Abstract
Intelligent computing paradigms have become increasingly important for the efficient processing of massive amounts of data. However, using traditional electronic devices to implement these intelligent paradigms is currently mismatched and limited by their energy, area, and speed. Spintronics, which exploits the magnetic and electrical properties of electrons, could break through these limitations and bring new possibilities to electrical devices. In particular, the tunneling magnetoresistance effect, merging quantum and spintronics, enables spintronic devices to be compatible with standard integrated circuits with a magnetic tunnel junction (MTJ) design, showing great potential for implementing hardware-based intelligent frameworks. In this review, we introduce the specific capabilities of MTJs, including nonvolatility, stochasticity, plasticity, and nonlinearity, which are highly favorable in artificial intelligence algorithms. We then present how these devices could impact the development of intelligent computing, including in-memory computing, probabilistic computing, and neuromorphic computing. Finally, we discuss their challenges and perspectives in intelligent hardware implementations.
References
M. Haenlein, and A. Kaplan, California Manage. Rev. 61, 5 (2019).
J. Grollier, D. Querlioz, K. Y. Camsari, K. Everschor-Sitte, S. Fu-kami, and M. D. Stiles, Nat. Electron. 3, 360 (2020).
B. J. Shastri, A. N. Tait, T. Ferreira de Lima, W. H. P. Pernice, H. Bhaskaran, C. D. Wright, and P. R. Prucnal, Nat. Photon. 15, 102 (2021).
D. V. Christensen, R. Dittmann, B. Linares-Barranco, A. Sebastian, M. Le Gallo, A. Redaelli, S. Slesazeck, T. Mikolajick, S. Spiga, S. Menzel, I. Valov, G. Milano, C. Ricciardi, S. J. Liang, F. Miao, M. Lanza, T. J. Quill, S. T. Keene, A. Salleo, J. Grollier, D. Marković, A. Mizrahi, P. Yao, J. J. Yang, G. Indiveri, J. P. Strachan, S. Datta, E. Vianello, A. Valentian, J. Feldmann, X. Li, W. H. P. Pernice, H. Bhaskaran, S. Furber, E. Neftci, F. Scherr, W. Maass, S. Ramaswamy, J. Tapson, P. Panda, Y. Kim, G. Tanaka, S. Thorpe, C. Bartolozzi, T. A. Cleland, C. Posch, S. C. Liu, G. Panuccio, M. Mahmud, A. N. Mazumder, M. Hosseini, T. Mohsenin, E. Donati, S. Tolu, R. Galeazzi, M. E. Christensen, S. Holm, D. Ielmini, and N. Pryds, Neuromorph. Comput. Eng. 2, 022501 (2022).
N. R. Mahapatra, and B. Venkatrao, XRDS: Crossroads ACM Mag. Stud. 5, 2 (1999).
Z. Guo, J. Yin, Y. Bai, D. Zhu, K. Shi, G. Wang, K. Cao, and W. Zhao, Proc. IEEE 109, 1398 (2021).
G. Finocchio, M. Di Ventra, K. Y. Camsari, K. Everschor-Sitte, P. Khalili Amiri, and Z. Zeng, J. Magn. Magn. Mater. 521, 167506 (2021).
J. Zhou, and J. Chen, Adv. Electron. Mater. 7, 2100465 (2021).
Z. R. Yan, Y. Z. Liu, Y. Guang, K. Yue, J. F. Feng, R. K. Lake, G. Q. Yu, and X. F. Han, Phys. Rev. Appl. 15, 064004 (2021).
A. Sebastian, M. Le Gallo, R. Khaddam-Aljameh, and E. Eleftheriou, Nat. Nanotechnol. 15, 529 (2020).
N. J. Nilsson, Artif. Intell. 28, 71 (1986).
A. V. Khvalkovskiy, D. Apalkov, S. Watts, R. Chepulskii, R. S. Beach, A. Ong, X. Tang, A. Driskill-Smith, W. H. Butler, P. B. Visscher, D. Lottis, E. Chen, V. Nikitin, and M. Krounbi, J. Phys. D-Appl. Phys. 46, 074001 (2013).
W. A. Borders, A. Z. Pervaiz, S. Fukami, K. Y. Camsari, H. Ohno, and S. Datta, Nature 573, 390 (2019).
X. Wang, Y. Chen, H. Xi, H. Li, and D. Dimitrov, IEEE Electron Device Lett. 30, 294 (2009).
S. I. Kiselev, J. C. Sankey, I. N. Krivorotov, N. C. Emley, R. J. Schoelkopf, R. A. Buhrman, and D. C. Ralph, Nature 425, 380 (2003).
L. Gyongyosi, and S. Imre, Comput. Sci. Rev. 31, 51 (2019).
S. Jiang, K. A. Britt, A. J. McCaskey, T. S. Humble, and S. Kais, Sci. Rep. 8, 17667 (2018).
J. Mathon, and A. Umerski, Phys. Rev. B 63, 220403 (2001).
J. Inoue, and S. Maekawa, Phys. Rev. B 53, R11927 (1996).
S. Yuasa, and D. D. Djayaprawira, J. Phys. D-Appl. Phys. 40, R337 (2007).
D. Q. Zhu, Z. X. Guo, A. Du, D. R. Xiong, R. Xiao, W. L. Cai, K. W. Shi, S. Z. Peng, K. H. Cao, S. Y. Lu, D. P. Zhu, G. F. Wang, H. X. Liu, Q. W. Leng, and W. S. Zhao, in First demonstration of three terminal MRAM devices with immunity to magnetic fields and 10 ns field free switching by electrical manipulation of exchange bias: Proceedings of the 2021 IEEE International Electron Devices Meeting, San Francisco, 2021.
S. Ikeda, K. Miura, H. Yamamoto, K. Mizunuma, H. D. Gan, M. Endo, S. Kanai, J. Hayakawa, F. Matsukura, and H. Ohno, Nat. Mater. 9, 721 (2010).
J. Swerts, E. Liu, S. Couet, S. Mertens, S. Rao, W. Kim, K. Garello, L. Souriau, S. Kundu, D. Crotti, F. Yasin, N. Jossart, S. Sakhare, T. Devolder, S. V. Beek, B. O’Sullivan, S. V. Elshocht, A. Furnemont, and G. S. Kar, in Solving the BEOL compatibility challenge of top-pinned magnetic tunnel junction stacks: Proceedings of the 2017 IEEE International Electron Devices Meeting, San Francisco, 2017.
D. Edelstein, M. Rizzolo, D. Sil, A. Dutta, J. DeBrosse, M. Wordeman, A. Arceo, I. C. Chu, J. Demarest, E. R. J. Edwards, E. R. Evarts, J. Fullam, A. Gasasira, G. Hu, M. Iwatake, R. Johnson, V. Katragadda, T. Levin, J. Li, Y. Liu, C. Long, T. Maffitt, S. McDermott, S. Mehta, V. Mehta, D. Metzler, J. Morillo, Y. Nakamura, S. Nguyen, P. Nieves, V. Pai, R. Patlolla, R. Pujari, R. Southwick, T. Standaert, O. V. D. Straten, H. Wu, C.-C. Yang, D. Houssameddine, J. M. Slaughter, and D. C. Worledge, in A 14 nm embedded STT-MRAM CMOS technology: Proceedings of the 2020 IEEE International Electron Devices Meeting, San Francisco, 2020.
S. Ikegawa, F. B. Mancoff, J. Janesky, and S. Aggarwal, IEEE Trans. Electron Devices 67, 1407 (2020).
A. D. Kent, and D. C. Worledge, Nat. Nanotech. 10, 187 (2015).
S. A. Wolf, J. Lu, M. R. Stan, E. Chen, and D. M. Treger, Proc. IEEE 98, 2155 (2010).
A. Hirohata, and K. Takanashi, J. Phys. D-Appl. Phys. 47, 193001 (2014).
J. S. Meena, S. M. Sze, U. Chand, and T. Y. Tseng, Nanoscale Res. Lett. 9, 526 (2014).
S. J. Kim, J. Mohan, S. R. Summerfelt, and J. Kim, J. Min. Metals. Mater. Soc. 71, 246 (2019).
H. Jeong, and L. Shi, J. Phys. D-Appl. Phys. 52, 023003 (2019).
D. Lelmini, Semicond. Sci. Technol. 31, 063002 (2016).
H. Y. Cheng, W. C. Chien, I. T. Kuo, E. K. Lai, Y. Zhu, J. L. JordanSweet, A. Ray, F. Carta, F. M. Lee, P. H. Tseng, M. H. Lee, Y. Y. Lin, W. Kim, R. Bruce, C. W. Yeh, C. H. Yang, M. BrightSky, and H. L. Lung, in An ultra high endurance and thermally stable selector based on TeAsGeSiSe chalcogenides: Proceedings of the IEEE International Electron Devices Meeting, San Francisco, 2017.
