Über die Lichtzerstreuung in Quarz und festen amorphen Stoffen, welche die Gruppe SiO₂ enthalten

Zusammenfassung

Es wurden Streuspektren von Quarz, Quarzglas und Glas (Kron und Flint) untersucht. In Quarzglas und Glas ist eine verschobene Lichtzerstreuung beobachtet worden. Beim Quarz sind außer den schon bekannten noch schwache,λ 19,9 und 8,2μ entsprechende, und sehr schwache,λ 31,3, 19,0, 17,1, 15,8, 13,4, 10,6, 9,8λ entsprechende, verschobene Linien aufgefunden worden. Es hat sich gezeigt, daß bei amorphen, die Gruppe SiO₂ enthaltenden Stoffen die für kristallinischen Quarz eigentümlichen Linien als verwaschene Streifen auftreten.