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Microbeam and Nanobeam Analysis

  • Daniele Benoit
  • Jean-Francois Bresse
  • Luc Van’t dack
  • Helmut Werner
  • Johann Wernisch
Conference proceedings

Part of the Mikrochimica Acta Supplement book series (MIKROCHIMICA, volume 13)

Table of contents

  1. Front Matter
    Pages I-XI
  2. Invited Speakers

    1. Jean-Louis Pouchou
      Pages 39-60
    2. G. Remond, C. Gilles, M. Fialin, O. Rouer, R. Marinenko, R. Myklebust et al.
      Pages 61-86
    3. K. Janssens, L. Vincze, B. Vekemans, A. Aerts, F. Adams, K. W. Jones et al.
      Pages 87-115
    4. Patrick Bertrand, Weng Lu-Tao
      Pages 167-182
    5. Didier Blavette, Annabelle Bigot, Cristelle Schmuck, Frédéric Danoix, Pierre Auger
      Pages 183-194
    6. Stephen J. Pennycook, David E. Jesson, Nigel D. Browning, Matthew F. Chisholm
      Pages 195-207
  3. Contributed Papers

    1. Michael Andrae, Peter Klein, Kurt Röhrbacher, Johann Wernisch
      Pages 217-224
    2. Michael Andrae, Kurt Röhrbacher, Peter Klein, Johann Wernisch
      Pages 225-232
    3. Mimoun Aouine, Claude Esnouf, Thierry Epicier
      Pages 233-240
    4. Simon Chenery, Terry Williams, Tracey A. Elliott, Peter L. Forey, Lars Werdelin
      Pages 259-269
    5. Jan D’Haen, Marc D’Olieslaeger, Luc De Schepper, Lambert M. Stals
      Pages 271-277
    6. Luděk Frank, František Matějka
      Pages 279-287
    7. Luděk Frank, Martin Zadražil, Ilona Müllerová
      Pages 289-298
    8. Ondrej Gedeon, Václav Hulínský, Karel Jurek, Marta Šimečková
      Pages 307-316
    9. Mária J. Bucsek, József Nyéki, Zoltán Szabó, Anna Kádár
      Pages 333-338
    10. Karel Jurek, Václav Hulínský, Ondrej Gedeon
      Pages 339-347
    11. Grigoris Kaltsas, Nikos Glezos, Evangelos Valamontes, Androula G. Nassiopoulos
      Pages 349-353
    12. Volodymyr V. Kindratenko, Pierre J. M. Van Espen, Boris A. Treiger, René E. Van Grieken
      Pages 355-361
    13. Peter Klein, Michael Andrae, Kurt Röhrbacher, Johann Wernisch
      Pages 363-376
    14. Peter Klein, Kurt Röhrbacher, Michael Andrae, Johann Wernisch
      Pages 377-389
    15. Odile Lefèvre, Maria Betti, Lothar Koch, Clive T. Walker
      Pages 399-408
    16. N. J. Montgomery, D. S. McPhail
      Pages 419-424
    17. Péter Nagy, Géza I. Márk, Erzsébet Balázs
      Pages 425-433
    18. Vladimir P. Oleshko, Renaat H. Gijbels, Wim A. Jacob, Michael V. Alfimov
      Pages 435-442
    19. Vladimir P. Oleshko, Volodymyr V. Kindratenko, Renaat H. Gijbels, Pierre J. M. Van Espen, Wim A. Jacob
      Pages 443-451
    20. Arnold Pfeiffer, Christian Schiebl, Johann Wernisch
      Pages 453-462
    21. S. J. B. Reed, A. Buckley
      Pages 479-483
    22. Kurt Röhrbacher, Peter Klein, Michael Andrae, Johann Wernisch
      Pages 501-506
    23. Kurt Röhrbacher, Michael Andrae, Peter Klein, Johann Wernisch
      Pages 507-515
    24. Zoran Samardžija, Miran Čeh, Darko Makovec, Drago Kolar
      Pages 517-523
    25. Alfredo Sanz-Hervás, Evaristo J. Abril, Miguel Aguilar, Gabriel de Benito, Carlos Llorente, Miguel López
      Pages 525-531
    26. Christian O. Schiebl, Arnold Pfeiffer, Horst W. Wagner, Wolfgang S. M. Werner, H. Stippel
      Pages 533-544
    27. Reinhard Schneider, Jörg Woltersdorf, Andreas Röder
      Pages 545-552

About these proceedings

Keywords

Absorption Transmission diffraction electron microscope electron microscopy glass imaging microscopy scanning electron microscope semiconductor spectroscopy synchrotron radiation

Editors and affiliations

  • Daniele Benoit
    • 1
  • Jean-Francois Bresse
    • 2
  • Luc Van’t dack
    • 3
  • Helmut Werner
    • 4
  • Johann Wernisch
    • 5
  1. 1.BeauchampFrance
  2. 2.Department PAP/CDP/CMTC.N.E.T. France TelecomBagneuxFrance
  3. 3.Department of ChemistryUniversity of Antwerp (UIA)Antwerp-WilrijkBelgium
  4. 4.WaalreThe Netherlands
  5. 5.Institut für angewandte und technische PhysikTechnische UniversitätWienAustria

Bibliographic information

  • DOI https://doi.org/10.1007/978-3-7091-6555-3
  • Copyright Information Springer-Verlag/Wien 1996
  • Publisher Name Springer, Vienna
  • eBook Packages Springer Book Archive
  • Print ISBN 978-3-211-82874-8
  • Online ISBN 978-3-7091-6555-3
  • Series Print ISSN 0076-8642
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