M. Wang, W. Cai, K. Cao, J. Zhou, J. Wrona, S. Peng, H. Yang, J. Wei, W. Kang, Y. Zhang, J. Langer, B. Ocker, A. Fert, and W. Zhao, Nat. Commun. 9, 671 (2018).
Q. Shao, P. Li, L. Liu, H. Yang, S. Fukami, A. Razavi, H. Wu, K. Wang, F. Freimuth, Y. Mokrousov, M. D. Stiles, S. Emori, A. Hoffmann, J. Akerman, K. Roy, J. P. Wang, S. H. Yang, K. Garello, and W. Zhang, IEEE Trans. Magn. 57, 1 (2021).
C. Reig, M.-D. Cubells-Beltran, and D. R. Muñoz, Sensors 9, 7919 (2009).
M. N. Baibich, J. M. Broto, A. Fert, F. Nguyen Van Dau, F. Petroff, P. Etienne, G. Creuzet, A. Friederich, and J. Chazelas, Phys. Rev. Lett. 61, 2472 (1988).
D. Apalkov, B. Dieny, and J. M. Slaughter, Proc. IEEE 104, 1796 (2016).
S. Ikeda, J. Hayakawa, Y. Ashizawa, Y. M. Lee, K. Miura, H. Ha-segawa, M. Tsunoda, F. Matsukura, and H. Ohno, Appl. Phys. Lett. 93, 082508 (2008).
M. Julliere, Phys. Lett. A 54, 225 (1975).
S. Maekawa, and U. Gafvert, IEEE Trans. Magn. 18, 707 (1982).
T. Miyazaki, and N. Tezuka, J. Magn. Magn. Mater. 139, L231 (1995).
G. Hu, D. Kim, J. Kim, C. Kothandaraman, G. Lauer, H. K. Lee, N. Marchack, M. Reuter, R. P. Robertazzi, J. Z. Sun, T. Suwannasiri, J. J. Nowak, P. L. Trouilloud, S. Woo, D. C. Worledge, M. G. Gottwald, S. L. Brown, B. Doris, C. P. D’Emic, P. Hashemi, D. Houssameddine, and Q. He, in Spin-transfer torque MRAM with reliable 2 ns writing for last level cache applications: Proceedings of the 2019 International Electron Devices Meeting, San Francisco, 2019.
T. Miyazaki, and N. Tezuka, J. Magn. Magn. Mater. 151, 403 (1995).
J. S. Moodera, L. R. Kinder, T. M. Wong, and R. Meservey, Phys. Rev. Lett. 74, 3273 (1995).
G. A. Gibson, and R. Meservey, J. Appl. Phys. 58, 1584 (1985).
J. S. Moodera, R. Meservey, and P. M. Tedrow, Appl. Phys. Lett. 41, 488 (1982).
J. S. Moodera, E. F. Gallagher, K. Robinson, and J. Nowak, Appl. Phys. Lett. 70, 3050 (1997).
D. Wang, C. Nordman, J. M. Daughton, Z. Qian, J. Fink, D. Wang, C. Nordman, J. M. Daughton, Z. Qian, and J. Fink, IEEE Trans. Magn. 40, 2269 (2004).
P. Leclair, J. S. Moodera, and R. Meservey, J. Appl. Phys. 76, 6546 (1994).
J. Nowak, and J. Raułuszkiewicz, J. Magn. Magn. Mater. 109, 79 (1992).
S. X. Huang, T. Y. Chen, and C. L. Chien, Appl. Phys. Lett. 92, 242509 (2008).
P. M. Tedrow, and R. Meservey, Phys. Rev. B 7, 318 (1973).
G. J. Strijkers, Y. Ji, F. Y. Yang, C. L. Chien, and J. M. Byers, Phys. Rev. B 63, 104510 (2001).
C. Kaiser, and S. S. P. Parkin, Appl. Phys. Lett. 84, 3582 (2004).
K. Elphick, W. Frost, M. Samiepour, T. Kubota, K. Takanashi, H. Sukegawa, S. Mitani, and A. Hirohata, Sci. Tech. Adv. Mater. 22, 235 (2021).
W. H. Butler, X. G. Zhang, T. C. Schulthess, and J. M. MacLaren, Phys. Rev. B 63, 054416 (2001).
M. Bowen, V. Cros, F. Petroff, A. Fert, C. Martinez Boubeta, J. L. Costa-Krämer, J. V. Anguita, A. Cebollada, F. Briones, J. M. de Teresa, L. Morellón, M. R. Ibarra, F. Güell, F. Peiró, and A. Cornet, Appl. Phys. Lett. 79, 1655 (2001).
J. Faure-Vincent, C. Tiusan, E. Jouguelet, F. Canet, M. Sajieddine, C. Bellouard, E. Popova, M. Hehn, F. Montaigne, and A. Schuhl, Appl. Phys. Lett. 82, 4507 (2003).
S. Yuasa, A. Fukushima, T. Nagahama, K. Ando, and Y. Suzuki, Jpn. J. Appl. Phys. 43, L588 (2004).
S. Yuasa, T. Nagahama, A. Fukushima, Y. Suzuki, and K. Ando, Nat. Mater. 3, 868 (2004).
T. Scheike, Q. Xiang, Z. Wen, H. Sukegawa, T. Ohkubo, K. Hono, and S. Mitani, Appl. Phys. Lett. 118, 042411 (2021).
S. S. P. Parkin, C. Kaiser, A. Panchula, P. M. Rice, B. Hughes, M. Samant, and S. H. Yang, Nat. Mater. 3, 862 (2004).
D. D. Djayaprawira, K. Tsunekawa, M. Nagai, H. Maehara, S. Ya-magata, N. Watanabe, S. Yuasa, Y. Suzuki, and K. Ando, Appl. Phys. Lett. 86, 092502 (2005).
J. Hayakawa, S. Ikeda, F. Matsukura, H. Takahashi, and H. Ohno, Jpn. J. Appl. Phys. 44, L587 (2005).
S. Ikeda, J. Hayakawa, Y. M. Lee, R. Sasaki, T. Meguro, F. Matsu-kura, and H. Ohno, Jpn. J. Appl. Phys. 44, L1442 (2005).
S. Yuasa, Y. Suzuki, T. Katayama, and K. Ando, Appl. Phys. Lett. 87, 242503 (2005).
S. Cardoso, C. Cavaco, R. Ferreira, L. Pereira, M. Rickart, P. P. Freitas, N. Franco, J. Gouveia, and N. P. Barradas, J. Appl. Phys. 97, 10C916 (2005).
S. Ikeda, J. Hayakawa, Y. M. Lee, T. Tanikawa, F. Matsukura, and H. Ohno, J. Appl. Phys. 99, 08A907 (2006).
W. G. Wang, C. Ni, A. Rumaiz, Y. Wang, X. Fan, T. Moriyama, R. Cao, Q. Y. Wen, H. W. Zhang, and J. Q. Xiao, Appl. Phys. Lett. 92, 152501 (2008).
Y. M. Lee, J. Hayakawa, S. Ikeda, F. Matsukura, and H. Ohno, Appl. Phys. Lett. 90, 212507 (2007).
M. Wang, W. Cai, D. Zhu, Z. Wang, J. Kan, Z. Zhao, K. Cao, Z. Wang, Y. Zhang, T. Zhang, C. Park, J. P. Wang, A. Fert, and W. Zhao, Nat. Electron. 1, 582 (2018).
N. Perrissin, S. Lequeux, N. Strelkov, A. Chavent, L. Vila, L. D. Buda-Prejbeanu, S. Auffret, R. C. Sousa, I. L. Prejbeanu, and B. Dieny, Nanoscale 10, 12187 (2018).
