, A., Drahoš, V.: Low energy electron diffraction in an emission microscope. Nat. Phys. Sci. 230, 196–197 (1971)

    Google Scholar 

  97. Drahoš, V., Delong, A., Kolařik, V., Lenč, M.: On a mirror-type selected area LEED. J. Microsc. 18, 135–146 (1973)

    Google Scholar 

  98. Delong, A., Drahoš, V., Kolarik, V., Lenc, M.: On the possibility of Auger electron spectroscopy in the electron emission microscope. In: Proceedings of the 5th Czechoslovakia Conference on Electronics and Vacuum Physics, Berlin, p. c 6 (1972)

    Google Scholar 

  99. Recknagel, A., Mahnert, H., Brückner, J.: Über ein Gerät, das Beugung mit langsamen und schnellen Elektronen und emissionselektronenmikroskopische Abbildung von Festkörperoberflächen gestattet. Optik 35, 376–390 (1972)

    Google Scholar 

  100. Möllenstedt, G., Lenz, F.: Electron emission microscopy. Adv. Electron. Electron Phys. 18, 251–329 (1963)

    Google Scholar 

  101. Schwarzer, R.A.: Physical aspects of emission electron microscopy. In: Pfefferkorn, G., Schur, K. (eds.) Proceedings of the First International Conference on Emission Electron Microscopy: Beiträge zur elektronenmikroskopischen Direktabbildung von Oberflächen, Tubingen/Germany 1979, pp. 3–38. Verlag R.A. Remy, Münster (1979)

    Google Scholar 

  102. Schwarzer, R.A.: Emission electron microscopy – a review. Microsc. Acta 84, 51–84 (1981)

    Google Scholar 

  103. Mayer, L.: Electron optical image of an electron beam. J. Appl. Phys. 24, 105–106 (1953)

    Google Scholar 

  104. Bartz, G., Weissenberg G., Wiskott, D.: Ein Auflichtelektronenmikroskop. In: Ross, R. (ed.) International Conference on Electron Microscopy, London 1954, pp. 395–404 (1954)

    Google Scholar 

  105. Bartz, G., Weissenberg, G., Wiskott, D.: Ein Auflicht Elektronenmikroskop. Radex-Rundschau 4/5, 163–172 (1956)

    Google Scholar 

  106. Spivak, G.V., Prilejaeva, I.N., Azovcev, V.K.: Magnetic contrast in electron mirror and observation ferromagnetic domains. Dokl. Akad. Nauk. SSSR (in Russian) 105(965–967) (1955)

    Google Scholar 

  107. Kuehler, J.D.: A new electron mirror design. IBM J. Res. Dev. 4, 202–204 (1960)

    Google Scholar 

  108. Mayer, L., Rickett, R. Steinemann, H.: Design features of a new electron mirror microscope. In: Sydney, j., Breese S.S., (ed.) Proceedings of the 5th International Congress Electron Microscopy, Philadephia 1962, pp. D-10. Academic Press, New York (1962)

    Google Scholar 

  109. Kuhlmann, F., Hein, U., Burka, C., Knick, K.-D., Schneidereit, A.: Zur Elektronenspiegelmikroskopie in Schattenabbildung mit monochromatisierten Elektronen. Exp. Tech. Phys. 26, 285–295 (1978)

    Google Scholar 

  110. Mayer, L.: On electron mirror microscopy. J. Appl. Phys. 26, 1228–1230 (1955)

    Google Scholar 

  111. Spivak, G.V., Igras, É., Pryamkova, I.A., Zheludev, I.S.: Detection of the domain structure in barium titanate with an electron reflector. Sov. Phys. Cryst. (in Russian) 4(115–117) (1959)

    Google Scholar 

  112. Bethge, H., Hellgardt, J., Heydenreich, J.: Zum Aufbau einfacher Anordnungen für Untersuchngen mit dem Elektronenspiegel. Exp. Tech. Phys. 8, 49–61 (1960)

