Zusammenfassung
Motiviert durch die enorme wirtschaftliche Bedeutung des Forschungsgebietes der Testvorbereitung und angesichts des ständig zunehmenden Einsatzes testfreundlicher Entwurfsmethoden, mit deren Hilfe das Testproblem sequentieller Schaltungen auf das Testproblem kombinatorischer Schaltungen zurückgeführt werden kann, behandelt die vorliegende Arbeit die Aufgabenstellungen der automatischen Test- mustergenerierung und der Fehlersimulation in kombinatorischen Schaltungen. Für diese beiden wichtigsten Aufgabenstellungen im Rahmen der Testvorbereitung wurden zunächst jeweils die grundlegenden Prinzipien unter Berücksichtigung des Standes der Technik dargestellt. Darauf aufbauend wurden neue Konzepte und Lösungsvorschläge zur weiteren Beschleunigung und Verbesserung beschrieben, die auf die Bewältigung einer möglichst hohen Schaltungskomplexität mit wirtschaftlich vertretbarem Aufwand zielen. Sie ermöglichen damit insbesondere den kostensparenden Einsatz der im Lauf dieser Arbeit entwickelten Verfahren und Programmsysteme auf Minirechnern und Workstations.
Access this chapter
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Preview
Unable to display preview. Download preview PDF.
Author information
Authors and Affiliations
Rights and permissions
Copyright information
© 1988 Springer-Verlag Berlin Heidelberg
About this chapter
Cite this chapter
Schulz, M.H. (1988). Zusammenfassung und Ausblick. In: Testmustergenerierung und Fehlersimulation in digitalen Schaltungen mit hoher Komplexität. Informatik-Fachberichte, vol 173. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-73910-1_5
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-73910-1_5
Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg
Print ISBN: 978-3-540-50051-3
Online ISBN: 978-3-642-73910-1
eBook Packages: Springer Book Archive