Y. J. Song, J. H. Lee, S. H. Han, H. C. Shin, K. H. Lee, K. Suh, D. E. Jeong, G. H. Koh, S. C. Oh, J. H. Park, S. O. Park, B. J. Bae, O. I. Kwon, K. H. Hwang, B. Y. Seo, Y. K. Lee, S. H. Hwang, D. S. Lee, Y. Ji, K. C. Park, G. T. Jeong, H. S. Hong, K. P. Lee, H. K. Kang, and E. S. Jung, in Demonstration ofhighly manufacturable STT-MRAM embedded in 28 nm logic: Proceedings of the 2018 International Electron Devices Meeting, San Francisco, 2018.
Y. Huai, H. Gan, Z. Wang, P. Xu, X. Hao, B. K. Yen, R. Malmhall, N. Pakala, C. Wang, J. Zhang, Y. Zhou, D. Jung, K. Satoh, R. Wang, L. Xue, and M. Pakala, Appl. Phys. Lett. 112, 092402 (2018).
K. Garello, F. Yasin, H. Hody, S. Couet, L. Souriau, S. H. Sharifi, J. Swerts, R. Carpenter, S. Rao, W. Kim, J. Wu, K. K. V. Sethu, M. Pak, N. Jossart, D. Crotti, A. Furnémont, and G. S. Kar, in Manufacturable 300 mm platform solution for field-free switching SOT-MRAM: Proceedings of the 2019 Symposium on VLSI Technology, Kyoto, 2019.
H. Honjo, T. V. A. Nguyen, T. Watanabe, T. Nasuno, C. Zhang, T. Tanigawa, S. Miura, H. Inoue, M. Niwa, T. Yoshiduka, Y. Noguchi, M. Yasuhira, A. Tamakoshi, M. Natsui, Y. Ma, H. Koike, Y. Taka-hashi, K. Furuya, H. Shen, S. Fukami, H. Sato, S. Ikeda, T. Hanyu, H. Ohno, and T. Endoh, in First demonstration of field-free SOT-MRAM with 0.35 ns write speed and 70 thermal stability under 400°C thermal tolerance by canted SOT structure and its advanced patterning/SOT channel technology: Proceedings of the 2019 IEEE International Electron Devices Meeting, San Francisco, 2019.
S. Sakhare, S. Rao, M. Perumkunnil, S. Couet, D. Crotti, S. Van Beek, A. Furnemont, F. Catthoor, and G. S. Kar, IEEE Trans. Electron Devices 67, 3618 (2020).
B. Jinnai, J. Igarashi, K. Watanabe, T. Funatsu, H. Sato, S. Fukami, and H. Ohno, in High-performance shape-anisotropy magnetic tunnel junctions down to 2. 3 nm: Proceedings of the 2020 IEEE International Electron Devices Meeting, edited by J. P. Strachan, and K. Moselund, San Francisco, 2020.
E. M. Boujamaa, S. M. Ali, S. N. Wandji, A. Gourio, S. Pyo, G. Koh, Y. Song, T. Song, J. Kye, J. C. Vial, A. Sowden, M. Rathor, and C. Dray, in A 14.7 Mb/mm2 28 nm FDSOI STT-MRAM with current starved read path, 52 Ω/sigma offset voltage sense amplifier and fully trimmable CTAT reference: Proceedings of the 2020 IEEE Symposium on VLSI Circuits, Honolulu, 2020.
K. Nishioka, S. Miura, H. Honjo, H. Inoue, T. Watanabe, T. Nasuno, H. Naganuma, T. V. A. Nguyen, Y. Noguchi, M. Yasuhira, S. Ikeda, and T. Endoh, IEEE Trans. Electron Devices 68, 2680 (2021).
H. Naganuma, S. Miura, H. Honjo, K. Nishioka, T. Watanabe, T. Nasuno, H. Inoue, T. V. A. Nguyen, Y. Endo, Y. Noguchi, M. Ya-suhira, S. Ikeda, and T. Endoh, in Advanced 18 nm Quad-MTJ technology overcomes dilemma ofretention and endurance under scaling beyond 2X nm: Proceedings of the 2021 Symposium on VLSI Technology, Kyoto, 2021.
Y.-J. Tsou, K.-S. Li, J.-M. Shieh, W.-J. Chen, H.-C. Chen, Y.-J. Chen, C.-L. Hsu, Y.-M. Huang, F.-K. Hsueh, W.-H. Huang, W.-K. Yeh, H.-C. Shih, P.-C. Liu, C. W. Liu, Y.-S. Yen, C.-H. Lai, J.-H. Wei, D. D. Tang, and J. Y.-C. Sun, in First demonstration of interface-enhanced SAF enabling 400°C-robust 42 nm p-SOT-MTJ cells with STT-as-sisted field-free switching and composite channels: Proceedings of the 2021 Symposium on VLSI Technology, Kyoto, 2021.
G. Hu, G. Lauer, J. Z. Sun, P. Hashemi, C. Safranski, S. L. Brown, L. Buzi, E. R. J. Edwards, C. P. D’Emic, E. Galligan, M. G. Gottwald, O. Gunawan, H. Jung, J. Kim, K. Latzko, J. J. Nowak, P. L. Trouilloud, S. Zare, and D. C. Worledge, in 2X reduction of STT-MRAM switching current using double spin-torque magnetic tunnel junction: Proceedings of the 2021 International Electron Devices Meeting, San Francisco, 2021.
H. Honjo, K. Nishioka, S. Miura, H. Naganuma, T. Watanabe, Y. Noguchi, T. V. A. Nguyen, M. Yasuhira, S. Ikeda, and T. Endoh, IEEE Trans. Magn. 58, 1 (2022).
N. Sato, G. A. Allen, W. P. Benson, B. Buford, A. Chakraborty, M. Christenson, T. A. Gosavi, P. E. Heil, N. A. Kabir, B. J. Krist, K. P. O’Brien, K. Oguz, R. R. Patil, J. Pellegren, A. K. Smith, E. S. Walker, P. J. Hentges, M. V. Metz, M. Seth, B. Turkot, C. J. Wiegand, H. J. Yoo, and I. A. Young, in CMOS compatible process integration of SOT-MRAM with heavy-metal bi-layer bottom electrode and 10 ns field-free SOT switching with STT assist: Proceedings of the 2019 Symposium on VLSI Technology, Honolulu, 2019.
Y. Huai, F. Albert, P. Nguyen, M. Pakala, and T. Valet, Appl. Phys. Lett. 84, 3118 (2004).
J. Hayakawa, S. Ikeda, Y. M. Lee, R. Sasaki, T. Meguro, F. Matsu-kura, H. Takahashi, and H. Ohno, Jpn. J. Appl. Phys. 44, L1267 (2005).
L. Liu, C. F. Pai, Y. Li, H. W. Tseng, D. C. Ralph, and R. A. Buhrman, Science 336, 555 (2012).
H. Liu, T. Kawami, K. Moges, T. Uemura, M. Yamamoto, F. Shi, and P. M. Voyles, J. Phys. D-Appl. Phys. 48, 164001 (2015).
Y. Shiota, T. Nozaki, F. Bonell, S. Murakami, T. Shinjo, and Y. Suzuki, Nat. Mater. 11, 39 (2011).
S. Ikeda, J. Hayakawa, Y. M. Lee, F. Matsukura, Y. Ohno, T. Hanyu, and H. Ohno, IEEE Trans. Electron Devices 54, 991 (2007).
R. Shimabukuro, K. Nakamura, T. Akiyama, and T. Ito, Phys. E-Low-dimensional Syst. NanoStruct. 42, 1014 (2010).
S. Peng, M. Wang, H. Yang, L. Zeng, J. Nan, J. Zhou, Y. Zhang, A. Hallal, M. Chshiev, K. L. Wang, Q. Zhang, and W. Zhao, Sci. Rep. 5, 18173 (2015).
J. Zhou, W. Zhao, Y. Wang, S. Peng, J. Qiao, L. Su, L. Zeng, N. Lei, L. Liu, Y. Zhang, and A. Bournel, Appl. Phys. Lett. 109, 242403 (2016).
S. E. Lee, T. H. Shim, and J. G. Park, NPG Asia Mater. 8, e324 (2016).
S. E. Lee, Y. Takemura, and J. G. Park, Appl. Phys. Lett. 109, 182405 (2016).
S. Peng, D. Zhu, J. Zhou, B. Zhang, A. Cao, M. Wang, W. Cai, K. Cao, and W. Zhao, Adv. Electron. Mater. 5, 1900134 (2019).
