Ein Biprisma-Interferometer für Elektronenwellen und seine Anwendung

Zusammenfassung

Zwischen den beiden Teilbündeln eines elektronenoptischen Biprisma-Interferometers wird durch ein stufenförmiges Phasenobjekt ein Gangunterschied hervorgerufen. Aus der Verschiebung der Interferenzstreifen kann der elektronenoptische Brechungsindex und damit das innere Potential des Objektmaterials ermittelt werden. Im Interferometer können die Messungen bei geringer Objektbelastung und an einer großen Anzahl von Interferenzstreifen durchgeführt werden.

Das Phasenobjekt besteht aus einer Trägerfolie, auf die eine gleichmäßige Grundschicht und eine Stufenschicht im Hochvakuum aufgedampft worden sind. Das durch eine netzförmige Schablone erzeugte Stufenmuster bewirkt im Interferogramm eine sich periodisch wiederholende Verschiebung des Interferenzstreifen-systems. Als Trägerfolie eignet sich besonders eine aufgedampfte Kohlefolie. Sind die Stufen ohne Grundschicht auf den Träger aufgedampft, so wird das Interferogramm durch die Kontaktspannung zwischen den beiden Materialien verändert. Dies wird an den Materialpaaren Kohle-Kupfer und Silber-Kupfer demonstriert.

Die gemessenen inneren Potentiale von aufgedampfter Kohle, Al, Cu, Ag und Au waren von der Dicke der Objekte, der Beschleunigungsspannung, der Intensität und Dauer der Bestrahlung während des Meßvorganges im Interferometer nicht abhängig, bei Ag und Au jedoch von der Aufdampfgeschwindigkeit. Eine wesentlich stärkere Objektbelastung als die bei den vorliegenden Untersuchungen im Interferometer verwandte kann zu Änderungen des inneren Potentials führen.