Zusammenfassung
Das Raster-Elektronenmikroskop ist ein speziell dafür neu entwickeltes Instrument, kleinste Bereiche eines beliebigen Festkörpers zu vergrößern und auf einem Oszillographenbildschirm darzustellen.
Vortrag gehalten am 25. Oktober 1966 anläßlich des 3. Kolloquiums über metallkundliche Analyse unter besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl-Mikroanalyse in Wien.
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© 1967 Springer-Verlag Wien
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Kimoto, S., Hantsche, H. (1967). Prinzip und Anwendungsmöglichkeiten von zwei neuen elektronenoptischen Geräten: Raster-Elektronenmikroskop und Röntgenanalysator mit Elektronenstrahlanregung. In: Zacherl, M.K. (eds) Drittes Kolloquium über metallkundliche Analyse mit besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl-Mikroanalyse Wien, 25. bis 27. Oktober 1966. Mikrochimica Acta. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-38498-5_21
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