Zusammenfassung
Das Transmissionselektronenmikroskop (TEM) stellt ein wichtiges Hilfsmittel für werkstoffkundliche Untersuchungen dar. Es ermöglicht die direkte Beobachtung von linien- und flächenförmigen sowie räumlichen Gitterstörungen wie Versetzungen, Stapelfehlern, Zwillingen, Korngrenzen und Ausscheidungen in interessierenden Werkstoffbereichen. Dazu sind von diesen durch geeignete Präparationsschritte hinreichend dünne Folien (d < 0,1 μm) anzufertigen, die von Elektronen mit Energien > 100 keV durchstrahlt werden können.
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Weiterführende Literatur
Heimendahl, M. v.: Einführung in die Elektronenmikroskopie, Vieweg, Braunschweig, 1970
Thomas, G.; Goringe, M. J.: Transmission Electron Microscopy of Materials, Wiley & Sons, New York, 1979
Bauer, H.-D.: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie, Akademie-Verlag, Berlin 1986
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Macherauch, E., Zoch, HW. (2011). Transmissionselektronenmikroskopie von Werkstoffgefügen. In: Praktikum in Werkstoffkunde. Vieweg+Teubner. https://doi.org/10.1007/978-3-8348-9884-5_19
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DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-8348-9884-5_19
Publisher Name: Vieweg+Teubner
Print ISBN: 978-3-8348-0343-6
Online ISBN: 978-3-8348-9884-5
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