Zusammenfassung
Die RFA wird in der Glas-, Zement- und Feuerfestmaterialien-Industrie insbesondere zur Bestimmung von Haupt- und Nebenbestandteilen für die Qualitätsüberwachung eingesetzt. Sie wird aber auch häufig zur Bestimmung von Spurengehalten in Rohstoffen, Zwischenprodukten und Fertigerzeugnissen genutzt. Im Falle einer Produktionsüberwachung oder -Steuerung ist die Zahl der je Tag notwendigen Analysen groß. Dabei werden dem technologischen Prozeß entsprechende Anforderungen an die Präzision und an die Richtigkeit der Analysenergebnisse gestellt.
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Literaturverzeichnis
Caimann, V., u. E. Winter: Praktische Anwendung eines Korrekturverfahrens zur Beseitigung von Interelementeffekten bei der Röntgenspektralanalyse von Gläsern. Glastechn. Ber. 44 (1971) 12, S. 519–528
Austin, M. J., W.W. Fletcher, K. Hickson u. R.J. Leech: Mathematical correction of matrix effects in the x-ray fluorescence analysis of soda-lime-silica glasses. Glass Technology 12 (1971) 3, S. 65–71
Ramsauer, R.: Anwendung des Schlierenmikroskops zur Untersuchung der Schichtung von Tafelglas. Glastechn. Ber. 27 (1954), S. 374
Harvey, P. K., D. M. Taylor, R. D. Hendry u. F. Bancroft: An accurate fusion method for the analysis of rocks and chemically related materials by x-ray fluorescence spectrometry. X-Ray Spectrom. 2 (1973), S. 33–44
Seidel, G., H. Huckauf u. J. Stark: Technologie der Bindebaustoffe, Bd. 3. Berlin: VEB Verlag für Bauwesen 1978
Siemens: Analysentechnische Mitteilungen Nr. 154. Verfasser: L. Beitz, E. Müller u. R.Plesch: Die chemische Analyse des Zements und seiner Rohstoffe mit dem Mehrkanal-Röntgenspektrometer MRS 300
Norrish, K., u. J.T. Hutton: An accurate x-ray spectrographic method for the analysis of a wide range of geological samples. Geochim. et Cosmochim. Acta 23 (1969), S. 431–453
Thomas, I. L., u. M.T. Haukka: XRF determination of trace and major elements using a single-fused. Disc. Chem. Geol. 21 (1978), S. 39–50
Haukka, M. T., u. I.L. Thomas: Practical solutions to matrix effects in X-ray fluorescence analysis by mathematical methods. Anal. Chem. 50 (1978) 4, S. 592–596
Fuchs, H., E. Lechmann u. P. Straach: Röntgenspektrometrische Silikatanalyse an geologischen Proben. Silikattechnik 28 (1977) 4, S. 112–114
Emmermann, R., u. D.V.C. Obi: Röntgenspektralanalytische Bestimmung von Fe, Ti, Ca, K, Si und Al in silikatischen Gesteinen unter Verwendung von Lithiumborat-Glasplätt-chen. Z. Anal. Chem. 254 (1971), S. 1–6
Jenkins, R.: Application of the solution of matrix effects arising in X-ray fluorescence spectrometry. Philips Bulletin Scientific and Analytical Equipment 79. 177/FS15 (1967)
Tertian, R.: A self-consistent calibration method for industrial X-ray spectrometric analysis. X-Ray Spectrom. 4 (1975), S. 52–61
Hahn-Weinheimer, P., u. H. Ackermann: Quantitative röntgenspektralanalytische Bestimmung von Kalium, Rubidium, Strontium, Barium, Titan, Zirkonium und Phosphor. Statistische Untersuchungen über die Verteilung dieser Elemente in Mineralphasen. Z. Anal. Chem. 194 (1963) 2, S. 81–101
Wedepohl, K. H.: Die Röntgen-Fluoreszenz-Spektralanalyse von geochemischen Proben auf Elemente der Ordnungszahlen 25–40. Z. Anal. Chem. 180 (1961), S. 246–259
Andermann, G., u. J.W. Kemp: Scattered X-rays as internal standards in X-ray emission spectroscopy. Anal. Chem. 30 (1958), S. 1306–1309
Reynolds, R. C: Matrix corrections in trace element analysis by X-ray fluorescence: Estimation of the mass assorption coefficient by Compton scattering. Amer. Miner. 48 (1963), S. 1133–1143;
Reynolds, R. C: Estimation of mass absorption coefficients by Compton scattering: Improvements and extensions of the method. Amer. Miner. 52 (1967), S. 1493–1502
Franzini, M., L. Leoni u. M. Saitta: Determination of X-ray mass absorptioncoefficient by measurement of the intensity of AgKa-Compton scattered radiation. X-Ray Spectrom. 5 (1976), S. 84–87
Tobschall, H. J.: Geochemische Untersuchungen zum stofflichen Bestand und Sedimentationsmilieu paläozoischer mariner Tone. Chem. Erde Bd. 34 (1975), S. 105–167
Friese, G., M. Geissler, T. Kaemmel, G. Riesel u. R. Schindler: Zur Analytik des Wolframs in Gesteinen und Mineralen. Z. geol. Wiss. 6 (1978), S. 779–786
Willis, J. P., H.W. Fesa, E.J.D. Kable u. G.W. Berg: The determination of Ba in rocks by X-ray fluorescence spectrometry. Canad. Spectroscopy 14 (1969), S. 3–11
Baird, A. K.: A pressed specimen die for the Norelco vacuum-path X-ray spectrograph. Norelco Rep. 8 (1961), S. 6
Leoni, L., u. M. Saitta: Matrix Effect Corrections by AgK„-Compton Scattered Radiation in the Analysis of Rock Samples. X-Ray Spectrom. 6 (1977), S. 181
Verdurmen, E. A. Th.: Accuracy of X-ray spectrometric determinations of Rb and Sr concentrations in rock samples. X-Ray Spectrom. 6 (1977), S. 117
Bougault, H., H. P. Cambon u. H. Toulhoat: X-ray spectrometric analysis of trace elements in rocks. Correction for instrumental interferences. X-Ray Spectrom. 6 (1977), S. 66–72
Feather, C. E., u. J. P. Willis: A simple method for background and matrix correction of spectral peaks in trace element determination by X-ray fluorescence spectrometry. X-Ray Spectrom. 5 (1976), S. 41–48
Ralston, A., u. M. S. Wilf: Mathematische Methoden für Digitalrechner. München/ Wien: R. Oldenbourg-Verlag 1972
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Dümecke, G., Mudrack, D., Höppner, K. (1989). Anwendung der RFA in der Silikatindustrie. In: Röntgenfluoreszenzanalyse. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-52295-6_10
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