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Zusammenfassung

An Hochvakuumanlagen für den Chargen- und Routinebetrieb stellt man heutzutage die Forderungen nach möglichst kurzer Pumpzeit und möglichst einfachem Aufbau der Anlage. In besonderen Fällen, z. B. in der Elektronenmikroskopie, gesellt sich zu diesen Forderungen noch als dritte diejenige der Freiheit von Vibrationen, wie sie von der rotierenden Pumpe übertragen werden können. Hochvakuumanlagen, die diese Forderungen weitgehend erfüllen, sind in der letzten Zeit für die verschiedensten Zwecke bei uns entwickelt worden, und es soll daher durch Erläuterung von einigen dabei gemachten Erfahrungen die Frage diskutiert werden, inwieweit diese Erfahrungen auch in der Elektronenmikroskopie nutzbar gemacht werden können.

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Literatur

  1. Haefer, R. A.: Beitrag zu M. Auwärter, Ergebnisse der Hochvakuumtechnik und der Physik der dünnen Schichten. S. 100. Stuttgart 1957.

    Google Scholar 

  2. Haefer, R. A. u. H. Wild: Proc. First Int. Congress on Vacuum Technology, 1958.

    Google Scholar 

  3. Haefer, R. A.: Proc. First Int. Congress on Vacuum Technology, 1958.

    Google Scholar 

  4. König, H., u. A. Winkler: Naturwissenschaften 35, 136 (1948).

    Article  ADS  Google Scholar 

  5. Watson, J. H. L.: J. appl. Physics 18, 153 (1947).

    Article  ADS  Google Scholar 

  6. König, H.: Naturwissenschaften 35, 261 (1948).

    Article  ADS  Google Scholar 

  7. König, H., u. G. Helwig: Z. Physik 129, 491 (1951).

    Article  ADS  Google Scholar 

  8. Grasenick, F.: Radex-Rundsch. Sonderh. 4/5 (1956) u. 5/6 (1957).

    Google Scholar 

  9. Ennos, A. E.: Brit. J. appl. Physics 4, 101 (1953);

    Article  ADS  Google Scholar 

  10. Ennos, A. E.: Brit. J. appl. Physics 5, 27 (1953).

    Article  ADS  Google Scholar 

  11. Leisegang, S., u. O. Schott: Proc. Stockholm Conf. on Electron Mikroscopy, 1956, p. 20.

    Google Scholar 

  12. Reich, G., u. H. G. Nöller: Z. angew. Physik 11, 617 (1957).

    Google Scholar 

  13. Müller, K., u. E. Ruska: Dieser Band, S. 184.

    Google Scholar 

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W. Bargmann G. Möllenstedt H. Niehrs D. Peters E. Ruska C. Wolpers

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© 1960 Springer-Verlag OHG. Berlin · Göttingen · Heidelberg

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Haefer, R.A., Mirgel, KH., Everding, H., Engel, A., Wolff, O. (1960). Vakuum, Strahlspannung, Linsendurchflutung. In: Bargmann, W., Möllenstedt, G., Niehrs, H., Peters, D., Ruska, E., Wolpers, C. (eds) Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-49765-0_10

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  • Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg

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