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Zusammenfassung und Ausblick

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Part of the Informatik-Fachberichte book series (INFORMATIK, volume 173)

Zusammenfassung

Motiviert durch die enorme wirtschaftliche Bedeutung des Forschungsgebietes der Testvorbereitung und angesichts des ständig zunehmenden Einsatzes testfreundlicher Entwurfsmethoden, mit deren Hilfe das Testproblem sequentieller Schaltungen auf das Testproblem kombinatorischer Schaltungen zurückgeführt werden kann, behandelt die vorliegende Arbeit die Aufgabenstellungen der automatischen Test- mustergenerierung und der Fehlersimulation in kombinatorischen Schaltungen. Für diese beiden wichtigsten Aufgabenstellungen im Rahmen der Testvorbereitung wurden zunächst jeweils die grundlegenden Prinzipien unter Berücksichtigung des Standes der Technik dargestellt. Darauf aufbauend wurden neue Konzepte und Lösungsvorschläge zur weiteren Beschleunigung und Verbesserung beschrieben, die auf die Bewältigung einer möglichst hohen Schaltungskomplexität mit wirtschaftlich vertretbarem Aufwand zielen. Sie ermöglichen damit insbesondere den kostensparenden Einsatz der im Lauf dieser Arbeit entwickelten Verfahren und Programmsysteme auf Minirechnern und Workstations.

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Copyright information

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1988

Authors and Affiliations

  1. 1.Lehrstuhl für Rechnergestütztes EntwerfenTechnische Universität MünchenPostfachGermany

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