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Messung Statischer Kennwerte

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Transistormeßtechnik
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Zusammenfassung

Die im Abschn. 1.1 erläuterten statischen Kennwerte werden vom Hersteller zum Teil als Grenzwerte im Sinne maximal zulässiger Werte, aber auch als typische Werte angegeben. Während die Grenzwerte infolge fehlender näherer Meßbedingungen im allgemeinen für eine Überprüfung ausscheiden, ist die Kenntnis typischer Werte von größerem Interesse. Unabhängig davon, welche Kennwerte im speziellen Fall Bedeutung haben, wird nachfolgend eine Zusammenstellung der sich im Lauf der Zeit als zweckmäßig herausgebildeten Meßverfahren [7.6] [7.12] für diese Kennwerte gegeben. Sie erstrecken sich auf die Kennlinienfelder allgemein, die Durchbruch und Durchgreifspannungen, die Restströme, die Rest und Sättigungsspannung, die Stromverstärkungen im aktiven normalen Betrieb und die Bahnwiderstände r E E und r C C [2.7], soweit es sich um die Gleichstromwerte handelt.

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Literaturverzeichnis

  1. Kramer, S.; Wheeler, R.: Characteristic Tracer for Power Transistors. Electronic Ind. and Tele-Techn. 15 (1956) H.9, 58.

    Google Scholar 

  2. Young, J. F.: A Transistor Characteristic Curve Tracer. Electron. Engng. 31 (1959) 330–336.

    Google Scholar 

  3. Mathis, V. P.; Schaffner, J. S.: Quick Evaluation of Junction Transistor Characteristics by Oscilloscopic Display. IRE. Cony. Rec. 1 pt. 9 (1953) 72.

    Google Scholar 

  4. Golden, N.; Nielsen, R.: Oscilloscopic Display of Transistor Static Electrical Characteristics. Proc. IRE. 40 (1952) 1437.

    Article  Google Scholar 

  5. Cooper, B.J.: The Measurement of Transistor Voltage Current Characteristics Using Pulse Techniques. Electr. Engng. 30 (1958) 440.

    Google Scholar 

  6. Sylvan, T. B.: A Transistor dc-ac beta Tester. Electronic Ind. 17 (1958) H.10, 90–92.

    Google Scholar 

  7. Kulke, B.; Miller, S.L.: Accurate Measurement of Emitter and Collector Series Resistance in Transistors. Proc. IRE. 45 (1957) 90.

    Google Scholar 

  8. Ewels, J.: The Measurement of Transistor Characteristics. Electr. Engng. 26 (1954) 313 u. 314.

    Google Scholar 

  9. Breslow, D. H.: Measuring Parameters by Power Transistor Pulse Techniques. Electronics 34 (1961) H.1, 120–122.

    Google Scholar 

  10. Weinheimer, R.: Ein Zweifach-Kennlinienschreiber für Transistoren. Radio-Mentor 28 (1962) 114–120.

    Google Scholar 

  11. Gerätebeschreibung „Transivar I“, „Transivar 2“, VEB Funkwerk Erfurt.

    Google Scholar 

  12. Jones, D.: Checking dc-Parameters of Transistors Electr. Ind. and Tele-Techn. 15 (1956) H.10, 56–58, 82, 84, 86, 89, 90.