    Google Scholar 

  113. Spivak, G.V., Pryamkova, I.A., Fetisov, D.V., Kabanov, A.N., Lazareva, L.V., Shilina, A.I.: Mirror electron microscope for studying the structure of surfaces. Izv. Akad. Nauk. SSSR Ser. Fiz. (in Russian) 25, 698–705 (1961)

    Google Scholar 

  114. Bacquet, G., Santouil, A.: Un microscope électronique à miroir. C. R. Acad. Sci. Paris 255, 1263–1265 (1962)

    Google Scholar 

  115. Spivak, G.V., Luk’yanov, A.E., Toshev, S.D., Koptschik, V.A.: Observation of the domain structure of triglyceride sulfate by means of an electron mirror. Bull. Acad. Sci. USSR 27, 1177–1179 (1963)

    Google Scholar 

  116. Igras, E., Warminski, T.: Electron mirror observations of semiconductor surfaces at low temperatures. Phys. Status Solidi A 9, 79–85 (1965)

    Google Scholar 

  117. Ivanov, R.D., Abalmazova, M.G.: Universal high-resolution mirror electron microscope. Bull. Acad. Sci. USSR 30, 813–815 (1966)

    Google Scholar 

  118. Barnett, M.E., Nixon, W.C.: A mirror electron microscope using magnetic lenses. J. Sci. Instrum. 44, 893–898 (1967)

    Google Scholar 

  119. Someya, T., Watanabe, M.: Development of electron mirror microscope. In: Bocciarelli, D.S. (ed.) Proceedings of the 4th European Regional Conference on Electron Microscopy, Rome 1968, pp. 97–98. Tipografia Poliglotta Vaticana, Rome (1968)

    Google Scholar 

  120. Szentesi, O.I., Bernett, M.E.: Electron mirror observation of an interdigital electrode structure. J. Phys. E Sci. Instrum. 2, 855–858 (1969)

    Google Scholar 

  121. Becherer, G., Kuhlmann, F.: Untersuchungen zum Aufbau eines Elektronenspiegel-Mikroskops im Druckbereich von 10–7–10–8 Torr (Teil 1). Exp. Tech. Phys. 19, 119–131 (1971)

    Google Scholar 

  122. Archard, G.D., Mulvey, T.: Magnetic deflexion of electron beams without astigmatism. J. Sci. Instrum. 35, 279–283 (1958)

    Google Scholar 

  123. Schwartze, W.: Ein Elektronenspiegel-Oberflächenmikroskop. Exp. Tech. Phys. 14, 293–302 (1966)

    Google Scholar 

  124. Bethge, H., Heydenreich, J.: Ein Elektronenspiegel-Mikroskop mit Umlenkfeld und seine Einsatzmöglichkeiten. Exp. Tech. Phys. 14, 375–382 (1971)

    Google Scholar 

  125. Bok, A.B.: A mirror electron microscope. Ph.D. thesis, Technical University of Delft (1968)

    Google Scholar 

  126. Bok, A.B.: Scanning mirror electron microscopy. In: Amelinckx, S., Gevers, R., Remaut, G., van Landuyt, J. (eds.) Modern Diffraction and Imaging Techniques in Material Science, pp. 655–682. North Holland, Amsterdam (1970)

    Google Scholar 

  127. Forst, G., Wende, B.: Zur Bildentstehung im Elektronenspiegelmikroskop. Z. Angew. Phys. 17, 479–481 (1964)

    Google Scholar 

  128. Schwartze, W.: Elektronenspiegel-Oberflächenmikroskopie mit fokussierter Abbildung. Optik 25, 260–272 (1967)

    Google Scholar 

  129. Mayer, L.: Electron mirror microscopy of patterns recorded on magnetic tape. J. Appl. Phys. 29, 658–660 (1958)

    Google Scholar 

  130. Wiskott, D.: Zur Theorie des Auflicht-Elektronenmikroskops. I. Geometrische Elektronenoptik in der Umgebung des Objects. Optik 13, 463–478 (1956)

    Google Scholar 

  131. Brand, U., Schwartze, W.: Modellversuche zur Bildentstehung im Elekronenspiegel-Oberflächenmikroskop. Exp. Tech. Phys. 11, 18–25 (1963)

