Abstract
The objective of metallographic examination is to classify all phases of the microstructure of a material according to their shape, distribution, and size (1) in a good light/dark or color contrast, and (2) in a true geometric representation. In addition, contrast development should be reproducible. Of the chemical and physical methods utilized in microstructure development, only the latter fulfill the requirements for contrast, contrast reproducibility, and true geometric representation. The interference layer method is especially suited to meet these requirements.
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Bühler, HE., Aydin, I. (1986). Applications of the Interference Layer Method. In: Vander Voort, G.F. (eds) Applied Metallography. Springer, Boston, MA. https://doi.org/10.1007/978-1-4684-9084-8_3
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