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Pfeffer, R., Herrmann, M. & Kemper, H. Effiziente Fehlerratenbestimmung durch KI-basierte Simulation kritischer Szenarien. ATZ Elektron 18, 16–21 (2023). https://doi.org/10.1007/s35658-023-1530-0
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DOI: https://doi.org/10.1007/s35658-023-1530-0