Volume 319, Issue 6-7 | Analytical and Bioanalytical Chemistry

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Volume 319, Issue 6-7

June 1984

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71 articles in this issue

Depth profile analyses by GDOS on stainless steel surfaces after exposure to liquid lithium
I. Schreinlechner
P. Scholze
Original Papers Pages: 798 - 800
Rutherford backscattering for measuring corrosion layers on glasses for long-term storage of radioactive waste
Hj. Matzke
Original Papers Pages: 801 - 808
Anwenderbezogene ESCA-Oberflächenuntersuchungen in der industriellen Technik
J. Ebberink
R. Ehrmann
G. Menken
Originalarbeiten Pages: 809 - 811
Korrosion von rostfreien Stählen in Chloridlösungen. Eine XPS-Untersuchung der Passivfilme
P. Brüesch
A. Atrens
H. Neff
Originalarbeiten Pages: 812 - 821
RSV Spektrometer Typ ANALYMAT 2500 mit Glimmentladungslampe und Sord-Computer-System für die Oberflächenanalyse und die quantitative Analyse
H. Ritzl
Originalarbeiten Pages: 822 - 825
Scanning-Auger-Untersuchungen an Hartmetall-Bruchflächen
H. Goretzki
M. Weiss
E. Kny
Originalarbeiten Pages: 826 - 830
Interface distribution analysis of P in W-NiFe-alloys with SIMS
P. Wilhartitz
M. Grasserbauer
B. Lux
Original Papers Pages: 831 - 836
FTIR-ATR-spectroscopic in situ analysis of the protein adsorption on charged polymer surfaces
R. Kellner
G. Götzinger
Original Papers Pages: 837 - 838
FTIR-ATR-spectroscopic analysis of depth distribution of crown ethers on PVC-membrane surfaces
R. Kellner
G. Götzinger
L. Polos
Original Papers Pages: 839 - 840
Angle resolved ESCA analysis of plasma modified polysterene
J. F. Evans
J. H. Gibson
H. Goretzki
Original Papers Pages: 841 - 844
Applications of the small spot ESCA system SSX 100 in surface analysis
S. M. Daiser
J. L. Maul
M. A. Kelly
Original Papers Pages: 845 - 847
Radiochemische Korrosionsuntersuchungen an Ventilmetallen und Edelstahl
A. Bestanpouri
R. Droste
G. Marx
Originalarbeiten Pages: 848 - 848
Bedeutung und Problematik von Metall-Halbleiter-Kontakten
H. Wagner
Originalarbeiten Pages: 849 - 850
Bestimmung von Implantationsprofilen für As und P in Si mittels SNMS niedriger Energie
P. Beckmann
H. Oechsner
H. Paulus
Originalarbeiten Pages: 851 - 852
Einsatz von Oberflächenmethoden zur Charakterisierung von Si-Wafers nach unterschiedlicher Vorbehandlung
M. Grundner
Originalarbeiten Pages: 853 - 854
Transient SIMS depth-profiles at the interface Si₃N₄/GaAs
U. Traxlmayr
G. Stingeder
M. Grasserbauer
Original Papers Pages: 855 - 860
Tiefenprofilanalysen und TEM-Querschnitte von Tantalsilicid-Polysilicium-Doppelschichten
R. v. Criegern
T. Hillmer
I. Weitzel
Originalarbeiten Pages: 861 - 866
Auger-Elektronen-Spektroskopie an Ge:III-V(110) Heteroübergängen
L. Koenders
H. Gant
W. Mönch
Originalarbeiten Pages: 867 - 871
ESCA-Untersuchung der Oxidation von III-V-Verbindungshalbleitern
Hans-Eckard Sasse
Ulf König
Originalarbeiten Pages: 872 - 876
Characterization of native and heterooxide layers on compound semiconductors by combined use of surface analysis methods
U. Kaiser
P. Sander
A. Benninghoven
Original Papers Pages: 877 - 882
Neue Geräte und Chemikalien

Announcement Pages: A15 - A15