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Holografisch interferometrische Verformungsmessung mit dem Fourier-Transformations-Verfahren

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Zusammenfassung

Die quantitative Auswertung holografischer Interferenzmuster besteht im wesentlichen aus der punktweisen Bestimmung der Interferenzphase. Aus der Interferenzphasenverteilung und den aus der Geometrie des holografischen Aufbaus bekannten Empfindlichkeitsvektoren läßt sich punktweise das Verschiebungsfeld berechnen /1/. Das Fourier-Transformations-Verfahren /2, 3, 4/ ermoglicht eine Interferenzphasenbestimmung auch zwischen den Interferenzstreifenextrema mit hoher Genauigkeit und bietet dem Anwender die Möglichkeit, eine gezielte Störunterdrückung vorzunehmen. Im Gegensatz zu dem in /1/ vorgestellten Phase-Step-Verfahren ist hier im allgemeinen nur ein einziges Interferenzmuster zu rekonstruieren.

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  1. Roesener, K., Kreis, Th., Jüptner, W.: Holografisch interferometrische Verformungsanalyse mit dem Phase-Step-Verfahren Proc. Laser 87 Conf., Springer-Verlag (1987)

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© 1987 Springer-Verlag Berlin Heidelberg

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Kreis, T., Roesener, K., Jüptner, W. (1987). Holografisch interferometrische Verformungsmessung mit dem Fourier-Transformations-Verfahren. In: Waidelich, W. (eds) Laser/Optoelektronik in der Technik / Laser/Optoelectronics in Engineering. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-83174-4_36

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  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-83174-4_36

  • Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg

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  • Online ISBN: 978-3-642-83174-4

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