Zusammenfassung
Auf dem Gebiet der Elektronenstrahl-Mikroanalyse sind die Grundlagen des Vert der Gerätetechnik längst zur Selbstverständlichkeit geworden. Im Mittelpunkt des steht heute vielmehr die schnelle und sichere Lösung der anfallenden Analysenprohk ist weniger der eigentliche Meßvorgang von Bedeutung — die reine Mel3zeit ist gering —, sondern die schnelle und sichere Geräteeinstellung durch entsprechende Btechnik. Voraussetzung hierfür ist eine kompakte und leicht überschaubare Meßanla bei der alle Bedienungselemente in Handreichweite liegen und bei der Fehlanalysen nichtfachkundiger Kräfte durch einfache Bedienung weitgehend vermieden were.
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© 1969 Springer-Verlag Berlin Heidelberg
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Jecht, U., Tögel, K. (1969). Elektronenstrahl-Mikroanalyse mit der Elmisond Arbeitstechnik und Analysemöglichkeiten. In: Möllenstedt, G., Gaukler, K.H. (eds) Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l’Optique des Rayons X et la Microanalyse. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-24778-5_35
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