Zusammenfassung
Da die Wellenlänge der Röntgenstrahlen und die Gitterparameter der Kristalle von der gleichen Größenordnung sind, können die Röntgenstrahlen an Kristallgittern gebeugt werden. Dieser 1912 von Max von Laue entdeckte Beugungseffekt begründete die moderne Kristallographie. Erst von diesem Zeitpunkt an war es möglich, die Strukturen der Kristalle zu bestimmen. Das Prinzip der Auswertung von Beugungslinien von Kristallpulvern wird anhand des Debye-Scherrer-Verfahrens erläutert. Zum einfacheren Verständnis der Beugungsphänomene wird das reziproke Gitter eingeführt.
This is a preview of subscription content, log in via an institution to check access.
Access this chapter
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Notes
- 1.
Enthält nur Röntgenlicht einer bestimmten Wellenlänge \(\lambda\).
- 2.
Moderne Verfahren verwenden keinen Film mehr, sondern die abgebeugten Intensitäten werden elektronisch registriert, entweder mit einem Punkt-, einem eindimensionalen oder mit einem Flächendetektor.
- 3.
Bezieht man sich auf die dem Ursprung nächstgelegene Netzebene, so ist \(h=\frac{1}{m};\) \(k=\frac{1}{n};\) \(l=\frac{1}{p}\). Wird die ganze Netzebenenschar berücksichtigt, so besteht nur Proportionalität.
- 4.
In Tab. 13.1 fällt auf, dass als Reflexe 200, 220, 222 und 400 vorkommen, die im Widerspruch zur Definition der Millerschen Indizes stehen (kleinste ganzzahlige Vielfache der reziproken Achsenabschnitte). Es sind die mit der Zahl \(n\) (Ordnung der Interferenz) multiplizierten Millerschen Indizes. Beispielsweise ist 200 die 2. Ordnung der Reflexion an (100). Man nennt die mit \(n\) multiplizierten Tripel \(hkl\) auch Laue-Symbole (Indizes) und schreibt sie ohne runde Klammer. Aus diesem Grund ist in der oberen Gleichung das \(n\) der Braggschen Gleichung nicht berücksichtigt.
- 5.
Der Proportionalitätsfaktor \(C\) ist für die Erstellung der Zeichnungen notwendig.
Author information
Authors and Affiliations
Corresponding author
Rights and permissions
Copyright information
© 2018 Springer-Verlag Berlin Heidelberg
About this chapter
Cite this chapter
Borchardt-Ott, W., Sowa, H. (2018). Röntgenographische Untersuchungen an Kristallen. In: Kristallographie. Springer-Lehrbuch. Springer Spektrum, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-56816-3_13
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-662-56816-3_13
Published:
Publisher Name: Springer Spektrum, Berlin, Heidelberg
Print ISBN: 978-3-662-56815-6
Online ISBN: 978-3-662-56816-3
eBook Packages: Life Science and Basic Disciplines (German Language)