Zusammenfassung
Zwei räumlich getrennte Teile eines deformierten Einkristalls werden nacheinander von einem Elektronenstrahl durchsetzt. Durch Kristallgitterreflexion entstehen zwei kohärente Teilstrahlen, die miteinander interferieren. Die Interferenzfiguren werden in elektronenmikroskopischer Hellfeld- und Dunkelfeldabbildung gezeigt, ihre Entstehung wird gedeutet. Im Anhang wird ein Verfahren zur Bestimmung der Achsen des im Elektronenmikroskop beobachteten Einkristalls beschrieben.
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Hauptteil einer am 7. Mai 1952 der Technischen Hochschule Darmstadt vorgelegten Dissertation (D 87), vorgetragen auf der 4. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie 1952 in Tübingen. Der erste Teil wurde bereits an anderer Stelle veröffentlicht [1].
Die vorliegende Arbeit entstand in den Süddeutschen Laboratorien in Mosbach. Ich danke den Firmen AEG und Zeiß-Opton für die Bereitstellung der Mittel und für die Erlaubnis zur Durchführung der Versuche.
Herrn ProfessorScherzer, der die Untersuchung angeregt hat, gilt mein besonderer Dank für viele wertvolle Hinweise und für das rege Interesse, das er der Arbeit entgegenbrachte.
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Rang, O. Fern-Interferenzen von Elektronenwellen. Z. Physik 136, 465–479 (1953). https://doi.org/10.1007/BF01343455
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