Zusammenfassung
Im Röntgen-Mikro-Spektralanalysator werden die in einer Probe vorhandenen chemischen Elemente mit Hilfe der relativ linienarmen Röntgenemissionsspektren identifiziert. Diese entstehen beim Auftreffen elektromagnetisch fokussierter Primärelektronenstrahlung und werden mit Hilfe mehrerer fokussierender Spektrometer analysiert. In der Regel kommt man mit Strahlspannungen bis 50 kV aus. Angeregt werden Probenoberflächenbereiche mit einem Durchmesser von 0,2 bis 3000 μm.
Vortrag anläßlich des Kolloquiums über metallkundliche Analyse mit besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl-Mikroanalyse, Wien, 25. bis 27. Oktober 1966.
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Literatur
B. V. Adams, H. Rawson, D. G. Fisher und P. Worthington, Glass Techn. 7, 98 (1966).
AEI (Sunvic Regler GmbH., Solingen) 2. Druckschrift 60-04-1010.
ARL (Glendale, California) AMX Analyst’s microprobe X-Ray analyzer. EMX-Electron Microprobe X-Ray analyzer.
I. S. Birks, Electron Probe Microanalysis. New York: Interscience. 1963.
F. Brech, Laser Focus 1, 5 (1965).
Cameca (Courbevoie, Seine): Microsonde Type 46 DL, Notice Technique, Janvier 1966.
J. Debras-Guédon und N. Liodec, Bull. soc. franc. Céram. 61, 61 (1963).
F. H. Dörr, Glastechn. Ber. 39, 141 (1966).
A. Felske, W. D. Hagenah und K. Laqua, Analyt. Chem. 216, 61 (1966).
H. M. Goldman, M. P. Ruben und D. Sherman, Oral Surgery 17, 102 (1964).
W. D. Hagenah, Z. angew. Math. u. Physik 16, 130 (1965).
Jarrell Ash Co. Waltham USA: Technical Bulletin SP 1 (1966).
JEOL, Tokio: Electron probe X-ray microanalyzer JXA-3A. Druckschrift 65 12389-E4Tp.
Jenoptik Jena GmbH.: Laser-Mikro-Spektralanalysator LMA 1. Druckschrift 32-K372-1.
A. A. Karyakin, M. V. Achmanova und V. A. Kaigorodov, XII. Coll. Spectr. Internat. Exeter, London 1965, S. 353.
Ch. Löffler und J. Löffler, Glast. Ber. 39, 333 (1966).
H. Malissa und H. H. Arlt, Radex-Rundschau 1964, 204.
J. A. Maxwell, Canad. Mineralogist 7, 727 (1963).
H. Moenke, Proc. Analyt. Chem. Conf. Budapest 1966, Vol. III, 219.
H. Moenke und L. Moenke-Blankenburg, Prakt. Chem. [Wien] 16, 225 (1965).
H. Moenke und L. Moenke-Blankenburg, Einführung in die Laser-Mikro-Emissionsspektralanalyse. Leipzig: Akad. Verlagsges. Geest & Portig, 1966.
Philips Electronic Instr. (Mount Vernon, N.Y.): Norelco electron probe microanalyzer. Druckschrift RC399-Rev. 363-2 MF.
S. D. Rasberry, B. F. Scribner und M. Margoshes, XII. Coll. Spectr. Internat. Exeter, London 1965, 336.
R. C. Rosan, F. Brech und D. Glick, Federation Proc. 24 Suppl. 14, 126 (1965).
E. F. Runge, R. W. Minck und F. B. Bryan, Spectrochim. Acta 20, 733 (1964).
J. R. Ryan, E. Ruh und C. B. Clark, Amer. Ceram. Soc. Bull. 45 260 (1966).
K. Wohlleben, H. Woelk und K. Konopicky, Glastechn. Ber. 39, 329 (1966).
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Moenke, H. (1967). Vergleichende Betrachtung über Elektronenstrahl-Mikroanalyse und Laser-Mikro-Spektralanalyse. In: Zacherl, M.K. (eds) Drittes Kolloquium über metallkundliche Analyse mit besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl-Mikroanalyse Wien, 25. bis 27. Oktober 1966. Mikrochimica Acta. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-38498-5_10
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