Ziel
Transmissionselektronenmikroskopie wird in der Regel gleichgesetzt mit moderner Gerätetechnik, Elektronenoptik auf dem neuesten Stand, Interpretation neuartiger Ergebnisse; auch über Sinn und Zweck des Ganzen wird diskutiert. Bei Neueinrichtung eines elektronenmikroskopischen Labors ist aber unbedingt zu beachten, dass für die Transmissionselektronenmikroskopie geeignete dünne Proben benötigt werden und die Präparation solcher Proben alles andere als einfach und selbstverständlich ist. Dieses Kapitel gibt einen Überblick über geeignete Präparationsmethoden.
Access this chapter
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Notes
- 1.
Charles Augustin de Coulomb, französischer Physiker, 1736–1806.
- 2.
Supraleiter leiten den elektrischen Strom unterhalb einer Sprungtemperatur ohne elektrischen Widerstand. Bei klassischen Supraleitern (Metallen) liegt diese Temperatur bei wenigen K. Bei Hochtemperatur-Supraleitern liegt sie deutlich höher, z. B. oberhalb von \(77~\textrm{K} = -196\,^{\circ }\)C (Temperatur von flüssigem Stickstoff).
- 3.
Helmut Ruska, deutscher Mediziner, 1908–1973, Bruder von Ernst Ruska.
Literatur
Lang, G.: Histotechnik – Praxislehrbuch für die biomedizinische Analytik. Springer, Wien (2006)
Allen, T.D. (Hrsg.): Introduction to Electron Microscopy for Biologists. Academic Press, Elsevier Inc. (2008)
Ruska, H., v. Borries, B., Ruska, E.: Die Bedeutung der Übermikroskopie für die Virusforschung. Arch. ges. Virusforsch. 1, 155–169 (1939). https://doi.org/10.1007/BF01243399
Bethge, H.: Oberflächenstrukturen und Kristallbaufehler im elektronenmikroskopischen Bild, untersucht am NaCl. Phys. Status Solidi (b) 2, 3–27 und 775–820 (1962)
Galetzka, W., Gnägi, H., Godehardt, R., Lebek, W., Michler, G.H., Vastenhout, B.: Ultramikrotomie in der Materialforschung. Hanser, München (2004)
McCaffrey, J.P.: Small-angle cleavage of semiconductors for transmission electron microscopy. Ultramicroscopy 38, 149–157 (1991)
Benedict, J., Anderson, R., Klepeis, S.J.: Recent developments in the use of the tripod polisher for TEM specimen preparation. Specimen preparation for transmission electron microscopy of materials-III. MRS Sympos. Proc. 254, 121–140 (1992). https://doi.org/10.1557/PROC-254-121
Kirchner, A., Thomas, J., Gutfleisch, O., Hinz, D., Müller, K.-H., Schultz, L.: HRTEM studies of grain boundaries in die-upset Nd-Fe-Co-Ga-B magnets. J. Alloys Compd. 365, 286–290 (2004)
Author information
Authors and Affiliations
Corresponding author
Rights and permissions
Copyright information
© 2023 Der/die Autor(en), exklusiv lizenziert an Springer-Verlag GmbH, DE, ein Teil von Springer Nature
About this chapter
Cite this chapter
Thomas, J., Gemming, T. (2023). Wir präparieren elektronentransparente Proben. In: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie. Springer Spektrum, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-66723-1_3
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-662-66723-1_3
Published:
Publisher Name: Springer Spektrum, Berlin, Heidelberg
Print ISBN: 978-3-662-66722-4
Online ISBN: 978-3-662-66723-1
eBook Packages: Life Science and Basic Disciplines (German Language)