Zusammenfassung
Es wird eine Methode zur Auswertung der Linienbreiten des Röntgenweitwinkel-Diagramms partiell kristalliner Hochpolymeren angegeben. Dabei werden Kristallitgrößeneffekt und Gitterstörungseffekt berücksichtigt.
Bei den Gitterstörungen werden solche vom parakristallinen Typ und solche vom Typ der Gitterdehnungen, hervorgerufen durch Spannungen, betrachtet. Die Methode wird auf isotropes und hochverstrecktes lineares Polyäthylen angewendet. Bei den verstreckten Proben gelingt eine Deutung der Linienbreiten nur mit Störungen vom Dehnungstyp. Die Kristallitgrößenbestimmung wird von der Art der zur Auswertung angenommenen Gitterstörungen nur wenig beeinflußt.
Summary
A method for the interpretation of the line widths in X-ray wide angle diagrams from partial crystalline polymers is explained. Crystallite size effect and lattice distortions are taken into account. Lattice distortions of paracrystalline type and strain type, caused by stresses, are considered. Results are given for samples of linear polyethylene, isotropic and highly stretched. In the case of stretched samples the interpretation of the line widths is only possible with the assumption of strain type distortions. The values for the crystallite sizes are rather independent of the applied type of distortions.
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Wilke, W., Martis, K.W. Kristallitgröße und Gitterstörungen in verstrecktem Polyäthylen. Colloid & Polymer Sci 252, 718–733 (1974). https://doi.org/10.1007/BF01554497
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