H. Sato, M. Yamanouchi, S. Ikeda, S. Fukami, F. Matsukura, and H. Ohno, Appl. Phys. Lett. 101, 022414 (2012).
M. Gajek, J. J. Nowak, J. Z. Sun, P. L. Trouilloud, E. J. O’Sullivan, D. W. Abraham, M. C. Gaidis, G. Hu, S. Brown, Y. Zhu, R. P. Robertazzi, W. J. Gallagher, and D. C. Worledge, Appl. Phys. Lett. 100, 132408 (2012).
K. Watanabe, B. Jinnai, S. Fukami, H. Sato, and H. Ohno, Nat. Commun. 9, 663 (2018).
K. Nishioka, H. Honjo, S. Ikeda, T. Watanabe, S. Miura, H. Inoue, T. Tanigawa, Y. Noguchi, M. Yasuhira, H. Sato, and T. Endoh, in Novel Quad interface MTJ technology and its first demonstration with high thermal stability and switching efficiency for STT-MRAM beyond 2X nm: Proceedings of the 2019 Symposium on VLSI Technology, Kyoto, 2019.
S. Miura, K. Nishioka, H. Naganuma, T. V. A. Nguyen, H. Honjo, S. Ikeda, T. Watanabe, H. Inoue, M. Niwa, T. Tanigawa, Y. Noguchi, T. Yoshiduka, M. Yasuhira, and T. Endoh, in Scalability of Quad interface p-MTJ for 1× nm STT-MRAM with 10 ns low power write operation, 10 years retention and endurance > 1011: Proceedings of the 2020 Symposium on VLSI Technology, Honolulu, 2020.
S. Jenkins, R. W. Chantrell, and R. F. L. Evans, Phys. Rev. B 103, 104419 (2021).
E. Maniv, R. A. Murphy, S. C. Haley, S. Doyle, C. John, A. Maniv, S. K. Ramakrishna, Y. L. Tang, P. Ercius, R. Ramesh, A. P. Reyes, J. R. Long, and J. G. Analytis, Nat. Phys. 17, 525 (2021).
S. Nayak, P. K. Manna, B. B. Singh, and S. Bedanta, Phys. Chem. Chem. Phys. 23, 6481 (2021).
X. K. Zhang, S. L. Tang, L. Q. Xu, J. J. Yuan, H. J. Yu, X. R. Zhu, and Y. M. Xie, J. Appl. Phys. 116, 023905 (2014).
I. L. Prejbeanu, S. Bandiera, J. Alvarez-Hérault, R. C. Sousa, B. Dieny, and J.-P. Nozières, J. Phys. D: Appl. Phys. 46, 074002 (2013).
H. J. Kim, S. G. Je, D. H. Jung, K. S. Lee, and J. I. Hong, Appl. Phys. Lett. 115, 022401 (2019).
P. H. Lin, B. Y. Yang, M. H. Tsai, P. C. Chen, K. F. Huang, H. H. Lin, and C. H. Lai, Nat. Mater. 18, 335 (2019).
S. Peng, D. Zhu, W. Li, H. Wu, A. J. Grutter, D. A. Gilbert, J. Lu, D. Xiong, W. Cai, P. Shafer, K. L. Wang, and W. Zhao, Nat. Electron. 3, 757 (2020).
A. Kohn, A. Kovács, R. Fan, G. J. McIntyre, R. C. C. Ward, and J. P. Goff, Sci. Rep. 3, 2412 (2013).
B. N. Engel, J. Akerman, B. Butcher, R. W. Dave, M. Deherrera, M. Durlam, G. Grynkewich, J. Janesky, S. V. Pietambaram, N. D. Rizzo, J. M. Slaughter, K. Smith, J. J. Sun, and S. Tehrani, IEEE Trans. Magn. 41, 132 (2005).
L. Berger, Phys. Rev. B 54, 9353 (1996).
J. C. Slonczewski, J. Magn. Magn. Mater. 159, L1 (1996).
A. Brataas, A. D. Kent, and H. Ohno, Nat. Mater. 11, 372 (2012).
W. Zhao, X. Zhao, B. Zhang, K. Cao, L. Wang, W. Kang, Q. Shi, M. Wang, Y. Zhang, Y. Wang, S. Peng, J.-O. Klein, L. A. D. Barros Naviner, and D. Ravelosona, Materials 9, 41 (2016).
I. M. Miron, K. Garello, G. Gaudin, P. J. Zermatten, M. V. Costache, S. Auffret, S. Bandiera, B. Rodmacq, A. Schuhl, and P. Gambardella, Nature 476, 189 (2011).
L. Liu, O. J. Lee, T. J. Gudmundsen, D. C. Ralph, and R. A. Buhrman, Phys. Rev. Lett. 109, 096602 (2012).
D. Zhu, and W. Zhao, Phys. Rev. Appl. 13, 044078 (2020).
Y. Fan, P. Upadhyaya, X. Kou, M. Lang, S. Takei, Z. Wang, J. Tang, L. He, L. T. Chang, M. Montazeri, G. Yu, W. Jiang, T. Nie, R. N. Schwartz, Y. Tserkovnyak, and K. L. Wang, Nat. Mater. 13, 699 (2014).
M. Jamali, J. S. Lee, J. S. Jeong, F. Mahfouzi, Y. Lv, Z. Zhao, B. K. Nikolic, K. A. Mkhoyan, N. Samarth, and J. P. Wang, Nano Lett. 15, 7126 (2015).
Q. Shao, Y. Liu, G. Yu, S. K. Kim, X. Che, C. Tang, Q. L. He, Y. Tserkovnyak, J. Shi, and K. L. Wang, Nat. Electron. 2, 182 (2019).
Q. Lu, P. Li, Z. Guo, G. Dong, B. Peng, X. Zha, T. Min, Z. Zhou, and M. Liu, Nat. Commun. 13, 1650 (2022).
A. R. Mellnik, J. S. Lee, A. Richardella, J. L. Grab, P. J. Mintun, M. H. Fischer, A. Vaezi, A. Manchon, E. A. Kim, N. Samarth, and D. C. Ralph, Nature 511, 449 (2014).
X. Li, S. J. Lin, M. Dc, Y. C. Liao, C. Yao, A. Naeemi, W. Tsai, and S. X. Wang, IEEE J. Electron Devices Soc. 8, 674 (2020).
A. Soumyanarayanan, N. Reyren, A. Fert, and C. Panagopoulos, Nature 539, 509 (2016).
A. Manchon, H. C. Koo, J. Nitta, S. M. Frolov, and R. A. Duine, Nat. Mater. 14, 871 (2015).
Y. Takeuchi, C. Zhang, A. Okada, H. Sato, S. Fukami, and H. Ohno, Appl. Phys. Lett. 112, 192408 (2018).
H. Wu, A. Chen, P. Zhang, H. He, J. Nance, C. Guo, J. Sasaki, T. Shirokura, P. N. Hai, B. Fang, S. A. Razavi, K. Wong, Y. Wen, Y. Ma, G. Yu, G. P. Carman, X. Han, X. Zhang, and K. L. Wang, Nat. Commun. 12, 6251 (2021).
N. Sato, F. Xue, R. M. White, C. Bi, and S. X. Wang, Nat. Electron. 1, 508 (2018).
E. Grimaldi, V. Krizakova, G. Sala, F. Yasin, S. Couet, G. Sankar Kar, K. Garello, and P. Gambardella, Nat. Nanotechnol. 15, 111 (2020).
K. Shi, W. Cai, Y. Zhuo, D. Zhu, Y. Huang, J. Yin, K. Cao, Z. Wang, Z. Guo, Z. Wang, G. Wang, and W. Zhao, IEEE Electron Device Lett. 42, 513 (2021).
W. Cai, K. Shi, Y. Zhuo, D. Zhu, Y. Huang, J. Yin, K. Cao, Z. Wang, Z. Guo, Z. Wang, G. Wang, and W. Zhao, IEEE Electron Device Lett. 42, 704 (2021).
Z. Wang, L. Zhang, M. Wang, Z. Wang, D. Zhu, Y. Zhang, and W. Zhao, IEEE Electron Device Lett. 39, 343 (2018).
S. Z. Peng, J. Q. Lu, W. X. Li, L. Z. Wang, H. Zhang, X. Li, K. L. Wang, and W. S. Zhao, in Field-free switching of perpendicular magnetization through voltage-gated spin-orbit torque: Proceedings of the 2019 International Electron Devices Meeting, San Francisco, 2019.
