Applications of the Interference Layer Method

  • Hans-Eugen Bühler
  • Irfan Aydin


The objective of metallographic examination is to classify all phases of the microstructure of a material according to their shape, distribution, and size (1) in a good light/dark or color contrast, and (2) in a true geometric representation. In addition, contrast development should be reproducible. Of the chemical and physical methods utilized in microstructure development, only the latter fulfill the requirements for contrast, contrast reproducibility, and true geometric representation. The interference layer method is especially suited to meet these requirements.


Layer Material Color Contrast Smeared Layer Zinc Selenide Interference Color 
These keywords were added by machine and not by the authors. This process is experimental and the keywords may be updated as the learning algorithm improves.


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Copyright information

© Van Nostrand Reinhold Company Inc. 1986

Authors and Affiliations

  • Hans-Eugen Bühler
    • 1
  • Irfan Aydin
    • 2
  1. 1.DIDIER-Werke AGWiesbadenFR Germany
  2. 2.Deloro Stellite GmbHKoblenzFR Germany

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