References
C. R. MARTIN, Science 266(1994) 1961.
W. KRATSCHMER, L. D. LAMB, K. FOSTIROPOULOS and D. R. HUFFMAN, Nature 347(1990) 354.
S. IIJIMA, ibid. 354(1991) 56.
C. JOURNET, W. K. MASER, P. BERNIER, A. LOISEAU, M. L. CHAPELLE, S. LEFRANT, P. DENIARD, R. LEE and J. E. FISCHER, ibid. 388(1997) 756.
G. CHE, B. B. LAKSHMI, E. R. FISHER and C. R. MARTIN, ibid. 393(1998) 346.
J. I. PASCUAL, J. MÉNDEZ, J. GÓMEZ-HERRERO, A. M. BARÓ, N. GARCIA, U. LANDMAN, W. D. LUEDTKE, E. N. BOGACHEK and H. P. CHENG, Science 267(1995) 1793.
P. G. COLLINS, A. ZETTL, H. BANDO, A. THESS and R. E. SMALLEY, ibid. 278(1997) 100.
M. BOCKRATH, D. H. COBDEN, P. L. MCEUEN, N. G. CHOPRA, A. ZETTL, A. THESS and R. E. SMALLEY, ibid. 275(1997) 1922.
N. HAMADA, S. SAWADA and A. OSHIYAMA, Phys. Rev. Lett. 68(1992) 1581.
G. E. GADD, M. BLACKFORD, S. MORICCA, N. WEBB, P. J. EVANS, A. M. SMITH, G. JACOBSEN, S. LEUNG, A. DAY and Q. HUA, Science 277(1997) 933.
A. C. DILLON, K. M. JONES, T. A. BEKKEDAHL, C. H. KIANG, D. S. BETHUNE and M. J. HEBEN, Nature 386(1997) 377.
H. C. SHIH, S. H. TSAI, F. K. CHIANG, T. G. TSAI and F. S. SHIEU, in InternationalWorkshop on Advanced Nanomaterials from Vapors (ANFV-98), Angstrom Laboratory, Uppsala, Sweden, June 22, 1998.
S. L. SUNG, S. H. TSAI, C. H. TSENG, F. K. CHIANG, X. W. LIU and H. C. SHIH, Appl. Phys. Lett. 74(1999) 197.
S. L. SUNG, C. H. TSENG, X. J. GUO, F. K. CHIANG and H. C. SHIH, in International Conference on Metallurgical Coating and Thin Films ICMCTF-98, San Diego, CA, USA, April 27-May 1, 1998, D1-2-11.
S. L. SUNG, C. H. TSENG, F. K. CHIANG, X. J. GUO, X. W. LIU and H. C. SHIH, Thin Solid Films 340(1999) 169.
Y. H. CHIOU, T. G. TSAI, H. C. SHIH, C. N. WU and K. J. CHAO, J. Chem. Soc., Faraday Trans. 92(1996) 1061.
T. G. TSAI, K. J. CHAO, X. J. GUO, S. L. SUNG, C. N. WU, Y. L. WANG and H. C. SHIH, Adv. Mater. 9(1997) 1154.
O. JESSENSKY, F. MÑLLER and U. GÖSELE, Appl. Phys. Lett. 72(1998) 1173.
P. HIRSCH, A. HOWIE, R. B. NICHOLSON, D. W. PASHLEY and M. J. WHELAN, “Electron microscopy of thin crystals” (Robert E. Krieger, New York, 1977).
R. F. EGERTON and M. J. WHELAN, J. Elecron Spectrosc. 3(1974) 232.
International Center for Diffraction Data (ICDD)-Powder Diffraction File (PDF), 1994.
R. F. EGERTON, “Electron energy loss spectroscopy in the electron microscope” (Plenum Press, New York, 1989) p. 333.
L. REIMER, “Transmission electron microscopy”, 2nd Edn (Springer-Verlag, New York, 1989) p. 437.
Author information
Authors and Affiliations
Rights and permissions
About this article
Cite this article
Chiang, F.K., Tsai, S.H., Shieu, F.S. et al. In-situ Cu2O formation on amorphous carbon nanotubes induced by electron beam. Journal of Materials Science Letters 19, 671–673 (2000). https://doi.org/10.1023/A:1006758527222
Issue Date:
DOI: https://doi.org/10.1023/A:1006758527222