Zusammenfassung
Bei der optischen Rasternahfeldmikroskopie gelingt es, das in der Lichtmikroskopie geltende Abbe-Auflösungslimit durch eine spezielle Messanordnung zu unterschreiten. Das Licht wird durch eine hohle Messspitze geleitet, welche am Ende eine mikroskopische Apertur besitzt. Die Probe wird wenige Nanometer entfernt von der Austrittsstelle des Lichts positioniert. Das reflektierte oder transmittierte Licht gelangt in einen hochempfindlichen Detektor, dessen Ausgangssignal zur Bilddarstellung benutzt wird.
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Bauch, J., Rosenkranz, R. (2017). SNOM - Optische Rasternahfeldmikroskopie. In: Physikalische Werkstoffdiagnostik. Springer Vieweg, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-53952-1_2
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