Ziel
Ein großer Vorteil des Transmissionselektronenmikroskops ist es, dass auf einfache Weise zwischen Abbildung und Beugung sehr kleiner Strukturen in einer dünnen Probe umgeschaltet werden kann. Dadurch wird die Zuordnung von morphologischen und kristallografischen Materialeigenschaften möglich. Wir wollen erklären, wieso überhaupt Elektronenbeugungsmuster entstehen und was an den Linsen innerhalb des Elektronenmikroskops geändert werden muss, damit dieses Umschalten zwischen Abbildung und Beugung funktioniert. Schließlich wollen wir erläutern, welche materialwissenschaftlichen Erkenntnisse aus den Beugungsmustern erhalten werden können. Dazu ist es notwendig, einige kristallografische Grundkenntnisse zu vermitteln.
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Notes
- 1.
Wilhelm Conrad Röntgen, deutscher Physiker, 1845–1923, Nobelpreis für Physik 1901 (erster Physik-Nobelpreis).
- 2.
Arnold Sommerfeld, deutscher Physiker, 1868–1951.
- 3.
Max von Laue, deutscher Physiker, 1879–1960, Nobelpreis für Physik 1914.
- 4.
Walter Friedrich, deutscher Biophysiker, 1883–1968.
- 5.
Paul Knipping, deutscher Physiker, 1883–1935.
- 6.
Clint Davisson, amerikanischer Physiker, 1881–1958.
- 7.
Lester H. Germer, amerikanischer Physiker, 1896–1971.
- 8.
William Henry Bragg und William Lawrence Bragg: australisch/englische Physiker (Vater und Sohn), 1862 – 1942 bzw. 1890 – 1971, Nobelpreis für Physik 1915.
- 9.
Frederic Pearson Treadwell, amerikanisch-schweizer Chemiker, 1857–1918.
- 10.
Ralph Walter Graystone Wyckoff, amerikanischer Kristallograph, 1897–1994.
- 11.
William Hallowes Miller, britischer Kristallograph, 1801–1880.
- 12.
Hans Boersch, deutscher Physiker, 1909–1986.
- 13.
Seishi Kikuchi, japanischer Physiker, 1902–1974, entdeckte und erklärte 1928 die beschriebenen Bänder.
- 14.
Leonhard Euler, schweizer Mathematiker, 1707–1783.
- 15.
Paul Peter Ewald, deutscher Physiker, 1888–1985.
- 16.
Erwin Schrödinger, österreichischer Physiker, 1887–1961, Nobelpreis für Physik 1933.
Literatur
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Thomas, J., Gemming, T. (2023). Wir schalten um auf Elektronenbeugung. In: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie. Springer Spektrum, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-66723-1_5
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Publisher Name: Springer Spektrum, Berlin, Heidelberg
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