A. Ney, C. Pampuch, R. Koch, and K. H. Ploog, Nature 425, 485 (2003).
A. Lyle, J. Harms, S. Patil, X. Yao, D. J. Lilja, and J. P. Wang, Appl. Phys. Lett. 97, 152504 (2010).
H. Zhang, W. Kang, K. Cao, B. Wu, Y. Zhang, and W. Zhao, IEEE Trans. Electron Devices 66, 2017 (2019).
Y. Huang, K. Cao, K. Zhang, J. Wang, K. Shi, Z. Hao, W. Cai, A. Du, J. Yin, Q. Yang, J. Li, J. Gao, C. Zhao, and W. Zhao, Sci. China Inf. Sci. 2022, doi: https://doi.org/10.1007/s11432-021-3562-8.
K. Cao, W. Cai, Y. Liu, H. Li, J. Wei, H. Cui, X. He, J. Li, C. Zhao, and W. Zhao, Nanoscale 10, 21225 (2018).
W. Cai, M. Wang, K. Cao, H. Yang, S. Peng, H. Li, and W. Zhao, Sci. China Inf. Sci. 65, 122406 (2022).
H. Zhang, W. Kang, B. Wu, P. Ouyang, E. Deng, Y. Zhang, and W. Zhao, IEEE Trans. Nanotechnol. 18, 473 (2019).
L. Wang, W. Kang, F. Ebrahimi, X. Li, Y. Huang, C. Zhao, K. L. Wang, and W. Zhao, IEEE Electron Device Lett. 39, 440 (2018).
S. Jung, H. Lee, S. Myung, H. Kim, S. K. Yoon, S. W. Kwon, Y. Ju, M. Kim, W. Yi, S. Han, B. Kwon, B. Seo, K. Lee, G. H. Koh, K. Lee, Y. Song, C. Choi, D. Ham, and S. J. Kim, Nature 601, 211 (2022).
D. Vodenicarevic, N. Locatelli, A. Mizrahi, J. S. Friedman, A. F. Vincent, M. Romera, A. Fukushima, K. Yakushiji, H. Kubota, S. Yuasa, S. Tiwari, J. Grollier, and D. Querlioz, Phys. Rev. Appl. 8, 054045 (2017).
K. Y. Camsari, R. Faria, B. M. Sutton, and S. Datta, Phys. Rev. X 7, 031014 (2017).
K. Y. Camsari, B. M. Sutton, and S. Datta, Appl. Phys. Rev. 6, 011305 (2019).
R. P. Feynman, Int. J. Theor. Phys. 21, 467 (1982).
E. Chen, D. Apalkov, Z. Diao, A. Driskill-Smith, D. Druist, D. Lottis, V. Nikitin, X. Tang, S. Watts, S. Wang, S. A. Wolf, A. W. Ghosh, J. W. Lu, S. J. Poon, M. Stan, W. H. Butler, S. Gupta, C. K. A. Mewes, T. Mewes, and P. B. Visscher, IEEE Trans. Magn. 46, 1873 (2010).
R. Faria, K. Y. Camsari, and S. Datta, IEEE Magn. Lett. 8, 1 (2017).
C. Safranski, J. Kaiser, P. Trouilloud, P. Hashemi, G. Hu, and J. Z. Sun, Nano Lett. 21, 2040 (2021).
K. Y. Camsari, M. M. Torunbalci, W. A. Borders, H. Ohno, and S. Fukami, Phys. Rev. Appl. 15, 044049 (2021).
X. Zhao, Y. Liu, D. Zhu, M. Sall, X. Zhang, H. Ma, J. Langer, B. Ocker, S. Jaiswal, G. Jakob, M. Kläui, W. Zhao, and D. Ravelosona, Appl. Phys. Lett. 116, 242401 (2020).
J. Cai, B. Fang, L. Zhang, W. Lv, B. Zhang, T. Zhou, G. Finocchio, and Z. Zeng, Phys. Rev. Appl. 11, 034015 (2019).
K. Hayakawa, S. Kanai, T. Funatsu, J. Igarashi, B. Jinnai, W. A. Borders, H. Ohno, and S. Fukami, Phys. Rev. Lett. 126, 117202 (2021).
W. F. Brown, J. Appl. Phys. 34, 1319 (1963).
S. Kanai, K. Hayakawa, H. Ohno, and S. Fukami, Phys. Rev. B 103, 094423 (2021).
Y. Lv, R. P. Bloom, and J. P. Wang, IEEE Magn. Lett. 10, 1 (2019).
B. R. Zink, Y. Lv, and J. P. Wang, J. Appl. Phys. 124, 152121 (2018).
Y. Lv, and J.-P. Wang, in A single magnetic-tunnel-junction stochastic computing unit: Proceedings of the 2017 IEEE International Electron Devices Meeting, San Francisco, 2017.
W. H. Choi, Y. Lv, J. Kim, A. Deshpande, G. Kang, J.-P. Wang, and C. H. Kim, in A magnetic tunnel junction based true random number generator with conditional perturb and real-time output probability tracking: Proceedings of the 2014 IEEE International Electron Devices Meeting, San Francisco, 2014.
A. Sengupta, M. Parsa, B. Han, and K. Roy, IEEE Trans. Electron Devices 63, 2963 (2016).
G. Finocchio, T. Moriyama, R. De Rose, G. Siracusano, M. Lanuzza, V. Puliafito, S. Chiappini, F. Crupi, Z. Zeng, T. Ono, and M. Carpentieri, J. Appl. Phys. 128, 033904 (2020).
V. Ostwal, P. Debashis, R. Faria, Z. Chen, and J. Appenzeller, Sci. Rep. 8, 16689 (2018).
N. Locatelli, A. Mizrahi, A. Accioly, R. Matsumoto, A. Fukushima, H. Kubota, S. Yuasa, V. Cros, L. G. Pereira, D. Querlioz, J. V. Kim, and J. Grollier, Phys. Rev. Appl. 2, 034009 (2014).
V. Ostwal, and J. Appenzeller, IEEE Magn. Lett. 10, 1 (2019).
K. Y. Camsari, S. Salahuddin, and S. Datta, IEEE Electron Device Lett. 38, 1767 (2017).
R. Zand, K. Y. Camsari, S. Datta, and R. F. Demara, J. Emerg. Technol. Comput. Syst. 15, 1 (2019).
D. H. Ackley, G. E. Hinton, and T. J. Sejnowski, Cogn. Sci. 9, 147 (1985).
R. Salakhutdinov, A. Mnih, and G. Hinton, in Restricted Boltzmann machines for collaborative filtering: Proceedings of the Twenty-fourth International Conference on Machine Learning (ICML 2007), New York, 2007.
J. Kaiser, W. A. Borders, K. Y. Camsari, S. Fukami, H. Ohno, and S. Datta, Phys. Rev. Appl. 17, 014016 (2022).
D. Heckerman, A. Mamdani, and M. P. Wellman, Commun. ACM 38, 24 (1995).
R. Faria, K. Y. Camsari, and S. Datta, AIP Adv. 8, 045101 (2018).
T. Albash, and D. A. Lidar, Rev. Mod. Phys. 90, 015002 (2018).
R. Martonák, G. E. Santoro, and E. Tosatti, Phys. Rev. E 70, 057701 (2004).
B. Sutton, K. Y. Camsari, B. Behin-Aein, and S. Datta, Sci. Rep. 7, 44370 (2017).
M. A. Zidan, J. P. Strachan, and W. D. Lu, Nat. Electron. 1, 22 (2018).
C. Wu, T. W. Kim, H. Y. Choi, D. B. Strukov, and J. J. Yang, Nat. Commun. 8, 752 (2017).
T. Prodromakis, C. Toumazou, and L. Chua, Nat. Mater. 11, 478 (2012).
S. Pi, C. Li, H. Jiang, W. Xia, H. Xin, J. J. Yang, and Q. Xia, Nat. Nanotech. 14, 35 (2019).
Z. Wang, S. Joshi, S. E. Savel’ev, H. Jiang, R. Midya, P. Lin, M. Hu, N. Ge, J. P. Strachan, Z. Li, Q. Wu, M. Barnell, G. L. Li, H. L. Xin, R. S. Williams, Q. Xia, and J. J. Yang, Nat. Mater. 16, 101 (2017).
