Holografisch interferometrische Verformungsmessung mit dem Phase-Step-Verfahren

  • K. Roesener
  • Th. Kreis
  • W. Jüptner
Conference paper

Zusammenfassung

Eine numerische Bestimmung von Dehnungs- und Spannungsfeldern aus holografisch interferometrischen Verformungsmessungen erfordert eine Meßgenauigkeit bis zu 1/100 Interferenzstreifenordnung und eine hohe Auflösung mit gleichabständigen Meßpunkten /1/. Weiter müssen die Meßwertaufnahme und die Auswertung automatisiert erfolgen. Eine Detektion der Helligkeitsextrema der Interferenzstreifen und anschließende lineare Interpolation zwischen diesen Orten /2/ erreicht nicht die geforderte Genauigkeit. Erfüllt werden die Anforderungen jedoch von dem auch unter dem Namen Zeilen-Scan bekannten Phase-Step-Verfahren /3, 4, 5/.

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Schrifttum

  1. /1/.
    Kreis, Th., Kreitlow, H., Jüptner, W.: Die holografische Interferometrie als Dienstleistung für eine wirtschaftliche Spannungsanalyse, Proc. Laser 85 Conf., Springer-Verlag, 301–306 (1985)Google Scholar
  2. /2/.
    Kreitlow, H., Kreis, Th.: Entwicklung eines Gerätesystems zur automat isierten statischen und dynamisehen Auswertung holografischer Interferenzmuster, Proc. Laser 79 Conf., IPC Science and Technology Press, 426–436 (1979)Google Scholar
  3. /3/.
    Fischer, B., Geldmacher, J., Jüptner, W.: Untersuchungen zur automatisierten Erkennung und Verarbeitung holografischer Interferenzmuster mit dem Zeilen-Scan-Verfahren, Proc. Laser 79 Conf., IPC Science and Technology Press, 412–425 (1979)Google Scholar
  4. /4/.
    Kreis, Th., Fischer, B., Juptner, W., Sepold, G.: Automatisierte Auswertung holografischer Interferenzmuster bei der Untersuchung von Zugproben, Proc. Laser 81 Conf., Springer-Verlag, 105–110 (1981)Google Scholar
  5. /5/.
    Jüptner, W., Kreis, Th., Kreitlow, H.: Automatic evaluation of holographic interferograms by reference beam phase shifting,Proc. SPIE, vol. 398, 22 – 29 (1983)CrossRefGoogle Scholar
  6. /6/.
    Kreis, Th., Roesener, K., Jüptner, W.: Holografisch interferometrische Verformungsmessung mit dem Fourier-Transformations-Verfahren, Proc. Laser 87 Conf., Springer-Verlag (1987)Google Scholar
  7. /7/.
    Jüptner, W., Ringer, K., Welling, H.: Auswertung von Interferenzstreifensystemen bei holografischer Translations- und Dehnungsmessung,Optik vol. 38, 437–448 (1973)Google Scholar
  8. /8/.
    Kreis, Th., Jüptner, W.: Bestimmung von Bauteilfehlern durch ein kombiniertes Verfahren von holografischer Interferometrie und Finite-Elemente-Methode,VDI Berichte Nr. 631, 139 –151 (1987)Google Scholar

Copyright information

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1987

Authors and Affiliations

  • K. Roesener
    • 1
  • Th. Kreis
    • 1
  • W. Jüptner
    • 1
  1. 1.Bremer Institut für angewandte Strahltechnik (BIAS)Bremen 71Deutschland

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