Adaptive Bayes’sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung

  • Ulrich Rendtel
  • Hans-Joachim Lenz

Part of the Arbeiten zur Angewandten Statistik book series (ARBEITEN ANGEW., volume 33)

Table of contents

  1. Front Matter
    Pages I-IX
  2. Ulrich Rendtel, Hans-Joachim Lenz
    Pages 1-18
  3. Ulrich Rendtel, Hans-Joachim Lenz
    Pages 19-25
  4. Ulrich Rendtel, Hans-Joachim Lenz
    Pages 26-63
  5. Ulrich Rendtel, Hans-Joachim Lenz
    Pages 64-107
  6. Ulrich Rendtel, Hans-Joachim Lenz
    Pages 108-114
  7. Ulrich Rendtel, Hans-Joachim Lenz
    Pages 115-119
  8. Ulrich Rendtel, Hans-Joachim Lenz
    Pages 120-128
  9. Ulrich Rendtel, Hans-Joachim Lenz
    Pages 129-138
  10. Ulrich Rendtel, Hans-Joachim Lenz
    Pages 139-156
  11. Ulrich Rendtel, Hans-Joachim Lenz
    Pages 157-228
  12. Back Matter
    Pages 229-231

About this book

Keywords

Arbeit Auswertung Bewertung Ergebnis Garantie Information Kosten Mode Planung Prüfung Simulation Stichproben simulations

Authors and affiliations

  • Ulrich Rendtel
    • 1
  • Hans-Joachim Lenz
    • 2
  1. 1.Deutsches Institut für WirtschaftsforschungBerlin 33Deutschland
  2. 2.Institut für Quantitative Ökonomik und StatistikFreie Universität BerlinBerlin 33Deutschland

Bibliographic information

  • DOI https://doi.org/10.1007/978-3-662-11027-0
  • Copyright Information Physica-Verlag Heidelberg 1990
  • Publisher Name Physica, Heidelberg
  • eBook Packages Springer Book Archive
  • Print ISBN 978-3-7908-0468-3
  • Online ISBN 978-3-662-11027-0
  • Series Print ISSN 0066-5673
  • About this book