M. J. Lee, C. B. Lee, D. Lee, S. R. Lee, M. Chang, J. H. Hur, Y. B. Kim, C. J. Kim, D. H. Seo, S. Seo, U. I. Chung, I. K. Yoo, and K. Kim, Nat. Mater. 10, 625 (2011).
J. J. Kan, C. Park, C. Ching, J. Ahn, Y. Xie, M. Pakala, and S. H. Kang, IEEE Trans. Electron Devices 64, 3639 (2017).
N. Locatelli, V. Cros, and J. Grollier, Nat. Mater. 13, 11 (2014).
L. Wang, C. H. Yang, J. Wen, S. Gai, and Y. X. Peng, J. Mater. Sci-Mater. Electron. 26, 4618 (2015).
P. Krzysteczko, G. Reiss, and A. Thomas, Appl. Phys. Lett. 95, 112508 (2009).
P. Krzysteczko, J. Münchenberger, M. Schäfers, G. Reiss, and A. Thomas, Adv. Mater. 24, 762 (2012).
M. Sharad, C. Augustine, G. Panagopoulos, and K. Roy, IEEE Trans. Nanotechnol. 11, 843 (2012).
A. Sengupta, Y. Shim, and K. Roy, IEEE Trans. Biomed. Circuits Syst. 10, 1152 (2016).
M. A. Bahri, and R. Sbiaa, Sci. Rep. 6, 28590 (2016).
S. Lequeux, J. Sampaio, V. Cros, K. Yakushiji, A. Fukushima, R. Matsumoto, H. Kubota, S. Yuasa, and J. Grollier, Sci. Rep. 6, 31510 (2016).
J. Zhou, T. Zhao, X. Shu, L. Liu, W. Lin, S. Chen, S. Shi, X. Yan, X. Liu, and J. Chen, Adv. Mater. 33, 2103672 (2021).
X. Zhang, W. Cai, M. Wang, B. Pan, K. Cao, M. Guo, T. Zhang, H. Cheng, S. Li, D. Zhu, L. Wang, F. Shi, J. Du, and W. Zhao, Adv. Sci. 8, 2004645 (2021).
N. Bindal, A. Kulkarni, G. Singh, and B. K. Kaushik, SPIE 11090, 169 (2019).
S. Kumar, X. Wang, J. P. Strachan, Y. Yang, and W. D. Lu, Nat. Rev. Mater. 7, 575 (2022).
S. Mühlbauer, B. Binz, F. Jonietz, C. Pfleiderer, A. Rosch, A. Neubauer, R. Georgii, and P. Böni, Science 323, 915 (2009).
A. Fert, N. Reyren, and V. Cros, Nat. Rev. Mater. 2, 17031 (2017).
S. Li, W. Kang, Y. Huang, X. Zhang, Y. Zhou, and W. Zhao, Nanotechnology 28, 31LT01 (2017).
Y. Huang, W. Kang, X. Zhang, Y. Zhou, and W. Zhao, Nanotechnology 28, 08LT02 (2017).
J. Sampaio, V. Cros, S. Rohart, A. Thiaville, and A. Fert, Nat. Nanotech. 8, 839 (2013).
W. Kang, Y. Huang, X. Zhang, Y. Zhou, and W. Zhao, Proc. IEEE 104, 2040 (2016).
C. Hanneken, F. Otte, A. Kubetzka, B. Dupé, N. Romming, K. von Bergmann, R. Wiesendanger, and S. Heinze, Nat. Nanotech. 10, 1039 (2015).
T. McGuire, and R. Potter, IEEE Trans. Magn. 11, 1018 (1975).
A. Jaiswal, A. Agrawal, P. Panda, and K. Roy, arXiv: 1705.06942.
P. Stoliar, J. Tranchant, B. Corraze, E. Janod, M. P. Besland, F. Tesler, M. Rozenberg, and L. Cario, Adv. Funct. Mater. 27, 1604740 (2017).
R. M. Borisyuk, and G. N. Borisyuk, Biosystems 40, 3 (1997).
J. J. Hopfield, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 79, 2554 (1982).
K. M. Song, J. S. Jeong, B. Pan, X. Zhang, J. Xia, S. Cha, T. E. Park, K. Kim, S. Finizio, J. Raabe, J. Chang, Y. Zhou, W. Zhao, W. Kang, H. Ju, and S. Woo, Nat. Electron. 3, 148 (2020).
X. Zhang, W. Cai, X. Zhang, Z. Wang, Z. Li, Y. Zhang, K. Cao, N. Lei, W. Kang, Y. Zhang, H. Yu, Y. Zhou, and W. Zhao, ACS Appl. Mater. Interfaces 10, 16887 (2018).
B. Pan, D. Zhang, X. Zhang, H. Wang, J. Bai, J. Yang, Y. Zhang, W. Kang, and W. Zhao, IEEE J. Electron Devices Soc. 7, 529 (2019).
S. Li, A. Du, Y. Wang, X. Wang, X. Zhang, H. Cheng, W. Cai, S. Lu, K. Cao, B. Pan, N. Lei, W. Kang, J. Liu, A. Fert, Z. Hou, and W. Zhao, Sci. Bull. 67, 691 (2022).
X. Chen, W. Kang, D. Zhu, X. Zhang, N. Lei, Y. Zhang, Y. Zhou, and W. Zhao, Nanoscale 10, 6139 (2018).
B. Pan, K. Wang, X. Chen, J. Bai, J. Yang, Y. Zhang, and W. Zhao, in SR-WTA: Skyrmion racing winner-takes-all module for spiking neural computing: Proceedings of the 2019 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), Sapporo, 2019.
Z. He, and D. Fan, in A tunable magnetic skyrmion neuron cluster for energy efficient artificial neural network: Proceedings of the Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), Lausanne, 2017, pp. 350–355.
M.-C. Chen, A. Sengupta, and K. Roy, IEEE Trans. Magn. 54, 1 (2018).
W. Jiang, L. Chen, K. Zhou, L. Li, Q. Fu, Y. Du, and R. H. Liu, Appl. Phys. Lett. 115, 192403 (2019).
S. Luo, N. Xu, Z. Guo, Y. Zhang, J. Hong, and L. You, IEEE Electron Device Lett. 40, 635 (2019).
A. Kurenkov, S. Fukami, and H. Ohno, J. Appl. Phys. 128, 010902 (2020).
D. Xiong, Y. Jiang, K. Shi, A. Du, Y. Yao, Z. Guo, D. Zhu, K. Cao, S. Peng, W. Cai, D. Zhu, and W. Zhao, Fundam. Res. 2, 522 (2022).
P. Wadley, B. Howells, J. Železný, C. Andrews, V. Hills, R. P. Campion, V. Novák, K. Olejník, F. Maccherozzi, S. S. Dhesi, S. Y. Martin, T. Wagner, J. Wunderlich, F. Freimuth, Y. Mokrousov, J. Kunes, J. S. Chauhan, M. J. Grzybowski, A. W. Rushforth, K. W. Edmonds, B. L. Gallagher, and T. Jungwirth, Science 351, 587 (2016).
S. Y. Bodnar, L. Šmejkal, I. Turek, T. Jungwirth, O. Gomonay, J. Sinova, A. A. Sapozhnik, H. J. Elmers, M. Kläui, and M. Jourdan, Nat. Commun. 9, 348 (2018).
K. Olejník, V. Schuler, X. Marti, V. Novák, Z. Kašpar, P. Wadley, R. P. Campion, K. W. Edmonds, B. L. Gallagher, J. Garces, M. Baumgartner, P. Gambardella, and T. Jungwirth, Nat. Commun. 8, 15434 (2017).
X. Z. Chen, R. Zarzuela, J. Zhang, C. Song, X. F. Zhou, G. Y. Shi, F. Li, H. A. Zhou, W. J. Jiang, F. Pan, and Y. Tserkovnyak, Phys. Rev. Lett. 120, 207204 (2018).
V. Tshitoyan, C. Ciccarelli, A. P. Mihai, M. Ali, A. C. Irvine, T. A. Moore, T. Jungwirth, and A. J. Ferguson, Phys. Rev. B 92, 214406 (2015).
X. Chen, S. Shi, G. Shi, X. Fan, C. Song, X. Zhou, H. Bai, L. Liao, Y. Zhou, H. Zhang, A. Li, Y. Chen, X. Han, S. Jiang, Z. Zhu, H. Wu, X. Wang, D. Xue, H. Yang, and F. Pan, Nat. Mater. 20, 800 (2021).
