Zusammenfassung
Wie die Analyse zeigt, lassen sich die bisher eingesetzten Meß- und Prüfverfahren nur un ter bestimmten Bedingungen und nur für bestimmte Arten von Oberflächen anwenden. Eine Korrelation der Ergebnisse verschiedener Verfahren ist nicht möglich. Es ist deshalb ein universell einsetzbares Verfahren zu entwickeln, das aus einer Prüfeinrichtung und einer Prüfmethode besteht. Da vergleichbare und wiederholbare Ergebnisse unabdingbar sind, stellt sich die Forderung nach einem direkten, automatisierten Verfahren, das durch die Möglichkeit zu Mehrfachmessungen optimiert werden kann.
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© 1993 Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg
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Klumpp, B. (1993). Ableitung von Entwicklungschwerpunkten. In: Prüfverfahren zur Untersuchung der Partikelreinheit technischer Oberflächen. IPA-IAO Forschung und Praxis, vol 182. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-47868-0_4
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