Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l’Optique des Rayons X et la Microanalyse pp 412-414 | Cite as
Nouvelle méthode d’obtention des diagrammes de diffraction en rayonnement X divergent
Résumé
Pour obtenir des diagrammes de rayons X en faisceau divergent, il est nécessaire de disposer d’une source de rayonnement X fine (quasi-ponctuelle) et monochromatique. Si la source est intérieure au cristal à examiner, les diagrammes résultants sont habituellement appelés: «diagrammes de Kossel »; si la source est extérieure au cristal (quoique très voisine de celui-ci), les diagrammes, semblables aux précédents, sont quelque fois appelés: «pseudo-Kossel».
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Références
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