Introduction: History

  • Ernst Bauer
Chapter

Abstract

This introductory chapter discusses the evolution of surface imaging with slow electrons from the beginnings to the time when imaging under ultrahigh vacuum (UHV) conditions was developed. It started in the early 1930s with thermionic electron emission microscopy (TEEM) and photo emission electron microscopy (PEEM), followed by mirror electron microscopy (MEM). World War II caused a considerable delay in the evolution of the field, but thereafter it flourished due to the development of sophisticated instruments and new methods such as ion bombardment-induced secondary electron emission microscopy (SEEM). The parallel evolution of transmission electron microscopy (TEM) and scanning electron microscopy (SEM), which gave higher resolution, led to a decline of emission and mirror microscopy. In addition the non-UHV conditions in the instruments used at this time were not compatible with the emerging field of surface science in the 1960s. The UHV requirements finally led to a new age in surface imaging with slow electrons. This is discussed in the subsequent chapters.

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Copyright information

© Springer Science+Business Media New York 2014

Authors and Affiliations

  • Ernst Bauer
    • 1
  1. 1.Department of PhysicsArizona State UniversityTempeUSA

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