Y. W. Oh, S. H. Chris Baek, Y. M. Kim, H. Y. Lee, K. D. Lee, C. G. Yang, E. S. Park, K. S. Lee, K. W. Kim, G. Go, J. R. Jeong, B. C. Min, H. W. Lee, K. J. Lee, and B. G. Park, Nat. Nanotech. 11, 878 (2016).
S. Fukami, C. Zhang, S. DuttaGupta, A. Kurenkov, and H. Ohno, Nat. Mater. 15, 535 (2016).
A. van den Brink, G. Vermijs, A. Solignac, J. Koo, J. T. Kohlhepp, H. J. M. Swagten, and B. Koopmans, Nat. Commun. 7, 10854 (2016).
V. Baltz, A. Manchon, M. Tsoi, T. Moriyama, T. Ono, and Y. Tser-kovnyak, Rev. Mod. Phys. 90, 015005 (2018).
A. Manchon, J. Železný, I. M. Miron, T. Jungwirth, J. Sinova A. Thiaville, K. Garello, and P. Gambardella, Rev. Mod. Phys. 91, 035004 (2019).
A. Kurenkov, C. Zhang, S. DuttaGupta, S. Fukami, and H. Ohno, Appl. Phys. Lett. 110, 092410 (2017).
S. Nakatsuji, N. Kiyohara, and T. Higo, Nature 534, S5 (2016).
W. A. Borders, H. Akima, S. Fukami, S. Moriya, S. Kurihara, Y. Horio, S. Sato, and H. Ohno, Appl. Phys. Express 10, 013007 (2017).
A. Kurenkov, S. DuttaGupta, C. Zhang, S. Fukami, Y. Horio, and H. Ohno, Adv. Mater. 31, 1900636 (2019).
M. Stamenova, R. Mohebbi, J. Seyed-Yazdi, I. Rungger, and S. Sanvito, Phys. Rev. B 95, 060403 (2017).
L. D. Yuan, Z. Wang, J. W. Luo, and A. Zunger, Phys. Rev. Mater. 5, 014409 (2021).
S. Hayami, Y. Yanagi, and H. Kusunose, J. Phys. Soc. Jpn. 88, 123702 (2019).
D. F. Shao, S. H. Zhang, M. Li, C. B. Eom, and E. Y. Tsymbal, Nat. Commun. 12, 7061 (2021).
L. Šmejkal, A. B. Hellenes, R. González-Hernández, J. Sinova, and T. Jungwirth, Phys. Rev. X 12, 011028 (2022).
J. Dong, X. Li, G. Gurung, M. Zhu, P. Zhang, F. Zheng, E. Y. Tsymbal, and J. Zhang, Phys. Rev. Lett. 128, 197201 (2022).
L. D. Landau, and E. Lifshitz, Phys. Z. Sowjet. 8, 153 (1935).
T. L. Gilbert, Phys. Rev. 100, 1243 (1955).
A. Slavin, and V. Tiberkevich, IEEE Trans. Magn. 45, 1875 (2009).
A. Jenkins, Phys. Rep. 525, 167 (2013).
S. M. Mohseni, S. R. Sani, J. Persson, T. N. A. Nguyen, S. Chung, Y. Pogoryelov, P. K. Muduli, E. Iacocca, A. Eklund, R. K. Dumas, S. Bonetti, A. Deac, M. A. Hoefer, and J. Åkerman, Science 339, 1295 (2013).
R. H. Liu, W. L. Lim, and S. Urazhdin, Phys. Rev. Lett. 110, 147601 (2013).
A. Litvinenko, V. Iurchuk, P. Sethi, S. Louis, V. Tyberkevych, J. Li, A. Jenkins, R. Ferreira, B. Dieny, A. Slavin, and U. Ebels, Nano Lett. 20, 6104 (2020).
L. Liu, C. F. Pai, D. C. Ralph, and R. A. Buhrman, Phys. Rev. Lett. 109, 186602 (2012).
H. X. Yang, M. Chshiev, B. Dieny, J. H. Lee, A. Manchon, and K. H. Shin, Phys. Rev. B 84, 054401 (2011).
M. Tsoi, A. G. M. Jansen, J. Bass, W.-C. Chiang, V. Tsoi, and P. Wyder, Nature 406, 46 (2000).
R. K. Dumas, S. R. Sani, S. M. Mohseni, E. Iacocca, Y. Pogoryelov, P. K. Muduli, S. Chung, P. Dürrenfeld, and J. Åkerman, IEEE Trans. Magn. 50, 1 (2014).
H. Maehara, H. Kubota, Y. Suzuki, T. Seki, K. Nishimura, Y. Nagamine, K. Tsunekawa, A. Fukushima, A. M. Deac, K. Ando, and S. Yuasa, Appl. Phys. Express 6, 113005 (2013).
Z. Duan, A. Smith, L. Yang, B. Youngblood, J. Lindner, V. E. Demidov, S. O. Demokritov, and I. N. Krivorotov, Nat. Commun. 5, 5616 (2014).
W. H. Rippard, M. R. Pufall, and S. E. Russek, Phys. Rev. B 74, 224409 (2006).
K. Shi, W. Cai, S. Jiang, D. Zhu, K. Cao, Z. Guo, J. Wei, A. Du, Z. Li, Y. Huang, J. Yin, J. Akerman, and W. Zhao, Sci. China-Phys. Mech. Astron. 65, 227511 (2022).
W. H. Rippard, M. R. Pufall, S. Kaka, S. E. Russek, and T. J. Silva, Phys. Rev. Lett. 92, 027201 (2004).
R. K. Dumas, E. Iacocca, S. Bonetti, S. R. Sani, S. M. Mohseni, A. Eklund, J. Persson, O. Heinonen, and J. Akerman, Phys. Rev. Lett. 110, 257202 (2013).
H. Kubota, K. Yakushiji, A. Fukushima, S. Tamaru, M. Konoto, T. Nozaki, S. Ishibashi, T. Saruya, S. Yuasa, T. Taniguchi, H. Arai, and H. Imamura, Appl. Phys. Express 6, 103003 (2013).
V. E. Demidov, S. Urazhdin, A. Zholud, A. V. Sadovnikov, and S. O. Demokritov, Appl. Phys. Lett. 105, 172410 (2014).
M. Dvornik, A. A. Awad, and J. Akerman, Phys. Rev. Appl. 9, 014017 (2018).
B. Dieny, I. L. Prejbeanu, K. Garello, P. Gambardella, P. Freitas, R. Lehndorff, W. Raberg, U. Ebels, S. O. Demokritov, J. Akerman, A. Deac, P. Pirro, C. Adelmann, A. Anane, A. V. Chumak, A. Hirohata, S. Mangin, S. O. Valenzuela, M. C. Onbaşli, M. d’Aquino, G. Prenat, G. Finocchio, L. Lopez-Diaz, R. Chantrell, O. Chubykalo-Fesenko, and P. Bortolotti, Nat. Electron. 3, 446 (2020).
J. S. Moodera, and L. R. Kinder, J. Appl. Phys. 79, 4724 (1996).
J. Torrejon, M. Riou, F. A. Araujo, S. Tsunegi, G. Khalsa, D. Querlioz, P. Bortolotti, V. Cros, K. Yakushiji, A. Fukushima, H. Kubota, S. Yuasa, M. D. Stiles, and J. Grollier, Nature 547, 428 (2017).
V. S. Pribiag, I. N. Krivorotov, G. D. Fuchs, P. M. Braganca, O. Ozatay, J. C. Sankey, D. C. Ralph, and R. A. Buhrman, Nat. Phys. 3, 498 (2007).
S. Tsunegi, K. Yakushiji, A. Fukushima, S. Yuasa, and H. Kubota, Appl. Phys. Lett. 109, 252402 (2016).
C. Kittel, Phys. Rev. 73, 155 (1948).
S. Jiang, M. Ahlberg, S. Chung, A. Houshang, R. Ferreira, P. P. Freitas, and J. Akerman, Appl. Phys. Lett. 115, 152402 (2019).
S. Bonetti, V. Tiberkevich, G. Consolo, G. Finocchio, P. Muduli, F. Mancoff, A. Slavin, and J. Akerman, Phys. Rev. Lett. 105, 217204 (2010).
T. Chen, R. K. Dumas, A. Eklund, P. K. Muduli, A. Houshang, A. A. Awad, P. Durrenfeld, B. G. Malm, A. Rusu, and J. Akerman, Proc. IEEE 104, 1919 (2016).
