Mikroprozessorsysteme

Zuverlässigkeit, Testverfahren, Fehlertoleranz

  • Rolf Hedtke

Table of contents

  1. Front Matter
    Pages I-VI
  2. Rolf Hedtke
    Pages 1-4
  3. Rolf Hedtke
    Pages 5-15
  4. Rolf Hedtke
    Pages 16-40
  5. Rolf Hedtke
    Pages 111-140
  6. Rolf Hedtke
    Pages 141-186
  7. Back Matter
    Pages 187-206

About this book

Keywords

Bauelemente Halbleiter Materialprüfung Mikroprozessor Programmierung Qualitätssicherung Schaltkreise Schaltung Technische Zuverlässigkeit Zuverlässigkeit lineare Optimierung

Authors and affiliations

  • Rolf Hedtke
    • 1
  1. 1.Geschäftsbereich Fernsehanlagen, Abt. ESMRobert-Bosch GmbHDarmstadtDeutschland

Bibliographic information

  • DOI https://doi.org/10.1007/978-3-642-93257-1
  • Copyright Information Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1984
  • Publisher Name Springer, Berlin, Heidelberg
  • eBook Packages Springer Book Archive
  • Print ISBN 978-3-540-12996-7
  • Online ISBN 978-3-642-93257-1
  • About this book