Use of Long-Spacing Alcohols and Alkanes for Calibration of Long Spacings from Layer Silicates, Particularly Clay Minerals

Abstract

Lattice spacings of layer silicates, particularly clay minerals, may exceed 20 Å. The errors in measuring lattice spacings increase rapidly for spacings greater than about 10 Å and diffraction angles 2θ less than about 10°. Long-chain organic compounds, such as normal alcohols, C₁₄–C₂₀, and normal alkanes (paraffins), C₂₆–C₃₀, provide useful calibrations for lattice spacings in the range 10–50Å. The basal spacings of the calibrating substances are determined from their higher order reflections in the angular range where reflections from quartz and silicon are used as standards.

Résumé

Les espacements réticulaires des phyllosilicates, en particulier les minéraux argileux, peuvent dépasser 20 Å. Les erreurs commises dans la mesure de ces espacements augmentent rapidement pour des espacements supérieurs à 10 Å et des angles de diffraction 2 θ inférieurs à 10° environ. Des composés organiques à longue chaîne tels que les alcools normaux de C₁₄–C₂₀ et les alcanes normaux (paraffines) de C₂₆–C₃₀, constituent des étalons utiles pour les espacements réticulaires compris entre 10–50 Å. Les distances basales de ces substances étalons sont déterminées à partir de leurs ordres de réflexion supérieurs dans le domaine angulaire où les réflexions du quartz et de la silice sont utilisées comme standard.

Kurzreferat

Basisebenenabstände von Schichtsilicaten, besonders von Tonmineralen, können 20 Å übersteigen. Die Fehler bei der Messung nehmen bei Basisebenenabständen über 10 Å und Beugungswinkels 2θ kleiner als etwa 10° schnell zu. Langkettige organische Verbindungen wie normale Alkohole, C₁₄–C₂₀, und normale Alkane (Paraffine), C₂₆–C₃₀, stellen nützliche Eichsubstanzen für Schichtabstände im Bereich von 10–50 Å dar. Die Basisebenenabstände der Eichsubstanzen werden aus den Beugungslinen höherer Ordnung in dem Winkelbereich bestimmt, in dem die Reflexe von Quarz und Silicium als Standards benutzt werden.

Резюме

Периоды решетки слоистых силикатов, особенно глинистых минералов, могут превышать 20 А. При измерении периодов решетки часто возникают ошибки, которые возни-кают даже чаще, если периоды решетки примерно более 10 Å, а углы отклонения при диффрак-ции 2θ, менее приблизительно 10°. Органические соединения с длинными цепями, такие как стандартные спирты, С₁₄–С₂₀, и стандартные алканы (парафины), С₂₆–С₃₀, предоставляют приемлемую калибровку для периодов решетки в пределах 10–50 Å. Основные периоды решетки веществ применяемых для калибровки определяются по их более высокому порядку отражения в угловом радиусе, где отражения кварца и кремния используются в качестве эталонов.