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Part of the book series: Mikroelektronik ((MIKROELEKTRONIK))

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Zusammenfassung

Bei der Fehlersimulation stand die Ermittlung des Fehlererkennungsgrads, welcher sich aus der Kombination der zu untersuehenden Schaltung und einer Menge von Testmustern ergibt, im Mittelpunkt da Überlegungen. Ob die Ursache eines möglicherweise schlechten Fehlererkennungsgrads in der Wahl eines ungeeigneten Testmustersatz oder in der Schaltung selbst begründet liegt, kann so nicht unterschieden werden. Ziel einer Analyse der „Testbarkeit“ der Schaltung ist es, hierüber Auskunft zu geben und somit Hinweise auf schwer zu testende Schaltungsteile zu liefern, welche dann u.U. im Hinblick auf verbesserte Testbarkeit modifiziert werden. Erste Ansätze zur Analyse der Testbarkeit wurden von Stephenson und Grason /STE76/ bereits 1976 veröffentlicht und als Programm, TMEAS /GRAS079/, implementiert. 1979 wurde von Goldstein /GOLD79/ ein weiteres Maß, SCOAP /GOLD8O/, vorgestellt, welches die Schwierigkeit, interne Signalwerte der Schaltung zu steuern und zu beobachten, durch 6-Tupel von Steuerbarkeits- und Beobachtbarkeitswerten beschreibt.

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© 1997 Sringer-Verlag Berlin Heidelberg

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Daehn, W. (1997). Testbarkeitsanalyse. In: Daehn, W. (eds) Testverfahren in der Mikroelektronik. Mikroelektronik. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-60559-8_5

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  • Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg

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