Summary
The critical micelle concentrations (CMC) and micellar weights of decyl- and dodecylbetaines were determined by surface tension and light-scattering measurements. These values and those determined previously for octylbetaine revealed the following.
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1.
The logarithm of CMC decreases linearly with the number of carbon atoms in the alkyl group. The slope of log CMC plotted against the carbon number of alkyl chain is nearly equal to that obtained for nonionic surfactant, and steeper than that for ionic surfactant.
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2.
The logarithm of association number increases linearly with the number of carbon atoms in the alkyl group. The slope of the straight line obtained is larger than that for ionic surfactant.
A brief discussion is given on the above behaviors.
Zusammenfassung
Die kritischen Micellkonzentrationen (CMC) und die Micellgewichte von Decyl- und Dodecylbetainen wurden mit OberflÄchenspannungs- und Lichtstreuungsmessungen bestimmt. Diese Werte und die vorausgehend für Octylbetain bestimmten zeigen folgendes:
Die Logarithmen der CMC nehmen linear mit der Zahl der Kohlenstoffatome in der Alkylgruppe ab. Die Steigung von log CMC gegen die Zahl der Kohlenstoffatome in der Alkylkette ist nahezu gleich derjenigen, die für nichtionischegrenzflÄchenaktive Substanzen erhalten wird, und steiler als die für ionische grenzflÄchenaktive Substanzen.
Die Logarithmen der Assoziationszahlen steigen linear mit der Zahl der Kohlenstoffatome in der Alkylgruppe. Der Anstieg der erhaltenen Geraden ist grö\er als für ionische ZusÄtze.
Eine kurze Diskussion dieses Verhaltens ist gegeben.
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Tori, K., Kuriyama, K. & Nakagawa, T. Colloid chemical properties of ampholytic surfactants. Kolloid-Z.u.Z.Polymere 191, 48–52 (1963). https://doi.org/10.1007/BF01499362
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