Zusammenfassung
Mit dem Elektronenmikroskop lassen sich bei der Abbildung orientiert verwachsener MoS2-Kristallschichten Kristall-Moirés erzielen. Im Hinblick auf die Möglichkeit, aus dem Moiré Informationen über Gitterfehler und Kristallverzerrungen zu erhalten, wird diskutiert, wie das Moiré von übereinanderliegenden, ungestörten Kristallschichten aussehen kann. Die elektronenmikroskopischen Aufnahmen weisen tatsächlich eine große Anzahl Intensitätsverteilungen auf, die von solchen ungestörten Kristallschichten herrühren können. Die Bilder zeigen, in welchem Maße das Aussehen des Moirés von der Orientierung der Kristalle bezüglich des einfallenden Elektronenstrahls und damit von den speziellen Interferenzbedingungen abhängt.
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Max von Laue zum achtzigsten Geburtstag gewidmet.
D 188.
Ich danke Herrn Professor Dr. K.Molière, in dessen Abteilung diese Arbeit durchgeführt wurde, und Herrn Privatdozent Dr. H.Niehrs recht herzlich für ihr Interesse und für anregende Diskussionen. Herr Professor Dr. E.Ruska stellte mir einen Arbeitsplatz am Elektronenmikroskop zur Verfügung; ihm und seinen Mitarbeitern danke ich für ihre freundliche Unterstützung. Nicht zuletzt gilt mein Dank Herrn Professor Dr. K.Plieth und Herrn K.Ross für die Überlassung der Substanz.
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Stabenow, J. Elektroneninterferenzen an übereinanderliegenden Kristallschichten. Z. Physik 156, 503–521 (1959). https://doi.org/10.1007/BF01461244
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DOI: https://doi.org/10.1007/BF01461244