M. Zahedinejad, A. A. Awad, S. Muralidhar, R. Khymyn, H. Fulara, H. Mazraati, M. Dvornik, and J. Akerman, Nat. Nanotechnol. 15, 47 (2020).
M. Romera, P. Talatchian, S. Tsunegi, F. Abreu Araujo, V. Cros, P. Bortolotti, J. Trastoy, K. Yakushiji, A. Fukushima, H. Kubota, S. Yuasa, M. Ernoult, D. Vodenicarevic, T. Hirtzlin, N. Locatelli, D. Querlioz, and J. Grollier, Nature 563, 230 (2018).
S. Tsunegi, T. Taniguchi, R. Lebrun, K. Yakushiji, V. Cros, J. Grollier, A. Fukushima, S. Yuasa, and H. Kubota, Sci. Rep. 8, 13475 (2018).
R. Sharma, R. Mishra, T. Ngo, Y. X. Guo, S. Fukami, H. Sato, H. Ohno, and H. Yang, Nat. Commun. 12, 2924 (2021).
S. Kaka, M. R. Pufall, W. H. Rippard, T. J. Silva, S. E. Russek, and J. A. Katine, Nature 437, 389 (2005).
F. B. Mancoff, N. D. Rizzo, B. N. Engel, and S. Tehrani, Nature 437, 393 (2005).
S. Sani, J. Persson, S. M. Mohseni, Y. Pogoryelov, P. K. Muduli, A. Eklund, G. Malm, M. Käll, A. Dmitriev, and J. Akerman, Nat. Commun. 4, 2731 (2013).
A. Houshang, E. Iacocca, P. Dürrenfeld, S. R. Sani, J. Akerman, and R. K. Dumas, Nat. Nanotech. 11, 280 (2016).
M. Zahedinejad, H. Fulara, R. Khymyn, A. Houshang, M. Dvornik, S. Fukami, S. Kanai, H. Ohno, and J. Akerman, Nat. Mater. 21, 81 (2022).
N. Locatelli, A. Hamadeh, F. Abreu Araujo, A. D. Belanovsky, P. N. Skirdkov, R. Lebrun, V. V. Naletov, K. A. Zvezdin, M. Munoz, J. Grollier, O. Klein, V. Cros, and G. de Loubens, Sci. Rep. 5, 17039 (2015).
R. Lebrun, S. Tsunegi, P. Bortolotti, H. Kubota, A. S. Jenkins, M. Romera, K. Yakushiji, A. Fukushima, J. Grollier, S. Yuasa, and V. Cros, Nat. Commun. 8, 15825 (2017).
A. A. Awad, P. Dürrenfeld, A. Houshang, M. Dvornik, E. Iacocca, R. K. Dumas, and J. Akerman, Nat. Phys. 13, 292 (2017).
H. Fulara, M. Zahedinejad, R. Khymyn, M. Dvornik, S. Fukami, S. Kanai, H. Ohno, and J. Akerman, Nat. Commun. 11, 4006 (2020).
J. Grollier, V. Cros, and A. Fert, Phys. Rev. B 73, 060409 (2006).
X. Chen, F. A. Araujo, M. Riou, J. Torrejon, D. Ravelosona, W. Kang, W. Zhao, J. Grollier, and D. Querlioz, Nat. Commun. 13, 1016 (2022).
H. Sato, H. Honjo, T. Watanabe, M. Niwa, H. Koike, S. Miura, T. Saito, H. Inoue, T. Nasuno, T. Tanigawa, Y. Noguchi, T. Yoshiduka, M. Yasuhira, S. Ikeda, S.-Y. Kang, T. Kubo, K. Yamashita, Y. Yagi, R. Tamura, and T. Endoh, in 14 ns write speed 128 Mb density Embedded STT-MRAM with endurance > 1010 and 10yrs retention@ 85°C using novel low damage MTJ integration process: Proceedings of the 2019 IEEE International Electron Devices Meeting, San Francisco, 2019.
T. Graf, C. Felser, and S. S. P. Parkin, Prog. Solid State Chem. 39, 1 (2011).
B. Sutton, R. Faria, L. A. Ghantasala, R. Jaiswal, K. Y. Camsari, and S. Datta, IEEE Access 8, 157238 (2020).
X. Zhao, L. Ji, W. Liu, S. Li, L. Liu, Y. Song, Y. Li, J. Ma, X. Sun, H. Wang, X. Zhao, and Z. Zhang, Phys. Rev. Appl. 13, 044074 (2020).
Z. Luo, A. Hrabec, T. P. Dao, G. Sala, S. Finizio, J. Feng, S. Mayr, J. Raabe, P. Gambardella, and L. J. Heyderman, Nature 579, 214 (2020).
H. Chen, Q. Niu, and A. H. MacDonald, Phys. Rev. Lett. 112, 017205 (2014).
P. Bag, P. R. Baral, and R. Nath, Phys. Rev. B 98, 144436 (2018).
X. Lin, W. Yang, K. L. Wang, and W. Zhao, Nat. Electron. 2, 274 (2019).
D. Go, D. Jo, C. Kim, and H. W. Lee, Phys. Rev. Lett. 121, 086602 (2018).
C. S. Davies, K. H. Prabhakara, M. D. Davydova, K. A. Zvezdin, T. B. Shapaeva, S. Wang, A. K. Zvezdin, A. Kirilyuk, T. Rasing, and A. V. Kimel, Phys. Rev. Lett. 122, 027202 (2019).
J. Wei, B. Zhang, M. Hehn, W. Zhang, G. Malinowski, Y. Xu, W. Zhao, and S. Mangin, Phys. Rev. Appl. 15, 054065 (2021).
L. Wang, H. Cheng, P. Li, Y. L. W. van Hees, Y. Liu, K. Cao, R. Lavrijsen, X. Lin, B. Koopmans, and W. Zhao, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 119, e2204732119 (2022).
A. Fernández-Pacheco, R. Streubel, O. Fruchart, R. Hertel, P. Fischer, and R. P. Cowburn, Nat. Commun. 8, 15756 (2017).
N. A. Aadit, A. Grimaldi, M. Carpentieri, L. Theogarajan, J. M. Martinis, G. Finocchio, and K. Y. Camsari, Nat. Electron. 5, 460 (2022).
S. F. Edwards, and P. W. Anderson, J. Phys. F-Met. Phys. 5, 965 (1975).
R. Harris, Y. Sato, A. J. Berkley, M. Reis, F. Altomare, M. H. Amin, K. Boothby, P. Bunyk, C. Deng, C. Enderud, S. Huang, E. Hoskinson, M. W. Johnson, E. Ladizinsky, N. Ladizinsky, T. Lanting, R. Li, T. Medina, R. Molavi, R. Neufeld, T. Oh, I. Pavlov, I. Perminov, G. Poulin-Lamarre, C. Rich, A. Smirnov, L. Swenson, N. Tsai, M. Volkmann, J. Whittaker, and J. Yao, Science 361, 162 (2018).
J. A. Kjäll, J. H. Bardarson, and F. Pollmann, Phys. Rev. Lett. 113, 107204 (2014).
G. Jacucci, L. Delloye, D. Pierangeli, M. Rafayelyan, C. Conti, and S. Gigan, Phys. Rev. A 105, 033502 (2022).
B. Yan, and N. A. Sinitsyn, Nat. Commun. 13, 2212 (2022).
F. F. Song, and G. M. Zhang, Phys. Rev. B 105, 134516 (2022).
K. P. Kalinin, and N. G. Berloff, Commun. Phys. 5, 20 (2022).
A. Sebastian, S. Das, and S. Das, Adv. Mater. 34, e2107076 (2022).
Author information
Authors and Affiliations
Corresponding author
Additional information
This work was supported by the National Key Research and Development Program of China (Grant Nos. 2022YFB4400201, and 2022YFB440020), the National Natural Science Foundation of China (Grant Nos. 92164206, 62271026, and 62001014), and the Academic Excellence Foundation of BUAA for PhD Students.
Rights and permissions
About this article
Cite this article
Cai, W., Huang, Y., Zhang, X. et al. Spintronics intelligent devices. Sci. China Phys. Mech. Astron. 66, 117503 (2023). https://doi.org/10.1007/s11433-022-2012-2
Received:
Accepted:
Published:
DOI: https://doi.org/10.1007/s11433-022-2012-2