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Spektrochemische Bestimmung von 18 Spurenelementen in Silicium

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Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie Aims and scope Submit manuscript

Zusammenfassung

Es wird ein spektralanalytisches Verfahren zur quantitativen Bestimmung von 18 Spurenelementen (Al, As, Au, B, Ba, Ca, Co, Cu, Fe, In, Mg, Ni, Pb, Sb, Sn, Ti, W, Zn) in Silicium mitgeteilt. Der Materialbedarf ist sehr gering (10 mg Siliciumpulver), und die Empfindlichkeit der quantitativen Bestimmungsmethode erreicht die Grenzen der spektrographischen Nachweisbarkeit (5 · 10−7 bis 5 · 10−3 g Verunreinigung/g Silicium).

Die 18 Spurenelemente können gleichzeitig mit einer einzigen Spektralaufnahme bestimmt werden.

Bei der Analyse wird das zu prüfende Silicium in Pulverform untersucht. Das feingepulverte Silicium wird in die Bohrung einer Spektralkohlenelektrode eingeführt und mit einem Wechselstromabreißbogen in einer Argon-Schutzgasatmosphäre angeregt.

Zur Auswertung der Analyse wurden pulverförmige Vergleichstandards hergestellt und allgemeine Arbeitskurven angewandt.

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Authors and Affiliations

  1. Forschungsinstitut für Fernmeldetechnik, Budapest, Ungarn

    L. Vecsernyés

Authors
  1. L. Vecsernyés
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Additional information

Der Verfasser sagt aufrichtigen Dank seinen Mitarbeitern: Frau V. Juvancz für die chemische Analyse der Standardlegierungen, Herrn V. Zombori für die Überlassung des hochreinen Siliciums und Frau E. Töreki für ihre Hilfe bei den Messungen.

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Vecsernyés, L. Spektrochemische Bestimmung von 18 Spurenelementen in Silicium. Z. Anal. Chem. 182, 429–435 (1961). https://doi.org/10.1007/BF00457301

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