References
Y. P. Chen, S. Sivananthan and J. P. Faurie, J. Electron. Mater. 22(1993) 951.
J. P. Faurie, R. Sporken, Y. P. Chen, M. D. Lange and S. Sivananthan, Mater. Sci. Eng. B16(1993) 51.
T. J. De Lyon, D. Rajavel, S. M. Johnson and C. A. Cockrum, Appl. Phys. Lett. 66(1995) 2119.
A. Million, N. K. Dhar and J. H. Dinan, J. Cryst. Growth 159(1996) 76.
Y. B. Hou, J. H. Leem, T. W. Kang and T. W. Kim, Appl. Surf. Sci. 151(1999) 213.
Y. Zhonghai, S. G. Hofer, N. C. Giles and T. H. Myers, Phys. Rev.B 51(1995) 13789.
Y. Xin, N. D. Browning, S. Rujirawat, S. Sivananthan and Y. P. Chen, J. Appl. Phys. 84(1998) 4292.
Y. S. Ryu, B. S. Song, H. J. Kim, T. W. Kang and, T. W. Kim, J. Mater. Res. 18(2003) 257.
Y. S. Ryu, Y. B. Heo, B. S. Song, S. J. Moon, Y. J. Kim, T. W. Kang and T. W. Kim, Appl. Phys. Lett. 83(2003) 3776.
T. W. Kim, K. D. Kwack, J. G. Park, H. S. Lee, J. Y. Lee, H. S. Lee, J. Y. Lee, M. S. Jang and H. L. Park, ibid. 83(2003) 269.
“Modern Semiconductor Device Physics,” edited by S. M. Sze (John Wiley & Sons, Ney York, 1998).
M. Ekawa and T. Taguchi, Jpn. J. Appl. Phys. 28(1989) L 1341.
M. D. Kim, T. W. Kang, M. S. Han and T. W. Kim, ibid. 35(1996) 4220.
C. E. Barnes and K. Zanio, J. Appl. Phys. 46(1975) 3959.
See for example, E. W. Williams and H. B. Bebb, in “Semiconductors and Semimetals,” edited by R. K. Willardson and A. C. Beer (Academic, New York, 1992) Vol. 8, p. 321.
Author information
Authors and Affiliations
Rights and permissions
About this article
Cite this article
Lee, H.S., Lee, K.H., Kim, J.S. et al. Rapid thermal annealing effects on the optical properties in strained CdTe (100)/GaAs (100) heterostructures. Journal of Materials Science 39, 7115–7117 (2004). https://doi.org/10.1023/B:JMSC.0000047562.80341.2b
Issue Date:
DOI: https://doi.org/10.1023/B:JMSC.0000047562.80341.2b