Zusammenfassung
In Verbindung mit der Elektronenmikroskopie ist die Elektronenbeugung ein wichtiges Hilfsmittel, um weitere Aussagen über die Struktur der Objekte zu gewinnen. Mit den vielseitigen optischen Möglichkeiten (Feinstrahlbeugung, Feinbereichsbeugung u. a.) ist ein Elektronenmikroskop in vielen Punkten bei geeigneter Linsenerregung einer reinen Elektronenbeugungsanlage überlegen. Die Hauptanwendung der Elektronenbeugung in Zusammenhang mit elektronenmikroskopischen Untersuchungen beschränkt sich im wesentlichen auf die Ermittlung der Netzebenenabstände zur Strukturbestimmung, der Messung der Linienbreiten (Kristallitgröße) und Texturbestimmung. Viele Mikroskope enthalten auch eine Möglichkeit zur Beugung in Reflexion. Diese wird aber seltener angewandt, weil die massiven Objekte nicht unmittelbar elektronenmikroskopisch untersucht werden können, es sei denn, daß es sich um den Aufbau eines Reflexionsmikroskopes handelt. Es sollen in den folgenden Abschnitten die für derartige Untersuchungen nötigen Grundlagen kurz beschrieben werden. Für ein gründlicheres Studium sei auf die Spezialwerke über Elektronenbeugung hingewiesen (von Laue 1948, Raether 1951, 1957, Pinsker 1953, Bauer 1958).
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Literatur zu § 6
Zusammenfassende Darstellungen über Elektronenbeugung
Bauer, E.: Elektronenbeugung, Theorie, Praxis und industrielle Anwendung. München 1958.
Finch, G. J., and H. Wilman: The study of surface structures by electron diffraction. Ergebn. exakt. Naturwiss. 16, 354 (1936).
Laue, M. Von: Materiewellen und ihre Interferenzen. Leipzig 1948.
Pinsrer, Z. G.: Electron Diffraction. London 1953.
Raether, H.: Elektroneninterferenzen und ihre Anwendungen, Ergebn. exakt. Naturwiss. 24, 54 (1951).
Raether, H.: Elektroneninterferenzen. In Handbuch der Physik, Bd. 32, S. 443, 1957.
Stahl, A.: Methodik und Anwendung der Elektronenbeugung. Z. angew. Physik 3, 349 u. 382 (1951).
Einzelreferate
Boersch, H.: Berechnung von Debye-Scherrer-Diagrammen kleinster Kristalle nach der Gasinterferenzmethode. Z. Physik 119, 154 (1942).
Boswell, F. W. C.: A standard substance for precise electron diffraction measurements. Physic. Rev. 80, 91 (1950).
Bunn, C. W.: Chemical Crystallography. Oxford 1945.
Frevel, L. K.: Tabulated diffraction data for cubic isomorphs. Ind. Engng. Chem., analyt. Edit. 14, 687 (1942).
Frevel, L. K., H. W. Rinn and H. C. Anderson: Tabulated diffraction Data for tetragonal isomorphs. Ind. Engng. Chem. analyt. Edit. 18, 83 (1946).
Fürst, O., R. Glocker U. H. Richter: Die Atomanordnung des amorphen Germaniums, Z. Naturforsch. 4a, 540 (1949).
Germer, L. H.: Electron diffraction studies on thin films. III. Physic. Rev. 1, 309 (1942).
Germer, L. H. and A. H. White: Anomalous powder patterns produced by small crystals. Phys. Rev. 60, 447 (1941).
Heidenreich, R. D.: Electron reflection in MgO crystals with the electr.-micr. Physic. Rev. 62, 291 (1956).
Hull, A. W., and W. P. Davey: Graphical determination of hexagonal and tetragonal crystal structures from x-ray-data. Physic. Rev. 17, 549 (1921).
Kinder, E.: Magnesiumoxydkristalle im Elektr.-Mikr. Naturwissenschaften 31, 149 (1943).
König, H.: Struktur und Aufbau dünner Germaniumschichten Reichsber. Physik 1, 4 (1944).
Körig II.: Zur Gitterkonstanten von Al-Aufdampfschichten. Naturwissenschaften 33, 367 (1946a).
Körig, II. Gitterkonstantenbestimmung im Elektr.-Mikr. Naturwissenschaften 33, 343 (1946 b).
Körig, II. Die Gitterkonstante kleinster Kristalle. Naturwissenschaften 34, 375 (1947).
Körig, II. Experimente mit Gitterbausteinen des festen Körpers. Optik 3, 201 (1948).
Kossel, W.: Linien gleicher Dicke im Elektr.-Mikr. Naturwissenschaften 31, 323 (1943).
Lu, C., and E. W. Malenberg: ZnO smoke as a reference standard in electron wavelength calibration. Rev. sci. Instrum. 14, 271 (1943).
Matthews, H. I., and H. Wilman: Identification of materials by electron diffraction in the electr. micr. Brit. J. appl. Physics 6, 277 (1955).
Menke, W.: Artefakte in elektronenmikr. Präparaten. Z. Naturforsch. 12b, 654, 656 u. 659 (1957).
Niehrs, H.: Das Strahlungsfeld auf der Kristallrückseite bei Elektroneninterferenzen. Z. Physik 138, 570 (1954).
Raether, H.: Zur Theorie der Elektroneninterferenzen an kleineren Kristallen. Z. Physik 126, 185 (1949).
Reimer, L.: Zur Struktur von PbTe-Aufdampfschichten. Naturwissenschaften 44, 416 (1957).
Richter, H., u. O. Fürst: Das amorphe Germanium. Z. Naturforsch. 6a, 38 (1951).
Rieche, W. D.: Über ein Elektronenbeugungsgerät mit Hilfselektronenstrahl zum Erhitzen massiver Präparate. Z. wiss. Mikr. 63, 427 (1958).
Rieche, W. D., E. Ruska: Über ein Elektr.-Mikr. mit Einrichtung für Feinbereichsbeugung und Dunkelfeldabbildung durch Einzelreflexe. Z. wiss. Mikr. 63, 288 (1957).
Riedmiller, R.: Über die Struktur dünner Metallschichten. Z. Physik 102, 408 (1936).
Rühle, R.: Übersichts-und Feinstrahlbeugungsbilder an einem Elektronenmikr. mit Hilfsprojektiven. Optik 7, 267 (1950a).
Rühle, R.: Über Gesetzmäßigkeiten in Texturaufnahmen von Elektronenbeugungsbildern. Optik 7, 279 (1950b)
Wyckoff, R. W. G.: The structure of crystals. New York 1931, Suppl. 1934, u. Crystal structures, Vol. 1–3. London 1948–1953.
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Reimer, L. (1959). Elektronenbeugung. In: Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-01452-3_6
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