    Google Scholar 

  132. Wiskott, D.: Zur Theorie des Auflicht-Elektronenmikroskops. II. Wellenmechanische Elektronenoptik in der Umgebung des Objects. Optik 13, 481–493 (1956)

    Google Scholar 

  133. Gvosdover, R.S., Zel’dovich, Y.B.: The quantum theory of the image contrast formation of electrical and magnetic microfields in mirror electron microscopy. J. Microsc. 17, 107–130 (1973)

    Google Scholar 

  134. JEM-M1 Electron Mirror Microscope. In: JEOL News, vol. 6, No 1. pp. 2–3 (1968)

    Google Scholar 

  135. Someya, T., Kobayashi, J.: Quantitative application of electron-mirror microscopy to the determination of pure shear of ferroelectric Gd2(MoO4)3. Phys. Status Solidi A 26, 325–336 (1974)

    Google Scholar 

  136. Warminski, T.: Sensitivity of the electron mirror microscope for surface electrical inhomogeneities. In: Proceedings of the 5th European Congress Electron Microscopy 1972, pp. 28–29. Institute of Physics, Manchester (1972)

    Google Scholar 

  137. Guittard, C., Babout, M., Pernoux, E.: Mesure des discontinutés de potentiel dans un microscope à miroir. C. R. Acad. Sci. Paris 261, 5358–5361 (1965)

    Google Scholar 

  138. Guittard, C., Babout, M., Pernoux, E.: Microscopie electronique a miroir: mesure des variations locales de potentiel. In: Bocciarelli, D.S. (ed.) Proceedings of the 4th European Regional Conference on Electron Microscopy, Rome 1968, pp. 107–108. Tipografia Poliglotta Vaticana, Rome (1968)

    Google Scholar 

  139. Guittard, C., Guittard, S., Bernard, R.: Faisceaux Électroniques et surfaces. Perspectives de regroupement des principales techniques en vue d’une corrélation plus efficace des resultants. Bull. Soc. Chim. Fr. Numero Special, 137–143 (1970)

    Google Scholar 

  140. Babout, M., Laydevant, L., Guittard, C.: Microscopie Electronique a Miroir. Images et mesure des potentiels locaux. In: Favard, P. (ed.) Proceedings of the September Congress International de Microscopie Électronique, Grenoble 1970, pp. 271–272. Société Française de Microscopie Électronique, Paris (1970)

    Google Scholar 

  141. Guittard, C., Bernard, R.: Microscope-Volumetre Électronique pour measures superficielle ponctuelles. In: Favard, P. (ed.) Proceedings of the September Congress International de Microscopie Électronique, Grenoble 1970, pp. 275–276. Société Francaise de Microscopie Électronique, Paris (1970)

    Google Scholar 

  142. Laydevant, L., Guittard, C., Bernard, R.: Diffraction d’electrons tres lents en microscopie electronique a miroir. In: Proceedings of the 5th European Congress Electron Microscopy, Manchester 1972, pp. 662–663. Institute of Physics (1972)

    Google Scholar 

  143. Bernard, R., Laydevant, L., Dupuy, J. C.: Groupe de pompage automatisable en ultra-vide: Application Á un microscope Õlecronique Á miroir. Le Vide, Les Couches Minces 169, 111–116 (1974)

    Google Scholar 

  144. Berger, C., Laydevant, L., Bernard, J.: Utilisation de l’objectif de Johannson pour l’obtention de diagrammes de diffraction d’électrons lents. J. Microsc. Biol. Cell 22, 1–14 (1975)

    Google Scholar 

  145. Pantel, R., Bujor, M., Bardolle, J.: Continuous measurement of surface potential variations during oxygen adsorption on the (100), (110) and (111) faces of niobium using mirror electron microscope (with LEED, AES). Surf. Sci. 62, 589–609 (1977)

    Google Scholar 

  146. Pantel, R., Bujor, M., Bardolle, J.: Oxygen adsorption on various vicinal faces close to the (0001) basal plane of rhenium. Surf. Sci. 83, 228–242 (1979)