    Google Scholar 

  13. Jochems, P. J. W.; Stieltjes, F. H.: Eine Meßanlage für Transistoren. Phil. Techn. Rundsch. 13 (1952) 208–220.

    Google Scholar 

  14. Vojtasek, S.; Ilberg, J.: Osciliskopické snimani charakteristik tranzistorů. Slab. Obz. 19 (1958) 201–208.

    Google Scholar 

  15. Gruner, H. C.: Einfacher Treppengenerator für Transistormessungen. Radio und Fernsehen 5 (1956) 149u. 150.

    Google Scholar 

  16. Cermak, J.: Vlastonosti a vyýýznam zbytkoweho proudu plošnych tranzistorůl. Sdél. techn. 6 (1958) H.2, 66–69.

    Google Scholar 

  17. Jäger, A.: Meßverfahren für Großsignalkenngrößen. Nachrichtentechnischer Fachbericht, Bd.27, 45–49.

    Google Scholar 

  18. Hagmeister, H.: Zerstörungsfreie Prüfung des Schaltverhaltens von Transistoren. Elektronik 9 (1960) 262–264.

    Google Scholar 

  19. Weber, H.: Schnellprüfung von Transistoren mit dem Transistortester. Elektronik 6 (1957) 269.

    Google Scholar 

  20. Gerätebeschreibung. Funktechnik 12 (1957) 553.

    Google Scholar 

  21. Tube-transistor Tester. Radio and Telev. News. 52 (1958) H.10, 159.

    Google Scholar 

  22. Zarr, E.: Transistor Tester. Radioand Telev. News. 53 (1959) H.1, 57.

    Google Scholar 

  23. Transistorprüfung in der Betriebsschaltung mit dem Transistortester „TT 1A“. Radioschau 13 (1963) H.2, 63.

    Google Scholar 

  24. Transistor Tester. ETZ B 12 (1960) H.3, 68.

    Google Scholar 

  25. A Transistor Curve Tracer. Electronic Engng. 32 (1960) 384.

    Google Scholar 

  26. Kreibich, H.: Die Prüfung von Dioden und Transistoren mit einem Oszillografen. Radioschau 12 (1962) H.3. 104u. 105.

    Google Scholar 

  27. Huneck, M.: Leistungstransistor Tester. Radio und fernsehen 12 (1963) 535 u. 536.

    Google Scholar 

  28. O’Neill, B.J.; Gutterman, A.: Methods and Equipments for Transistor Testing. Electronics. 26 (1953) H.7, 172–175.

    Google Scholar 

  29. Bailey, R. A.: A Versatile Transistor Tester. Electronic Engng. 27 (1955) 64–69.

    Google Scholar 

  30. Kocsis, M.: Zusammenhang zwischen inhomogener Basisdicke und Zerstörung des legierten Transistors. Tungsram Techn. Mitt. Nr.8 (1963) 3–21.

    Google Scholar 

  31. Frye, F.: Five New Transistor Checkers. Radio-Electronics (1958) H.3, 47.

    Google Scholar 

  32. Smith, D.P.: Check Transistor with your Scope. Radio-Electronics 34 (1963) H. 5, 32–34.

    Google Scholar 

  33. Zima, S.: Mèfic charakteristik elektronek a tranzistorů. Sděl. techn. 7 (1959) 302.

    Google Scholar 

  34. Telefunken : Laborbuch Bd. 2. München: Francis-Verlag 1961 (Beurteilung der Transistorgüte, S.197).

    Google Scholar 

  35. Ludwig, J.: Messung charakteristischer Größen an Silizium-Leistungstransistoren. IHT Mitt. 1 (1962) H.4, 84–88.

    Google Scholar 

  36. Dietrich, W.: Der Blauschreiber — ein neues Gerät zum Aufzeichnen nichtperiodischer Vorgänge. NTZ 9 (1956) 504.

    Google Scholar 

  37. Hazman, I.: Bemerkungen zum Reststrom des Flächentransistors. Tungsram Techn. Mitt. Nr.5–6 (1962) 220–225.

    Google Scholar 

  38. Sommerfield, E. H.: Simple Transistor Tester Uses Lamp for Indicator. Electronics 34 (1961) H.36, 80.

    Google Scholar 

  39. Tarnick, U.; Denda, W.: Messungen an unverkappten Transistoren. Radio und fernsehen 11 (1962) 73 u. 74.

    Google Scholar 

  40. Spany, V.: Oszillografie des Stromverstärkungsfaktors von Transistoren. Elektronik 11 (1962) 335 u. 336.

    Google Scholar 

  41. Gooder, A. W.; Potok, M. H.: A Valve and Transistor Characteristic Tracer. Electronic Engng. 35 (1963) 722–725.

    Google Scholar 

  42. Prewett, J. N.: Transistor Test Set. Wireless World 64 (1958) 369–372.

    Google Scholar 

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Paul, R. (1966). Messung Statischer Kennwerte. In: Transistormeßtechnik. Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden. https://doi.org/10.1007/978-3-663-02740-9_4

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