References
M. D. LANGE. S. SIVANATHAN, X. CHU and J. P. FAURIE, Appl. Phys. Lett. 52 (1988) 978 .
T. SASAKI and N. ODA, J. Appl. Phys. 78 (1995) 3121.
T. J. DE LYON, D. R. RAJAVEL, J. A. VIGIL, J. E. JENSEN, O. K. WU, C. A. COCKUM, S. M. JOHNSON, G. M. VENZOR, S. L. BAILEY, I. KASAI, W. L. AHIGREN and M. S. SMITH, J. Electron. Mater. 27 (1998) 550.
M. S. HAN, T. W. KANG, M. D. KIM, Y. T. JEOUNG, H. K. KIM, J. M. KIM, H. J. WOO and T. W. KIM, Appl. Surf. Sci. 120 (1997) 287.
J. S. GOUGH, M. R. HOULTON, S. J. C. IRVINE, N. SHAW, M. L. YOUNG, and M. G. ASTLES, J. Vac. Sci. Technol. B 9 (1991) 687.
M. S. HAN, T. W. KANG and T. W. KIM, J. Mater. Res. 14 (1998) 2778.
T. C. HARMAN, J. Electron. Mater. 8 (1989) 191.
G. L. DESTEFANIS, J. CRYSTAL GROWTH 86 (1998) 700.
L. HE, S. L. WANG, J. R. YANG, M. F. YU, Y. WU, X. Q. CHEN, W. Z. FANG, Y. M. QIAO, YONGSHENG GUI and JUNHAO CHU, J. Crystal Growth 201/202 (1999) 524.
S. M. SZE, "VLSI Technology" (McGraw-Hill, New York, 1988).
Author information
Authors and Affiliations
Corresponding author
Rights and permissions
About this article
Cite this article
Ryu, Y.S., Kang, T.W. & Kim, T.W. Annealing effects on the microstructural and optical properties of Hg0.7Cd0.3Te epilayers grown on CdTe buffer layers. J Mater Sci 40, 5303–5305 (2005). https://doi.org/10.1007/s10853-005-4393-2
Received:
Accepted:
Issue Date:
DOI: https://doi.org/10.1007/s10853-005-4393-2