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Vernetzte Test- und Simulationsumgebungen

  • Simulation und Berechnung
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Literaturhinweise

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Authors and Affiliations

  1. AVL Deutschland GmbH, Deutschland

    David Nickel M. Sc. (Doktorand am Institut für Produktentwicklung (IPEK) des Karlsruher Instituts für Technologie (KIT) in Kooperation)

  2. Fraunhofer-Institut für Betriebsfestigkeit und Systemzuverlässigkeit (LBF), Darmstadt, Deutschland

    Eva Stelter (wissenschaftliche Mitarbeiterin im Bereich numerische Systemanalyse)

  3. SET Power Systems GmbH, Wangen im Allgäu, Deutschland

    Wolfgang Mittmann (Entwicklungsingenieur für Umrichterprüfsysteme)

  4. Schaeffler Technologies AG & Co. KG, Herzogenaurach, Deutschland

    Thomas Heiduczek (Projektmanager im Bereich Innovationsprojekte)

Authors
  1. David Nickel M. Sc.
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  2. Eva Stelter
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  3. Wolfgang Mittmann
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  4. Thomas Heiduczek
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Cite this article

Nickel, D., Stelter, E., Mittmann, W. et al. Vernetzte Test- und Simulationsumgebungen. MTZ Extra 23 (Suppl 2), 18–23 (2018). https://doi.org/10.1007/s41490-018-0001-7

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