Ziel
Wir wollen uns nun mit der Abbildung von Strukturen beschäftigen, deren Größen im Bereich der Auflösungsgrenze des Transmissionselektronenmikroskops liegen. Die Atomabstände in den Kristallgittern sind in dieser Größenordnung. Auch die Untersuchung von Korngrenzen und anderen Grenzflächen auf atomarer Skala gehört dazu. Wir wollen aber auch die Effekte bedenken, die bei der hochvergrößerten und hochaufgelösten Abbildung amorpher Materialien auftreten.
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Notes
- 1.
Erwin Schrödinger, österreichischer Physiker, 1887–1961, Nobelpreis für Physik 1933.
- 2.
Max Planck, deutscher Physiker, 1858–1947, Nobelpreis für Physik 1918, gilt als Begründer der Quantenphysik.
- 3.
Seishi Kikuchi, japanischer Physiker, 1902–1974.
- 4.
Carl Friedrich Gauß, deutscher Mathematiker und Physiker, 1777–1855.
- 5.
William Henry Bragg und William Lawrence Bragg: australisch/englische Physiker (Vater und Sohn), 1862–1942 bzw. 1890–1971, Nobelpreis für Physik 1915.
- 6.
Otto Scherzer, deutscher Physiker und Elektronenoptiker, 1909–1982.
- 7.
Joseph Fourier, französischer Mathematiker, 1768–1830.
- 8.
Thomas Young, englischer Universalgelehrter, 1773–1829.
- 9.
Hans Boersch, deutscher Physiker, 1909–1986.
- 10.
Hendrik Antoon Lorentz, niederländischer Mathematiker und Physiker, 1853–1928, Nobelpreis für Physik 1902.
- 11.
Wilhelm Wien: deutscher Physiker, 1864–1928, Nobelpreis für Physik 1911.
Literatur
Stadelmann, P.: EMS – a software package for electron diffraction analysis and HREM image simulation in materials science. Ultramicroscopy 21, 131–146 (1987), benutzte Java-EMS-Version: 6.6201U2011
Williams, D.B., Carter, C.B.: Transmission Electron Microscopy A Textbook for Materials Science, S. 498. Springer, New York (2009)
Barthel, J., Thust, A.: Quantification of the information limit of tranmission electron microscopes. Phys. Rev. Lett. 101, 200801-1–200801-4 (2008)
Möbus, G., Phillipp, F., Gemming, T., Schweinfest, R., Rühle, M.: Quantitative diffractometry at 0.1 nm resolution for testing lenses and recording media of a high-voltage atomic resolution microscope. J. Electron Microsc. 46(5), 381–395 (1997)
Rose, H.: Correction of aberrations, a promising means for improving the spatial and energy resolution of energy-filtering electron microscopes. Ultramicroscopy 56, 11–25 (1994)
Haider, M., Uhlemann, S., Schwan, E., Rose, H., Kabius, B., Urban, K.: Electron microscopy image enhanced. Nature 392, 768–769 (1998)
Zemlin, F., Weiss, K., Schiske, P., Kunath, W., Herrmann, K.-H.: Coma-free alignment of high resolution electron microscopes with the aid of optical diffractograms. Ultramicroscopy 3, 49–60 (1978)
Urban, K., Jia, C.-L., Houben, L., Lentzen, M., Mi, S.-B., Tillmann, K.: Negative spherical aberration ultra-high resolution imaging in corrected transmission electron microscopy. Phil. Trans. R. Soc. A 367, 3735–3753 (2009)
Haider, M., Müller, H., Uhlemann, S., Zach, J., Loebau, U., Hoeschen, R.: Prerequisites for a \( \rm C_C / C_S \)-corrected ultrahigh-resolution TEM. Ultramicroscopy 108, 167–178 (2008)
Hosokawa, F., Sawada, H., Kondo, Y., Takayanagi, K., Suenaga, K.: Development of \( \rm C_S \, and \, C_C \) correctors for transmission electron microscopy. Microscopy 62(1), 23–41 (2013)
Hartel, P.: Instruction Manual CETCOR, Spherical Aberration Corrector for Transmission Electron Microscopes, Version 2.1.5, Sept. (2005)
Thomas, J., Worch, H., Kruppke, B., Gemming, T.: Contribution to understand the biomineralzation of bones. J. Bone Miner. Metab. 38, 456–468 (2020)
Möbus, G., Schweinfest, R., Gemming, T., Wagner, T., Rühle, M.: Iterative structure retrieval techniques in HREM: a comparative study and a modular program package. J. Microsc. 190(1/2), 109–130 (1998)
Thust, A., Lentzen, M., Urban, K.: Non-linear reconstruction of the exit plane wave function from periodic high-resolution electron microscopy images. Ultramicroscopy 53, 101–120 (1994)
Thust, A., Coene, W.M.J., Op de Beek, M., Van Dyck, D.: Focal-series reconstruction in HRTEM: simulation studies on non-periodic objects. Ultramicroscopy 64, 211–230 (1996)
Lichte, H., Lehmann, M.: Electron holography – basics and applications. Rep. Prog. Phys. 71, 1–46 (2008)
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Thomas, J., Gemming, T. (2023). Wir erhöhen die Vergrößerung. In: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie. Springer Spektrum, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-66723-1_7
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Publisher Name: Springer Spektrum, Berlin, Heidelberg
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Online ISBN: 978-3-662-66723-1
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