Zusammenfassung
Im Transmissionselektronenmikroskop durchdringen hochbeschleunigte Elektronen eine dünne Festkörperlamelle und erleiden infolge inelastischer Streuung an den Elektronenhüllen spezifische Energieverluste, welche von der Zusammensetzung, vom kristallinen Aufbau und von den Bindungsverhältnissen im Festkörper abhängen. Bei der energiegefilterten Abbildung werden zur Bilddarstellung nur Elektronen aus einem spezifischen Energiefenster genutzt. Damit lassen sich Elementverteilungsbilder („Mappings“) erzeugen.
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Bauch, J., Rosenkranz, R. (2017). EFTEM - Energiegefilterte Transmissionselektronenmikroskopie. In: Physikalische Werkstoffdiagnostik. Springer Vieweg, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-53952-1_5
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