    Google Scholar 

  147. Chang, C.C.: LEED optics as electron mirror microscope. Rev. Sci. Instrum. 42, 189–191 (1971)

    Google Scholar 

  148. Dupuy, J.C., Sibai, A., Vilotitch, B.: Mirror electron microscopy (MEM): work function and imaging of an electron beam biased junction of silicon (100). Surf. Sci. 147, 191–202 (1984)

    Google Scholar 

  149. Forster, M.S., Campuzano, J.C., Willis, R.F., Dupuy, J.C.: A mirror electron microscope for surface analysis. J. Microsc. 140, 395–403 (1985)

    Google Scholar 

  150. Shern, C.S., Unertl, W.N.: A simple mirror electron microscope-low-energy electron diffraction apparatus for surface studies. J. Vac. Sci. Technol. A 5, 1266–1270 (1987)

    Google Scholar 

  151. Lichte, H.: Ein Elektronen-Auflicht-Interferenzmikroskop zur Präzisionsmessung von Unebenheiten und Potentialunterschieden auf Oberflächen. Optik 57, 35–67 (1980)

    Google Scholar 

  152. Lichte, H.: Coherent electron optical experiments using an electron mirror. In: International Symposium on Foundations of Quantum Mechanics, Tokyo 1983, pp. 29–38 (1983)

    Google Scholar 

  153. Bok, A.B., Le Poole, J.B., Roos, J., De Lang, H.: Mirror electron microscopy. In: Adv. Optical Electron Microscopy, vol. 4. pp. 161–261. Academic Press, London (1971)

    Google Scholar 

  154. Luk’yanov, A.E., Spivak, G.V., Gvozdover, R.S.: Mirror electron microscopy. Sov. Phys. Usp. 16, 529–552 (1974)

    Google Scholar 

  155. Bethge, H., Heydenreich, J.: Special methods for direct imaging of surfaces: emission electron microscopy, reflection electron microscopy and mirror electron microscopy. In: Bethge, H., Heydenreich, J. (eds.) Electron Microscopy in Solid State Physics, pp. 229–235. Elsevier, Amsterdam (1987)

    Google Scholar 

  156. Godenhardt, R.: Mirror electron microscopy. In: Hawkes, P. (ed.) Advantages of Imaging in Electron Physics, vol. 94, pp. 81–150. Academic, London (1995)

    Google Scholar 

  157. Eichen, E.: Thermionic emission microscopy and its metallurgical applications. In: Bunshah, R.F. (ed.) Techniques in Metals Research Part I: Techniques for Direct Observation of Structure and Imperfections, vol. 1, pp. 177–219. Interscience Publishers, New York (1968)

    Google Scholar 

  158. Grund, D., Rouze, S.R.: Thermionic-emission microscopy. In: Weinberg, F. (ed.) Tools and Techniques in Physical Metallurgy, vol. 2, pp. 191–203. Marcel Dekker Inc., New York (1970)

    Google Scholar 

  159. Pfefferkorn, G., Schur, K.: Bibliography on emission electron microscopy (EEM), especially on Photo EEM. In: Pfefferkorn, G., Schur, K. (eds.) Proceedings of the First International Conference on Emission Electron Microscopy: Beiträge zur elektronenmikroskopischen Direktabbildung von Oberflächen, Tubingen/Germany 1979, pp. 205–233. Verlag R.A. Remy, Münster (1979)

    Google Scholar 

Download references

Author information

Authors and Affiliations

  1. Department of Physics, Arizona State University, Tempe, AZ, USA

    Ernst Bauer

Authors
  1. Ernst Bauer
    View author publications

    You can also search for this author in PubMed Google Scholar

Rights and permissions

Reprints and permissions

Copyright information

© 2014 Springer Science+Business Media New York

About this chapter

Cite this chapter

Bauer, E. (2014). Introduction: History. In: Surface Microscopy with Low Energy Electrons. Springer, New York, NY. https://doi.org/10.1007/978-1-4939-0935-3_1

Download citation

Publish with us

Policies and ethics

Search

Navigation